[發(fā)明專利]一種半導(dǎo)體器件及其制備方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202210523244.2 | 申請日: | 2021-03-22 |
| 公開(公告)號: | CN114944397A | 公開(公告)日: | 2022-08-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 高庭庭;薛磊;劉小欣;耿萬波;孫昌志;杜小龍 | 申請(專利權(quán))人: | 長江存儲科技有限責(zé)任公司 |
| 主分類號: | H01L27/11556 | 分類號: | H01L27/11556;H01L27/11582 |
| 代理公司: | 深圳紫藤知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44570 | 代理人: | 汪阮磊 |
| 地址: | 430205 湖北省武*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 半導(dǎo)體器件 及其 制備 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種半導(dǎo)體器件及其制備方法,包括垂直貫穿堆棧的多個溝道結(jié)構(gòu),垂直貫穿所述堆棧且在平行于所述襯底的橫向方向延伸的至少兩條第一柵線縫隙,以及位于相鄰兩條所述第一柵線縫隙之間且在所述橫向方向延伸的多條頂部選擇柵切線。相鄰兩條所述第一柵線縫隙之間具有多條頂部選擇柵切線,可以將所述多個溝道結(jié)構(gòu)的頂部選擇柵極隔開成多個部分,通過控制不同部分的頂部選擇柵極可以實現(xiàn)每個溝道結(jié)構(gòu)的存儲功能,因此本發(fā)明可以同時增加溝道結(jié)構(gòu)的列數(shù)和頂部選擇柵切線的條數(shù)來提高存儲容量。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明總體上涉及電子器件,并且更具體的,涉及一種半導(dǎo)體器件及其制備方法。
背景技術(shù)
目前,在三維存儲器中,通常在兩條柵線縫隙(Gate Line Slit,GLS)之間(一個塊結(jié)構(gòu))設(shè)置9列溝道結(jié)構(gòu),這9列溝道結(jié)構(gòu)對應(yīng)于一個頂部選擇柵極(Top Select Gate,TSG),因此簡稱為“9孔溝道陣列”。在9孔溝道陣列中,頂部選擇柵極被1條頂部選擇柵切線(Top Select Gate Cut,TSG Cut)分割為兩部分,且頂部選擇柵切線一般由絕緣的氧化物材料形成。在一個塊結(jié)構(gòu)中,一條位線連接位于頂部選擇柵切線兩邊的兩個溝道結(jié)構(gòu),通過分別控制所述兩部分頂部選擇柵極可以選定其中一個溝道結(jié)構(gòu),進(jìn)而可以實現(xiàn)每個溝道結(jié)構(gòu)的存儲功能。
兩條柵線縫隙可以界定一個塊結(jié)構(gòu),通過增加多條柵線縫隙來增加塊結(jié)構(gòu)的數(shù)量是一種常見的提高存儲容量的方法,而如何進(jìn)一步提高存儲容量是亟待解決的問題。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種半導(dǎo)體器件及其制備方法,旨在增加一個塊結(jié)構(gòu)中的溝道結(jié)構(gòu)和頂部選擇柵切線的數(shù)量,從而提高存儲容量。
一方面,本發(fā)明提供一種半導(dǎo)體器件,包括:
襯底;
設(shè)于所述襯底上的堆棧,所述堆棧包括交替堆疊的層間絕緣層和柵極層;
多個溝道結(jié)構(gòu),垂直貫穿所述堆棧;
至少兩條第一柵線縫隙,垂直貫穿所述堆棧且沿平行于所述襯底的橫向方向延伸;
多條頂部選擇柵切線,位于相鄰兩條所述第一柵線縫隙之間且在所述橫向方向延伸。
進(jìn)一步優(yōu)選的,還包括垂直貫穿所述堆棧,且位于相鄰兩條所述第一柵線縫隙之間的一個或多個第二柵線縫隙。
進(jìn)一步優(yōu)選的,所述多條頂部選擇柵切線將相鄰兩條所述第一柵線縫隙之間的所述溝道結(jié)構(gòu)分成多個存儲區(qū),所述第二柵線縫隙位于相鄰兩個所述存儲區(qū)之間。
進(jìn)一步優(yōu)選的,所述多個第二柵線縫隙沿所述頂部選擇柵切線排成一列,每個所述第二柵線縫隙到相鄰兩條所述第一柵線縫隙的距離相等。
進(jìn)一步優(yōu)選的,所述多個第二柵線縫隙沿所述頂部選擇柵切線排成多列,相鄰兩列所述第二柵線縫隙在所述橫向方向交錯分布。
進(jìn)一步優(yōu)選的,相鄰兩列所述第二柵線縫隙之間間隔兩個所述存儲區(qū),每條所述第一柵線縫隙與相鄰的一列所述第二柵線縫隙之間間隔兩個所述存儲區(qū)。
進(jìn)一步優(yōu)選的,同一列所述第二柵線縫隙中的多個第二柵線縫隙沿所述橫向方向間隔排列。
進(jìn)一步優(yōu)選的,相鄰兩個所述存儲區(qū)之間具有間隔區(qū),每條所述頂部選擇柵切線位于一個所述間隔區(qū),每個所述第二柵線縫隙位于一個所述間隔區(qū)。
進(jìn)一步優(yōu)選的,所述半導(dǎo)體器件在平行于所述襯底的縱向方向上劃分為多個塊結(jié)構(gòu),所述塊結(jié)構(gòu)在所述縱向方向上劃分為多個指狀結(jié)構(gòu),至少一條所述第一柵線縫隙位于同一所述塊結(jié)構(gòu)中的相鄰所述指狀結(jié)構(gòu)之間。
進(jìn)一步優(yōu)選的,所述第一柵線縫隙包括垂直貫穿所述堆棧且在所述橫向方向延伸的第一柵線切口,以及依次填充在所述第一柵線切口中的絕緣層和導(dǎo)電層。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個共用襯底內(nèi)或其上形成的多個半導(dǎo)體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導(dǎo)體組件并且至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導(dǎo)體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發(fā)射并且包括至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導(dǎo)體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結(jié)點的熱電元件的;包括有熱磁組件的





