[發明專利]一種軸承的內外徑尺寸測量裝置和測量方法

在審

• 申請號: 202210519104.8
• 申請日: 2022-05-13
• 公開（公告）號: CN114910034A
• 公開（公告）日: 2022-08-16
• 發明（設計）人: 郭勇華;陳金貴;李水涵
• 申請（專利權）人: 韋士肯（廈門）智能科技有限公司
• 主分類號: G01B21/10
• 分類號: G01B21/10;G01B21/14
• 代理公司: 廈門市精誠新創知識產權代理有限公司 35218
• 代理人: 劉建科

本發明提供一種軸承的內外徑尺寸測量裝置和測量方法，測量裝置包括機架、升降支撐座、下壓推進機構、外徑測量機構和內徑測量機構；能夠同時對軸承的內外徑尺寸進行測量，相較于現有技術中分別檢測內徑和外徑的方式，裝置結構簡單且測量效率高。

技術領域

本發明涉及軸承的檢測領域，具體涉及一種軸承的內外徑尺寸測量裝置和測量方法。

背景技術

軸承是一種比較精密的配件，其外觀和尺寸的要求比較嚴格，需要符合相關行業對標，因此，在軸承出廠前，需要對軸承的各個尺寸、外觀等參數進行檢測。現有技術中，對于軸承的內外徑尺寸的測量是分開的，需要二種機構和工位，成本高且檢測時間較長。

發明內容

為此，本發明提供一種軸承的內外徑尺寸測量裝置以及基于該測量裝置的測量方法，能夠同時對軸承的內外徑尺寸進行測量，結構簡單且測量效率高。

為實現上述目的，本發明提供的技術方案如下：

一種軸承的內外徑尺寸測量裝置，包括機架以及裝配于機架上的升降支撐座、下壓推進機構、外徑測量機構和內徑測量機構；所述升降支撐座用于支撐待測軸承，所述下壓推進機構具有對應升降支撐座的下壓組件，以通過下壓組件將升降支撐座上的軸承下壓至測量工位；所述外徑測量機構包括多組固定設置的阻擋組件、至少一組活動設置的推進組件和對應推進組件的第一位移傳感器；阻擋組件和推進組件分布于待測軸承的外圍；所述下壓推進機構還具有對應推進組件的平推組件，以通過平推組件驅動所述推進組件移動，進而推動軸承同時抵接在多組阻擋組件上而實現定位；所述內徑測量機構包括活動設置的移動組件和對應移動組件的第二位移傳感器；所述移動組件對應待測軸承的內圈；待測軸承的下壓驅動移動組件平移。

進一步的，所述阻擋組件包括固定塊和連接于固定塊上的擋桿，所述固定塊固定于所述機架上，所述擋桿豎向設置以阻擋待測軸承；所述機架上設置有長槽孔，所述固定塊可拆卸的固定于所述長槽孔上。

進一步的，所述機架上設置有滑軌，所述推進組件和移動組件均設置于所述滑軌上。

進一步的，所述推進組件包括固定塊、滑塊、觸發板、推桿和拉簧，所述固定塊可拆卸的固定于滑軌上；所述滑塊可滑動的裝配于滑軌上，所述拉簧的兩端分別連接固定塊和滑塊，所述推桿呈豎向設置并連接于滑塊上；所述觸發板固定在滑塊上并對應所述第一位移傳感器。

進一步的，所述移動組件包括固定塊、滑塊、觸發板、接觸桿和拉簧，所述固定塊可拆卸的固定于滑軌上；所述滑塊可滑動的裝配于滑軌上，所述拉簧的兩端分別連接固定塊和滑塊，所述接觸桿呈豎向設置并連接于滑塊上，所述接觸桿的端部設置有用于與待測軸承的內圈相抵接的傾斜導向面，所述觸發板固定在滑塊上并對應所述第二位移傳感器。

進一步的，所述第一位移傳感器和第二位移傳感器均為非接觸式位移傳感器。

進一步的，所述升降支撐座包括支撐座、彈簧、導向套和導向桿，所述導向桿設置有多個并分別連接在支撐座上，所述導向套固定于機架上，所述導向桿穿設于所述導向套內，所述彈簧套設于導向桿上并對導向桿施加一朝上的彈力。

進一步的，所述下壓推進機構包括驅動組件、所述下壓組件和所述平推組件，所述下壓組件被限制為豎向活動，所述平推組件被限制為水平活動；所述平推組件與下壓組件之間形成傾斜導向配合；所述驅動組件驅動連接所述下壓組件，以驅動下壓組件升降，所述下壓組件的升降移動帶動平推組件平移。

進一步的，所述驅動組件包括電機、偏心輪和連接板，所述電機固定于機架上，所述偏心輪連接所述電機的轉軸，所述連接板的一端鉸接于偏心輪的偏心軸上，另一端鉸接于下壓組件上。

進一步的，所述平推組件包括對應推進組件的連接塊，所述連接塊上裝配有抵接輪，所述連接塊和抵接輪之間還設置有彈性緩沖件。

一種軸承的內外徑尺寸測量方法，包括如下步驟：