[發(fā)明專利]存儲(chǔ)陣列失效字線的定位方法及定位裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202210519029.5 | 申請(qǐng)日: | 2022-05-12 |
| 公開(公告)號(hào): | CN114758693A | 公開(公告)日: | 2022-07-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 安九華 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 西安紫光國芯半導(dǎo)體有限公司 |
| 主分類號(hào): | G11C8/14 | 分類號(hào): | G11C8/14;G11C7/18;G11C11/409 |
| 代理公司: | 深圳市威世博知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44280 | 代理人: | 張曉薇 |
| 地址: | 710000 陜西省西安市西*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 存儲(chǔ) 陣列 失效 定位 方法 裝置 | ||
本申請(qǐng)公開了一種存儲(chǔ)陣列失效字線的定位方法及定位裝置。該存儲(chǔ)陣列失效字線的定位方法包括:對(duì)存儲(chǔ)陣列的存儲(chǔ)單元寫第一邏輯數(shù)據(jù);遍歷存儲(chǔ)陣列中至少部分字線,對(duì)對(duì)應(yīng)的存儲(chǔ)單元進(jìn)行數(shù)據(jù)讀取操作,得到讀取結(jié)果;響應(yīng)于存儲(chǔ)單元的讀取結(jié)果為空,則對(duì)應(yīng)位置處的字線失效,且失效原因確定為字線無法被激活。通過這種方式,能夠準(zhǔn)確定位存儲(chǔ)陣列中失效的字線。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請(qǐng)涉及存儲(chǔ)芯片技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及一種存儲(chǔ)陣列失效字線的定位方法及定位裝置。
背景技術(shù)
存儲(chǔ)陣列失效是常見的存儲(chǔ)芯片失效方式,而字線WL(Word line)失效是存儲(chǔ)陣列失效的常見方式之一,究其根本原因,往往是存儲(chǔ)芯片制造工藝缺陷(偏差)、或存儲(chǔ)芯片設(shè)計(jì)弱點(diǎn)等原因造成的。而存儲(chǔ)陣列失效會(huì)導(dǎo)致極高的存儲(chǔ)芯片良率損失。
如何準(zhǔn)確定位存儲(chǔ)陣列失效的位置、機(jī)理和原因,進(jìn)而發(fā)現(xiàn)和糾正制造工藝缺陷(偏差),優(yōu)化存儲(chǔ)芯片設(shè)計(jì),并最終提高存儲(chǔ)芯片良率、增強(qiáng)存儲(chǔ)芯片使用可靠性,意義重大。
發(fā)明內(nèi)容
本申請(qǐng)主要解決的技術(shù)問題是提供存儲(chǔ)陣列失效字線的定位方法及定位裝置,以準(zhǔn)確定位存儲(chǔ)陣列失效的位置及獲取失效原因。
為解決上述技術(shù)問題,本申請(qǐng)采用的一個(gè)技術(shù)方案是:提供一種DRAM存儲(chǔ)陣列失效字線的定位方法。該存儲(chǔ)陣列失效字線的定位方法包括:對(duì)存儲(chǔ)陣列的存儲(chǔ)單元寫第一邏輯數(shù)據(jù);遍歷存儲(chǔ)陣列中至少部分字線,對(duì)對(duì)應(yīng)的存儲(chǔ)單元進(jìn)行數(shù)據(jù)讀取操作,得到讀取結(jié)果;響應(yīng)于存儲(chǔ)單元的讀取結(jié)果為空,則對(duì)應(yīng)位置處的字線失效,且失效原因確定為字線無法被激活。
為解決上述技術(shù)問題,本申請(qǐng)采用的一個(gè)技術(shù)方案是:提供一種存儲(chǔ)陣列失效字線的定位裝置。該存儲(chǔ)陣列失效字線的定位裝置包括:第一圖形向量產(chǎn)生模塊,與存儲(chǔ)陣列連接,用于產(chǎn)生第一圖形向量,基于第一圖形向量對(duì)存儲(chǔ)陣列寫第一邏輯數(shù)據(jù),并遍歷存儲(chǔ)陣列中至少部分字線,對(duì)對(duì)應(yīng)的存儲(chǔ)單元進(jìn)行數(shù)據(jù)讀取操作,得到讀取結(jié)果;地址收集分析模塊,與存儲(chǔ)陣列連接,用于收集數(shù)據(jù)讀取操作的讀取結(jié)果,并響應(yīng)于存儲(chǔ)單元的讀取結(jié)果為空,則確定對(duì)應(yīng)位置處的字線失效,且確定失效原因?yàn)樽志€無法被激活。
本申請(qǐng)的有益效果是:區(qū)別于現(xiàn)有技術(shù),本申請(qǐng)先對(duì)存儲(chǔ)陣列的存儲(chǔ)單元寫第一邏輯數(shù)據(jù),然后遍歷存儲(chǔ)陣列中至少部分字線,對(duì)對(duì)應(yīng)的存儲(chǔ)單元進(jìn)行數(shù)據(jù)讀取操作,得到讀取結(jié)果;因?yàn)槿糇志€無法被激活,則其對(duì)應(yīng)的存儲(chǔ)單元寫入第一邏輯數(shù)據(jù)時(shí),進(jìn)行數(shù)據(jù)讀取操作時(shí)會(huì)導(dǎo)致讀取結(jié)果為空,因此,若存儲(chǔ)單元的讀取結(jié)果為空,則可以確定對(duì)應(yīng)位置處的字線失效,且失效原因確定為字線無法被激活。
附圖說明
為了更清楚地說明本申請(qǐng)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案,下面將對(duì)實(shí)施例中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本申請(qǐng)的一些實(shí)施例,對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
圖1是本申請(qǐng)存儲(chǔ)陣列一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2是本申請(qǐng)存儲(chǔ)陣列失效字線的定位方法一實(shí)施例的流程示意圖;
圖3是圖2實(shí)施例中步驟S22的具體流程示意圖;
圖4是圖3實(shí)施例中步驟S31的具體流程示意圖;
圖5是圖2實(shí)施例的定位方法對(duì)應(yīng)的存儲(chǔ)陣列中存儲(chǔ)單元內(nèi)邏輯數(shù)據(jù)的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖6是本申請(qǐng)存儲(chǔ)陣列一實(shí)施例中部分流程的流程示意圖;
圖7是圖6實(shí)施例的方法對(duì)應(yīng)的存儲(chǔ)陣列中存儲(chǔ)單元內(nèi)邏輯數(shù)據(jù)的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖8是本申請(qǐng)存儲(chǔ)陣列一實(shí)施例中部分流程的流程示意圖;
圖9是圖8實(shí)施例的方法對(duì)應(yīng)的存儲(chǔ)陣列中存儲(chǔ)單元內(nèi)邏輯數(shù)據(jù)的一結(jié)構(gòu)示意圖;
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于西安紫光國芯半導(dǎo)體有限公司,未經(jīng)西安紫光國芯半導(dǎo)體有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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