[發明專利]一種裝備探測可視域分析方法

在審

• 申請號: 202210517108.2
• 申請日: 2022-05-12
• 公開（公告）號: CN114842062A
• 公開（公告）日: 2022-08-02
• 發明（設計）人: 劉少毅;李振豪;趙永剛;魯青山;王松;王利勇;陶志剛;毛承典;李尚楠;曹志鵬;朱爽;趙林波;張拓;李婉婉;李想;金鑫;張曉東;王惠
• 申請（專利權）人: 中國人民解放軍93920部隊
• 主分類號: G06T7/50
• 分類號: G06T7/50;G01V9/00
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 張萍

本申請提供了一種裝備探測可視域分析方法，涉及裝備可視域分析技術領域，包括：基于預設的DEM分辨率以及裝備探測半徑，以裝備為原點，通過預設的算法確定探測視線的個數以及每個探測視線的方向；在預設的探測高度對應的理論最大探測距離內，通過搜索獲取每個探測視線的最大探測距離，計算最大探測距離對應的臨界點的位置坐標；將每個探測視線的臨界點進行連線構面，得到預設的探測高度對應的裝備探測區范圍；在預設的探測距離內，通過搜索獲取每個探測視線的最大探測臨界視線斜率，由此計算預設的探測距離對應的裝備探測盲區高度范圍。本申請提高了裝備探測可視域分析效率，提升了可視域分析結果的可靠性。

技術領域

本申請涉及裝備可視域分析技術領域，尤其是涉及一種裝備探測可視域分析方法。

背景技術

目前國內外在裝備探測可視域分析領域中已有大量成果及技術應用，相關研究主要集中在裝備探測范圍的通視性模型和算法，最為突出的問題是缺乏對裝備電磁波大氣折射誤差改正分析評估，以及對高精度或者大規模的數字高程模型的處理效率問題。

此外，目前的裝備探測可視域分析未考慮地球曲率半徑以及大氣折射的影響，造成目前的分析成果以可視化展示為主，無法實現真正意義上的實際應用。

發明內容

有鑒于此，本申請提供了一種裝備探測可視域分析方法，以解決上述技術問題。

第一方面，本申請實施例提供了一種裝備探測可視域分析方法，包括：

基于預設的DEM分辨率以及裝備探測半徑，以裝備為原點，通過預設的算法確定探測視線的個數以及每個探測視線的方向；

在預設的探測高度對應的理論最大探測距離內，通過搜索獲取每個探測視線的最大探測距離，計算最大探測距離對應的臨界點的位置坐標；將每個探測視線的臨界點進行連線構面，得到預設的探測高度對應的裝備探測區范圍；

在預設的探測距離內，通過搜索獲取每個探測視線的最大探測臨界視線斜率，由此計算預設的探測距離對應的裝備探測盲區高度范圍。

進一步，基于預設的DEM分辨率以及裝備探測半徑，以裝備為原點，通過預設的算法確定探測視線的個數以及每個探測視線的方向；包括：

根據裝備探測半徑d及單元網格邊長a確定分層層數L：

其中，單元網格邊長a是DEM分辨率,[]為取整運算符號；

計算第l層的長度步長d_l：

d₁＝d/2^L-1

d_l＝d/2^L-l+1；l＝2,…L

第L層的角度步長θ_L為：

第l層的角度步長θ_l為：

θ_l＝2^L-lθ_L，l＝1,…L-1

確定探測視線的個數為L；以裝備為原點，以地平面上任一方向作為第一個探測視線，將第一個探測視線沿著順時針或逆時針在地平面上旋轉θ₁，得到第二個探測視線，將第二個探測視線在地平面上旋轉θ₂，得到第三個探測視線；依次進行下去，直至得到第L個探測視線。

進一步，基于預設的DEM分辨率以及裝備探測半徑，以裝備為原點，通過預設的算法確定探測視線的個數以及每個探測視線的方向，包括：

根據裝備探測半徑d及DEM分辨率a確定角度步長θ: