[發(fā)明專利]一種自動光學(xué)檢測缺陷檢測方法、系統(tǒng)和設(shè)備在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202210516620.5 | 申請日: | 2022-05-12 |
| 公開(公告)號: | CN114965481A | 公開(公告)日: | 2022-08-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 李文 | 申請(專利權(quán))人: | 湖南晶訊光電股份有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/88 | 分類號: | G01N21/88;G01N21/95;G02F1/13 |
| 代理公司: | 湖南會挽專利代理事務(wù)所(普通合伙) 43286 | 代理人: | 刁飛 |
| 地址: | 423300 湖南省郴州市永興縣*** | 國省代碼: | 湖南;43 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 自動 光學(xué) 檢測 缺陷 方法 系統(tǒng) 設(shè)備 | ||
本發(fā)明實施例涉及光學(xué)檢測技術(shù)領(lǐng)域,具體公開了一種自動光學(xué)檢測缺陷檢測方法、系統(tǒng)及設(shè)備,本發(fā)明實施例通過獲取工作人員設(shè)置的初檢數(shù)量,標記多個缺陷圖像區(qū)域;對剩余的LCD/LCM產(chǎn)品圖像進行模糊檢測,篩選不合格產(chǎn)品和疑似合格產(chǎn)品;對疑似合格產(chǎn)品的多個缺陷圖像區(qū)域進行針對精檢,篩選不合格產(chǎn)品。能夠在初始精檢階段,對初檢數(shù)量的LCD/LCM產(chǎn)品圖像進行初始精檢標記不合格產(chǎn)品的多個缺陷圖像區(qū)域,進而對剩余的LCD/LCM產(chǎn)品圖像進行模糊檢測和針對精檢,逐步且快速的篩選不合格產(chǎn)品,不僅解決人為的主觀誤判和疏忽等問題,大大提高檢測的準確性,還能夠有效提高檢測的效率。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于光學(xué)檢測技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種自動光學(xué)檢測缺陷檢測方法、系統(tǒng)和設(shè)備。
背景技術(shù)
LCD的構(gòu)造是在兩片平行的玻璃基板當中放置液晶盒,下基板玻璃上設(shè)置TFT,上基板玻璃上設(shè)置彩色濾光片,通過TFT上的信號與電壓改變來控制液晶分子的轉(zhuǎn)動方向,從而達到控制每個像素點偏振光出射與否而達到顯示目的。LCM即LCD顯示模組、液晶模塊,是指將液晶顯示器件,連接件,控制與驅(qū)動等外圍電路,PCB電路板,背光源,結(jié)構(gòu)件等裝配在一起的組件。LCD/LCM廣泛應(yīng)用于電子信息顯示行業(yè),在LCD/LCM產(chǎn)品的加工生產(chǎn)過程中,質(zhì)量檢測是保證LCD/LCM產(chǎn)品質(zhì)量的重要環(huán)節(jié)。
隨著企業(yè)對LCD/LCM產(chǎn)品缺陷的檢出要求越來越高,缺陷不良的直徑也越來越小,要求從0.5mm縮小到0.1mm,檢出率從95%提高到99.5%以上,而現(xiàn)有的LCD/LCM產(chǎn)品的檢測主要依靠作業(yè)員人眼識別,人員需要長時間培訓(xùn)才能比較準確掌握技能,同時,長時間的人眼識別檢測,容易導(dǎo)致眼睛疲勞,影響檢測結(jié)果。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明實施例的目的在于提供一種自動光學(xué)檢測缺陷檢測系統(tǒng)及方法,旨在解決背景技術(shù)中提出的問題。
為實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明實施例提供如下技術(shù)方案:
一種自動光學(xué)檢測缺陷檢測方法,所述方法具體包括以下步驟:
獲取光學(xué)檢測母版,根據(jù)所述光學(xué)檢測母版選擇LCD/LCM測試治具進行連接,并獲取工作人員設(shè)置的初檢數(shù)量;
根據(jù)所述光學(xué)檢測母版,在所述LCD/LCM測試治具上,對初檢數(shù)量的LCD/LCM產(chǎn)品圖像進行初始精檢,篩選不合格產(chǎn)品,并標記多個缺陷圖像區(qū)域;
根據(jù)所述光學(xué)檢測母版,在所述LCD/LCM測試治具上,對剩余的LCD/LCM產(chǎn)品圖像進行模糊檢測,篩選不合格產(chǎn)品和疑似合格產(chǎn)品;
對所述疑似合格產(chǎn)品的多個缺陷圖像區(qū)域進行針對精檢,生成針對精檢結(jié)果,根據(jù)所述針對精檢結(jié)果,篩選不合格產(chǎn)品。
作為本發(fā)明實施例技術(shù)方案進一步的限定,所述獲取光學(xué)檢測母版,根據(jù)所述光學(xué)檢測母版選擇LCD/LCM測試治具進行連接,并獲取工作人員設(shè)置的初檢數(shù)量具體包括以下步驟:
獲取光學(xué)檢測母版;
根據(jù)所述光學(xué)檢測母版,匹配LCD/LCM測試治具;
與所述LCD/LCM測試治具進行連接;
獲取工作人員設(shè)置的初檢數(shù)量。
作為本發(fā)明實施例技術(shù)方案進一步的限定,所述根據(jù)所述光學(xué)檢測母版,在所述LCD/LCM測試治具上,對初檢數(shù)量的LCD/LCM產(chǎn)品圖像進行初始精檢,篩選不合格產(chǎn)品,并標記多個缺陷圖像區(qū)域具體包括以下步驟:
在所述LCD/LCM測試治具上,將初檢數(shù)量的LCD/LCM產(chǎn)品圖像與所述光學(xué)檢測母版進行初始精檢比較,生成初始精檢結(jié)果;
根據(jù)所述初始精檢結(jié)果,篩選多個不合格產(chǎn)品;
根據(jù)所述初始精檢結(jié)果,標記多個所述不合格產(chǎn)品的多個缺陷圖像區(qū)域。
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- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





