[發(fā)明專利]軸角-數(shù)字轉(zhuǎn)換系列芯片全參數(shù)自動測試方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202210509858.5
• 申請日: 2022-05-11
• 公開（公告）號: CN114879011A
• 公開（公告）日: 2022-08-09
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 吳文韜;路峻豪;顏玲龍;曹洪玉;李澍;高祥;梁龍營;王世民;孫陸成;趙乾
• 申請（專利權(quán)）人: 連云港杰瑞電子有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 連云港潤知專利代理事務(wù)所 32255
• 代理人: 劉喜蓮;馬強

一種軸角?數(shù)字轉(zhuǎn)換系列芯片全參數(shù)自動測試方法，該方法利用自動測試軟件對自動測試系統(tǒng)的設(shè)備儀器進行設(shè)置及控制，然后按照設(shè)置的自動測試流程對軸角?數(shù)字轉(zhuǎn)換系列芯片的靜態(tài)角精度、數(shù)字輸出高低電平電壓、速度信號反向誤差、速度信號線性度、速度信號零位電壓、禁止/刷新電壓、使能/三態(tài)電壓、忙信號正脈沖寬度、過零信號、內(nèi)建測試信號、分辨率控制、參數(shù)選擇控制、基準電壓、假零位、工作電流、速度電壓值的性能參數(shù)及功能進行自動測試，并對測試數(shù)據(jù)和結(jié)果進行自動記錄保存。本申請能夠通過測試軟件控制儀器實現(xiàn)軸角?數(shù)字轉(zhuǎn)換系列軸角轉(zhuǎn)換芯片自動測試，完全可以替代人工測試效果，并且效率有了極大程度的提高。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及軸角轉(zhuǎn)換芯片參數(shù)自動測試技術(shù)領(lǐng)域，特別是一種軸角-數(shù)字轉(zhuǎn)換系列芯片全參數(shù)自動測試方法。

背景技術(shù)

現(xiàn)代控制系統(tǒng)中，計算機是必不可少的一部分，而計算機所需的接口數(shù)據(jù)都是數(shù)字量，在很多控制系統(tǒng)中存在著諸如位置，速度，加速度等參數(shù)，它們可能直接以軸角信息表示，也可能由軸角信息變換而來，而軸角信息可以通過軸角電磁元件（傳感器）獲得，軸角類電磁元件（傳感器）的輸出是含有角度信息的模擬電壓信號，那么，還需要將含有角度信息的模擬電壓信號變換成計算機接口能夠識別的數(shù)字信號。

軸角轉(zhuǎn)換芯片就是實現(xiàn)將角度的模擬信號轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號一種產(chǎn)品，由于軸角轉(zhuǎn)換芯片的合格性，直接影響到軸角轉(zhuǎn)換結(jié)果的可靠性，因此在軸角轉(zhuǎn)換芯片生產(chǎn)出來后，需要對其多項參數(shù)進行測試，檢查其是否合格，目前軸角轉(zhuǎn)換芯片測試主要以人力手工操作儀器進行，當軸角轉(zhuǎn)換芯片數(shù)量大種類多時，人工測試就顯得效率低下，急需一種軟件硬件結(jié)合的自動測試方法實現(xiàn)軸角轉(zhuǎn)換芯片的自動測試。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是針對現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種軸角-數(shù)字轉(zhuǎn)換系列芯片全參數(shù)自動測試方法，能夠通過測試軟件控制儀器實現(xiàn)軸角-數(shù)字轉(zhuǎn)換系列軸角轉(zhuǎn)換芯片自動測試，完全可以替代人工測試效果，并且效率有了極大程度的提高。

本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是通過以下的技術(shù)方案來實現(xiàn)的。本發(fā)明是一種軸角-數(shù)字轉(zhuǎn)換系列芯片全參數(shù)自動測試方法，該方法使用自動測試系統(tǒng)，自動測試系統(tǒng)包括程控電源、軸角模擬器、萬用表、示波器、帶芯片夾具的FPGA控制板，所用的設(shè)備與儀器均需要具備與計算機之間的通訊接口；該方法利用自動測試軟件對自動測試系統(tǒng)的設(shè)備儀器進行設(shè)置及控制，然后按照設(shè)置的自動測試流程對軸角-數(shù)字轉(zhuǎn)換系列芯片的靜態(tài)角精度、數(shù)字輸出高低電平電壓、速度信號反向誤差、速度信號線性度、速度信號零位電壓、禁止/刷新電壓、使能/三態(tài)電壓、忙信號正脈沖寬度、過零信號、內(nèi)建測試信號、分辨率控制、參數(shù)選擇控制、基準電壓、假零位、工作電流、速度電壓值的性能參數(shù)及功能進行自動測試，并對測試數(shù)據(jù)和結(jié)果進行自動記錄保存。

本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題還可以通過以下的技術(shù)方案來進一步實現(xiàn)，對于以上所述的軸角-數(shù)字轉(zhuǎn)換系列芯片全參數(shù)自動測試方法，自動測試軟件基于LabVIEW開發(fā)環(huán)境開發(fā)，其自動測試流程為：

（1）設(shè)定型號參數(shù)與批號編號、分辨率、角度誤差、環(huán)境條件；

（2）進入測試項目流程前自動測試軟件先監(jiān)測芯片電流是否異常，異常則中止測試并報警，正常則進入測試項目流程；

（3）按照測試項目流程判斷當前測試項目是否勾選，勾選則配置設(shè)備、執(zhí)行測試并保存測試結(jié)果，否則跳過該測試項目；

（4）測試項目流程完成后生成測試結(jié)果表格。