[發明專利]一種適用于殘差網絡結構的Eltwise層前向推理運算方法

在審

• 申請號: 202210502066.5
• 申請日: 2022-05-10
• 公開（公告）號: CN114595808A
• 公開（公告）日: 2022-06-07
• 發明（設計）人: 陸金剛;方偉
• 申請（專利權）人: 浙江芯昇電子技術有限公司
• 主分類號: G06N3/04
• 分類號: G06N3/04;G06N3/08;G06N5/04
• 代理公司: 南京華訊知識產權代理事務所(普通合伙) 32413
• 代理人: 劉小吉

1.一種適用于殘差網絡結構的Eltwise層前向推理運算方法，其特征在于，包括以下步驟：

搜尋殘差網絡中的殘差子網絡；

決定該殘差子網路的分支與輸入到該Eltwise層的輸入數據；

將該Eltwise層及與其對接的分支輸入數據等價轉換成一單一卷積層；

完成整個殘差網絡中的殘差子網絡搜索后輸出結果。

2.如權利要求1所述的方法，其中該輸入數據為卷積層運算的輸出結果。

3.如權利要求1所述的方法，其中該輸入數據包括一無卷積運算分支及多個卷積層運算的輸出結果。

4.如權利要求3所述的方法，其中該無卷積運算分支等價轉換為一虛擬卷積層運算的輸出結果。

5.如權利要求3所述的方法，其中該無卷積運算分支為原始輸入特征數據。

6.如權利要求1所述的方法，其中該Eltwise層進行加法運算。

7.如權利要求1所述的方法，其中Eltwise層對接兩個分支輸入數據，一分支輸入數據其卷積層有N個輸入特征圖像，M個輸出特征圖像，另一分支輸入結果其卷積層有K個輸入特征圖像，M個輸出特征圖像，該Eltwise層與該兩個分支輸入數據等價變換成一輸入特征圖像個數為N+K，輸出特征圖像個數為M的單一卷積層。

8.如權利要求3所述的方法，其中該原始輸入特征數據包含M個特征圖像，另一分支輸入結果其卷積層有K個輸入特征圖像，M個輸出特征圖像，該Eltwise層與該兩個分支輸入數據等價變換成一輸入特征圖像個數為M+K，輸出特征圖像個數為M的單一卷積層。

9.如權利要求4所述的方法，其中該虛擬卷積層的卷積核當輸入特征圖像序號等于輸出特征圖像序號時，卷積核中心點系數為1，其余系數為0；當輸入特征圖像序號不等于輸出特征圖像序號時，所有系數為0。

10.如權利要求2所述的方法，其中該卷積層包括Batch Norm層和Scale層。