[發明專利]一種電容傳感裝置、接近度測量方法

在審

• 申請號: 202210498374.5
• 申請日: 2022-05-09
• 公開（公告）號: CN114826236A
• 公開（公告）日: 2022-07-29
• 發明（設計）人: 王旭旭;劉業凡
• 申請（專利權）人: 上海艾為電子技術股份有限公司
• 主分類號: H03K17/955
• 分類號: H03K17/955;G01D5/24
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 周初冬

1.一種接近度測量方法，其特征在于，該方法包括：

獲取電容數據；其中，所述電容數據包括電容采樣值及補償電容值；

判斷所述電容采樣值是否在當前的接近度測量范圍內；所述當前的接近度測量范圍為當前補償電容值對應的測量范圍；

若所述電容采樣值在當前的接近度測量范圍內，則依據所述電容數據確定當前的接近度；

若所述電容采樣值超出當前的接近度測量范圍內，則調整所述補償電容值、以調整所述接近度測量范圍，再依據調整后的電容數據確定當前的接近度。

2.根據權利要求1所述的接近度測量方法，其特征在于，判斷所述電容采樣值是否在當前的接近度測量范圍內之前，還包括：

判斷當前采集動作是否為初始采集；

若否，則執行判斷所述電容采樣值是否在當前的接近度測量范圍內的步驟。

3.根據權利要求2所述的接近度測量方法，其特征在于，在所述判斷當前采集動作是否為初始采集之后，若是，則還包括：

確定初始的補償電容值。

4.根據權利要求1所述的接近度測量方法，其特征在于，依據調整后的電容數據確定當前的接近度之前，還包括：

依據所述調整后的補償電容信息，確定預計接近度；

判斷所述預計接近度是否在接近度有效范圍內；所述接近度有效范圍為所述補償電容的補償能力對應的有效范圍，所述接近度測量范圍為所述接近度有效范圍的子集；

若所述預計接近度在所述接近度有效范圍內，則執行所述依據調整后的電容數據確定當前的接近度的步驟。

5.根據權利要求4所述的接近度測量方法，其特征在于，在判斷所述預計接近度是否在接近度有效范圍內之后，若所述預計接近度超出接近度有效范圍內，則還包括：

判定為接近度異常狀態。

6.根據權利要求4所述的接近度測量方法，其特征在于，所述接近度有效范圍的下限值大于等于所述實際有效量程下限值，所述接近度有效范圍的上限值小于等于所述實際有效量程上限值；

其中，所述實際有效量程為所述補償電容的補償能力對應的實際范圍。

7.根據權利要求1-6任一項所述的接近度測量方法，其特征在于，所述接近度測量范圍的下限值大于等于實際測量量程的下限值，以及，

所述接近度測量范圍的上限值小于等于實際測量量程的上限值；

其中，所述實際測量量程為當前補償電容值對應的實際范圍。

8.一種電容傳感裝置，其特征在于，包括：電容傳感器、MCU程序處理模塊；

所述電容傳感器用于為所述MCU程序處理模塊提供電容數據；

所述電感傳感器和所述MCU程序處理模塊結合，實現如權利要求1-7任一項所述的接近度測量方法。

9.根據權利要求8所述的電容傳感裝置，其特征在于，所述電容傳感器包括：補償電容以及檢測電容單元；

所述補償電容，用于抵消所述電容傳感器中的寄生電容；

所述檢測電容單元的輸入端與所述補償電容相連，用于檢測電容數據；

所述檢測電容單元的輸出端作為所述電容傳感器的輸出端。

10.根據權利要求8所述的電容傳感裝置，其特征在于，所述MCU程序處理模塊包括：接近度測量模塊及數據處理模塊；

所述接近度測量模塊，用于接收所述電容傳感器提供電容采樣值及補償電容值；并動態調整所述補償電容值，以及，向所述數據處理模塊提供接近度數據和接近度異常標志；

所述數據處理模塊，用于根據所述接近度測量模塊提供的接近度數據和接近度異常標志，進行接近遠離狀態判斷。