[發(fā)明專(zhuān)利]斷路器開(kāi)斷性能檢測(cè)方法、裝置及設(shè)備在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202210487944.0 | 申請(qǐng)日: | 2022-05-06 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN115047329A | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-09-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉宏;俞華;李國(guó)棟;牛曙;李帥 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 國(guó)網(wǎng)山西省電力公司電力科學(xué)研究院 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01R31/327 | 分類(lèi)號(hào): | G01R31/327 |
| 代理公司: | 北京中強(qiáng)智尚知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11448 | 代理人: | 劉敏 |
| 地址: | 030001 *** | 國(guó)省代碼: | 山西;14 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 斷路器 性能 檢測(cè) 方法 裝置 設(shè)備 | ||
本申請(qǐng)公開(kāi)了一種斷路器開(kāi)斷性能檢測(cè)方法、裝置及設(shè)備,涉及電氣設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域,可以解決斷路器開(kāi)斷性能的檢測(cè)準(zhǔn)確度較低的問(wèn)題。包括:利用陣列傳感器檢測(cè)斷路器在分閘過(guò)程中產(chǎn)生的混合暫態(tài)輻射場(chǎng)信號(hào);將混合暫態(tài)輻射場(chǎng)信號(hào)分離成單相暫態(tài)輻射場(chǎng)信號(hào),確定單相暫態(tài)輻射場(chǎng)信號(hào)的數(shù)量和/或單相暫態(tài)輻射場(chǎng)信號(hào)的持續(xù)時(shí)間;根據(jù)單相暫態(tài)輻射場(chǎng)信號(hào)的數(shù)量和/或單相暫態(tài)輻射場(chǎng)信號(hào)的持續(xù)時(shí)間確定斷路器開(kāi)斷性能檢測(cè)結(jié)果。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請(qǐng)涉及電氣設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及到一種斷路器開(kāi)斷性能檢測(cè)方法、裝置及設(shè)備。
背景技術(shù)
斷路器在電力系統(tǒng)中具備控制與保護(hù)的雙重作用,而斷路器的核心功能是開(kāi)斷性能,近五年因斷路器的開(kāi)斷問(wèn)題造成的直接經(jīng)濟(jì)損失達(dá)到上億元,因此,對(duì)斷路器開(kāi)斷性能進(jìn)行及時(shí)檢測(cè)對(duì)國(guó)民經(jīng)濟(jì)發(fā)展與人們正常生活具有重要作用。
目前要在斷電情況下對(duì)斷路器開(kāi)斷性能進(jìn)行模擬檢測(cè),但是因?yàn)閿嗦菲鬟\(yùn)行的實(shí)際工況需要較大電流與電壓,而模擬檢測(cè)達(dá)不到這樣大的電流與電壓,得到的模擬數(shù)據(jù)不能反映實(shí)際情況,因此對(duì)斷路器開(kāi)斷性能的檢測(cè)準(zhǔn)確度較低。
發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此,本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N斷路器開(kāi)斷性能檢測(cè)方法、裝置及設(shè)備,涉及電氣設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域,可以解決斷路器開(kāi)斷性能的檢測(cè)準(zhǔn)確度較低的問(wèn)題。
根據(jù)本申請(qǐng)的一個(gè)方面,提供了一種斷路器開(kāi)斷性能檢測(cè)方法,該方法包括:
利用陣列傳感器檢測(cè)斷路器在分閘過(guò)程中產(chǎn)生的混合暫態(tài)輻射場(chǎng)信號(hào);
將所述混合暫態(tài)輻射場(chǎng)信號(hào)分離成單相暫態(tài)輻射場(chǎng)信號(hào),確定所述單相暫態(tài)輻射場(chǎng)信號(hào)的數(shù)量和/或所述單相暫態(tài)輻射場(chǎng)信號(hào)的持續(xù)時(shí)間;
根據(jù)所述單相暫態(tài)輻射場(chǎng)信號(hào)的數(shù)量和/或所述單相暫態(tài)輻射場(chǎng)信號(hào)的持續(xù)時(shí)間確定斷路器開(kāi)斷性能檢測(cè)結(jié)果。
根據(jù)本申請(qǐng)的另一個(gè)方面,提供了一種斷路器開(kāi)斷性能檢測(cè)裝置,該裝置包括:
檢測(cè)模塊,用于利用陣列傳感器檢測(cè)斷路器在分閘過(guò)程中產(chǎn)生的混合暫態(tài)輻射場(chǎng)信號(hào);
分離模塊,用于將所述混合暫態(tài)輻射場(chǎng)信號(hào)分離成單相暫態(tài)輻射場(chǎng)信號(hào),確定所述單相暫態(tài)輻射場(chǎng)信號(hào)的數(shù)量和/或所述單相暫態(tài)輻射場(chǎng)信號(hào)的持續(xù)時(shí)間;
確定模塊,用于根據(jù)所述單相暫態(tài)輻射場(chǎng)信號(hào)的數(shù)量和/或所述單相暫態(tài)輻射場(chǎng)信號(hào)的持續(xù)時(shí)間確定斷路器開(kāi)斷性能檢測(cè)結(jié)果。
根據(jù)本申請(qǐng)的又一個(gè)方面,提供了一種非易失性可讀存儲(chǔ)介質(zhì),其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序,所述程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)上述斷路器開(kāi)斷性能檢測(cè)方法。
根據(jù)本申請(qǐng)的再一個(gè)方面,提供了一種計(jì)算機(jī)設(shè)備,包括非易失性可讀存儲(chǔ)介質(zhì)、處理器及存儲(chǔ)在非易失性可讀存儲(chǔ)介質(zhì)上并可在處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序,所述處理器執(zhí)行所述程序時(shí)實(shí)現(xiàn)上述斷路器開(kāi)斷性能檢測(cè)方法。
借由上述技術(shù)方案,本申請(qǐng)公開(kāi)了一種斷路器開(kāi)斷性能檢測(cè)方法、裝置及設(shè)備,本申請(qǐng)首先利用陣列傳感器檢測(cè)斷路器在分閘過(guò)程中產(chǎn)生的混合暫態(tài)輻射場(chǎng)信號(hào);進(jìn)一步的,將混合暫態(tài)輻射場(chǎng)信號(hào)分離成單相暫態(tài)輻射場(chǎng)信號(hào),確定單相暫態(tài)輻射場(chǎng)信號(hào)的數(shù)量和/或單相暫態(tài)輻射場(chǎng)信號(hào)的持續(xù)時(shí)間;最后,根據(jù)單相暫態(tài)輻射場(chǎng)信號(hào)的數(shù)量和/或單相暫態(tài)輻射場(chǎng)信號(hào)的持續(xù)時(shí)間確定斷路器開(kāi)斷性能檢測(cè)結(jié)果。本申請(qǐng)中的技術(shù)方案,通過(guò)非接觸的陣列傳感器可以實(shí)現(xiàn)帶電檢測(cè)到混合暫態(tài)輻射場(chǎng)信號(hào),而停電下進(jìn)行的模擬檢測(cè)無(wú)法達(dá)到帶電時(shí)的大電壓與大電流,因此,本申請(qǐng)對(duì)斷路器開(kāi)斷性能的檢測(cè)更加符合實(shí)際工況,斷路器開(kāi)斷性能檢測(cè)結(jié)果更加準(zhǔn)確。
上述說(shuō)明僅是本申請(qǐng)技術(shù)方案的概述,為了能夠更清楚了解本申請(qǐng)的技術(shù)手段,而可依照說(shuō)明書(shū)的內(nèi)容予以實(shí)施,并且為了讓本申請(qǐng)的上述和其它目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能夠更明顯易懂,以下特舉本申請(qǐng)的具體實(shí)施方式。
附圖說(shuō)明
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
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