[發明專利]聲學成像儀準確性測試方法及其裝置

在審

• 申請號: 202210487938.5
• 申請日: 2022-05-06
• 公開（公告）號: CN115047080A
• 公開（公告）日: 2022-09-13
• 發明（設計）人: 劉宏;俞華;李國棟;牛曙;李帥
• 申請（專利權）人: 國網山西省電力公司電力科學研究院
• 主分類號: G01N29/30
• 分類號: G01N29/30;G01R35/00
• 代理公司: 北京中強智尚知識產權代理有限公司 11448
• 代理人: 郭曉迪

1.一種聲學成像儀準確性測試方法，其特征在于，所述方法包括：

將干式電抗器的測試參數調整為第一測試參數，所述第一測試參數包括第一電源工作頻率和第一工作電壓；

采集所述干式電抗器上第一短接點所短接線圈的第一振動數據，根據所述第一振動數據生成第一振動區域；

采用待測聲學成像儀獲取所述干式電抗器在第一測試參數下的第一噪聲圖譜，根據所述第一噪聲圖譜確定第一噪聲成像區域；

將所述第一噪聲成像區域與所述第一振動區域進行比對，得到所述待測聲學成像儀的準確性測試結果。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述采集所述干式電抗器上第一短接點所短接線圈的第一振動數據，根據所述第一振動數據生成第一振動區域，包括：

選取所述干式電抗器的第一短接點，確認所述第一短接點所短接線圈；

以所述第一短接點為起點，采用激光測振儀沿周向采集所述第一短接點所短接線圈的第一振動數據，所述第一振動數據包括振動速率；

選取所述第一短接點所短接線圈上的振動速率不為0的區域，將所述區域整合以生成第一振動區域。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述采用待測聲學成像儀獲取所述干式電抗器在第一測試參數下的第一噪聲圖譜，包括：

采用待測聲學成像儀采集所述干式電抗器的位置圖像信息和所述干式電抗器的音頻數據；

采用待測聲學成像儀將所述干式電抗器的音頻數據轉換為聲源強度圖譜；

將所述聲源強度圖譜與所述位置圖像信息重疊融合以生成第一噪聲圖譜。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述將所述第一噪聲成像區域與所述第一振動區域進行比對，得到所述待測聲學成像儀的準確性測試結果，包括：

將所述第一噪聲成像區域與所述第一振動區域進行比對，得到第一比對結果；

若所述第一比對結果指示所述第一噪聲成像區域與所述第一振動區域一致，則將所述第一比對結果標記為合格；

若所述第一比對結果指示所述第一噪聲成像區域與所述第一振動區域不一致，則將所述第一比對結果標記為不合格。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述聲學成像儀準確性測試方法還包括：

采集所述干式電抗器上第二短接點所短接線圈的第二振動數據，根據所述第二振動數據生成第二振動區域，采用待測聲學成像儀獲取所述干式電抗器在第一測試參數下的第二噪聲圖譜，根據所述第二噪聲圖譜確定第二噪聲成像區域，將所述第二噪聲成像區域與所述第二振動區域進行比對，得到第二比對結果；

采集所述干式電抗器上第三短接點所短接線圈的第三振動數據，根據所述第三振動數據生成第三振動區域，采用待測聲學成像儀獲取所述干式電抗器在第一測試參數下的第三噪聲圖譜，根據所述第三噪聲圖譜確定第三噪聲成像區域，將所述第三噪聲成像區域與所述第三振動區域進行比對，得到第三比對結果。

6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，所述聲學成像儀準確性測試方法還包括：

若所述第一比對結果、所述第二比對結果和所述第三比對結果均標記為合格，則所述聲學成像儀測試結果為合格；

若所述第一比對結果、所述第二比對結果和所述第三比對結果中存在至少一個比對結果為不合格，則所述聲學成像儀測試結果為不合格。

7.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述聲學成像儀準確性測試方法還包括：

將所述干式電抗器的測試參數調整為第二測試參數，所述第二測試參數包括第二電源工作頻率和第一工作電壓；

采集所述干式電抗器上第一短接點所短接線圈的第四振動數據，根據所述第四振動數據生成第四振動區域；

采用待測聲學成像儀獲取所述干式電抗器在第二測試參數下的第四噪聲圖譜，根據所述第四噪聲圖譜確定第四噪聲成像區域；

將所述第四噪聲成像區域與所述第四振動區域進行比對，得到所述待測聲學成像儀的準確性測試結果。