[發(fā)明專利]模數(shù)轉(zhuǎn)換器的動(dòng)態(tài)壽命試驗(yàn)板和試驗(yàn)方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202210484157.0
• 申請日: 2022-05-06
• 公開（公告）號: CN114584143B
• 公開（公告）日: 2022-09-23
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 胡湘洪;支越;羅軍;李軍求;王小強(qiáng)
• 申請（專利權(quán)）人: 中國電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn)研究所（（工業(yè)和信息化部電子第五研究所）（中國賽寶實(shí)驗(yàn)室））
• 主分類號: H03M1/10
• 分類號: H03M1/10
• 代理公司: 華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224
• 代理人: 聶榕

1.一種模數(shù)轉(zhuǎn)換器的動(dòng)態(tài)壽命試驗(yàn)板，其特征在于，包括：基板，以及設(shè)置于所述基板上的信號源電路；

所述信號源電路的輸出端，用于與置于所述動(dòng)態(tài)壽命試驗(yàn)板的模數(shù)轉(zhuǎn)換器的時(shí)鐘信號端連接，以向所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器提供時(shí)鐘信號；

和/或，

所述信號源電路的輸出端，用于與置于所述動(dòng)態(tài)壽命試驗(yàn)板的模數(shù)轉(zhuǎn)換器的激勵(lì)信號端連接，以向所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器提供激勵(lì)信號；

所述信號源電路包括第一晶振電路和/或第二晶振電路，所述第一晶振電路的輸出端與所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器的時(shí)鐘信號端連接，所述第二晶振電路的輸出端與所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器的激勵(lì)信號端連接；其中，所述第一晶振電路包括第一晶振、第一電容和第二電容，所述第一晶振的第一端、所述第一電容的第一端分別與電源端連接，所述第一晶振的第二端與時(shí)鐘信號正端連接，所述第一電容的第二端與所述第二電容的第一端連接，所述第二電容的第二端與時(shí)鐘信號負(fù)端連接，所述第二電容的第一端接地；

所述第二晶振電路包括第二晶振、第三電容、第一電阻、第二電阻和第四電容，所述第二晶振一端連接電源端，另一端依次通過所述第一電阻和第二電阻接地，所述第一電阻和第二電阻之間的連接端與所述第三電容的一端連接，所述第三電容的另一端、以及所述第四電容的一端與模擬輸入正端、模擬輸入負(fù)端和共模電平輸出管腳連接，所述第四電容的另一端接地。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的動(dòng)態(tài)壽命試驗(yàn)板，其特征在于，所述信號源電路包括相互連接的晶振電路和可編程陣列邏輯門電路，所述可編程陣列邏輯門電路的輸出端與所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器的時(shí)鐘信號端連接，和/或，所述可編程陣列邏輯門電路的輸出端與所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器的激勵(lì)信號端連接。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的動(dòng)態(tài)壽命試驗(yàn)板，其特征在于：所述晶振電路包括第一晶振電路和第二晶振電路，所述可編程陣列邏輯門電路包括第一可編程陣列邏輯門電路和/或第二可編程陣列邏輯門電路；

所述第一晶振電路與所述第一可編程陣列邏輯門電路連接，所述第一可編程陣列邏輯門電路的輸出端與所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器的時(shí)鐘信號端連接；

所述第二晶振電路與所述第二可編程陣列邏輯門電路連接，所述第二可編程陣列邏輯門電路的輸出端與所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器的激勵(lì)信號端連接。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的動(dòng)態(tài)壽命試驗(yàn)板，其特征在于，所述第一晶振為單端晶振。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的動(dòng)態(tài)壽命試驗(yàn)板，其特征在于，所述第二晶振電路還包括：第五電容，所述第五電容的一端連接于所述電源端和所述第二晶振之間，所述第五電容的另一端接地。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的動(dòng)態(tài)壽命試驗(yàn)板，其特征在于，所述第二晶振為單端晶振。

7.根據(jù)權(quán)利要求1或3所述的動(dòng)態(tài)壽命試驗(yàn)板，其特征在于，所述動(dòng)態(tài)壽命試驗(yàn)板上包括至少一個(gè)所述第一晶振電路和/或至少一個(gè)所述第二晶振電路，多個(gè)所述第一晶振電路和/或多個(gè)所述第二晶振電路呈線性排布，其中，每個(gè)所述第一晶振電路分別與一個(gè)所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器的時(shí)鐘信號端連接，每個(gè)所述第二晶振電路分別與一個(gè)所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器的激勵(lì)信號端連接。

8.一種模數(shù)轉(zhuǎn)換器的動(dòng)態(tài)壽命試驗(yàn)方法，其特征在于，所述動(dòng)態(tài)壽命試驗(yàn)方法應(yīng)用于權(quán)利要求1-7任一項(xiàng)所述的模數(shù)轉(zhuǎn)換器的動(dòng)態(tài)壽命試驗(yàn)板，所述動(dòng)態(tài)壽命試驗(yàn)方法包括：

通過信號源電路向待檢測的模數(shù)轉(zhuǎn)換器發(fā)送時(shí)序信號；和/或，通過所述信號源電路向所述待檢測的模數(shù)轉(zhuǎn)換器發(fā)送激勵(lì)信號；

獲取所述待檢測的模數(shù)轉(zhuǎn)換器輸出電壓，并根據(jù)所述輸出電壓進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換器的壽命試驗(yàn)。