[發明專利]一種機床定位精度偏差的校正方法

有效

• 申請號: 202210481777.9
• 申請日: 2022-05-05
• 公開（公告）號: CN114654303B
• 公開（公告）日: 2023-02-21
• 發明（設計）人: 趙彬;陳鵬飛;阮少華;張世貴;熊吉健;周小文;肖洪;宗川宏
• 申請（專利權）人: 中國航發航空科技股份有限公司
• 主分類號: B23Q17/22
• 分類號: B23Q17/22
• 代理公司: 北京清大紫荊知識產權代理有限公司 11718
• 代理人: 秦亞群

本發明提供了一種機床定位精度偏差的校正方法，包括：在零件上設置校正基準孔；將機床轉動θ角度，打表檢測基準孔位置，記為基準孔坐標Y/X實際值，根據機床轉動角度θ和基準孔的極半徑R，計算得到基準孔坐標Y/X理論值；通過基準孔坐標Y/X實際值和基準孔坐標Y/X理論值，計算得到機床加工中心相對理論中心的坐標偏差值Y2/X2，該坐標偏差值Y2/X2即為機床當前的定位精度偏差值，由定位精度偏差值得到校正值后在坐標系或加工程序中輸入所述校正值。本發明可以在機床上快速檢測出機床實際加工坐標中心和理論加工中心偏差，進而校正加工定位精度，適用于帶轉臺且可以相對轉臺立式加工的設備。

技術領域

本發明涉及數控加工的精度校正技術領域，具體涉及一種機床定位精度偏差的校正方法。

背景技術

目前的數控加工中心，其設置的加工坐標中心受部件使用磨損、加工現場溫度、濕度、壓縮空氣雜質等各類因素影響，通常有較大起伏(根據現場經驗約0.01mm-0.15mm)，從而影響機床的定位精度和加工零件的精度。而目前的零部件特別是航空零部件的精度要求越來越高(如某型零件，要求孔偏差不大于0.015mm)，在工廠內部分設備使用1-2年，精度就已經無法滿足如此高精度零件尺寸的加工要求。

而目前通常的機床校準方法如激光檢測，存在耗時長，檢測周期長，檢測時無法裝夾零件等問題，無法保證機床在加工零件時定位精度和檢測測量值一致，從而無法保證被加工零件的精度要求。在此基礎上，需要提出一種可以在零件加工時簡單校正機床定位精度從而保證加工零件精度滿足要求的方法。

發明內容

有鑒于此，本申請實施例提供一種機床定位精度偏差的校正方法，該方法可以在機床上快速檢測出機床實際加工坐標中心和理論加工中心偏差，進而校正加工定位精度，適用于帶轉臺且可以相對轉臺立式加工的設備。

本申請實施例提供以下技術方案：一種機床定位精度偏差的校正方法，包括以下步驟：

S101、在零件上設置校正基準孔；

S102、將機床轉動θ角度，打表檢測所述基準孔位置，記為所述基準孔坐標Y/X實際值，

S103、根據機床轉動角度θ和所述基準孔的極半徑R，計算得到所述基準孔坐標Y/X理論值；

S104、通過所述基準孔坐標Y/X實際值和所述基準孔坐標Y/X理論值，計算得到機床加工中心相對理論中心的坐標偏差值Y2/X2，該坐標偏差值Y2/X2即為機床當前的定位精度偏差值；

S105、由所述機床當前的定位精度偏差值得到校正值，在坐標系或加工程序中輸入所述校正值。

根據本申請實施例的一種實施方式，S103中，所述基準孔坐標Y/X理論值計算方法如下：

Y理論＝R*COS(θ)；X理論＝R*SIN(θ)。

根據本申請實施例的一種實施方式，S104中，所述的機床加工中心相對理論中心的坐標偏差值Y2/X2通過公式1和公式2計算得到；

公式1：Y2＝(Y差-X差*TAN(90-θ/2))/2；

公式2：X2＝(X差+Y差*TAN(90-θ/2))/2；

其中，Y差＝Y理論-Y實際，X差＝X理論-X實際。

根據本申請實施例的一種實施方式，在步驟S102之前還包括S1011、在機床0度時，打表檢測所述校正基準孔位置度，驗證機床重復精度。

根據本申請實施例的一種實施方式，在步驟S105之后還包括S106、將步驟S102-S105重復操作1-3次，對所述校正值進行驗證。

根據本申請實施例的一種實施方式，在零件上設置校正基準孔時，可在零件任意位置鉆孔作為校正基準孔，或設置帶孔基準塊。