[發(fā)明專利]一種N型摻雜氧化微晶硅、異質(zhì)結(jié)太陽能電池及兩者的制備方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202210480356.4 | 申請(qǐng)日: | 2022-05-05 |
| 公開(公告)號(hào): | CN114843175A | 公開(公告)日: | 2022-08-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 不公告發(fā)明人 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 蘇州聯(lián)諾太陽能科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/205 | 分類號(hào): | H01L21/205;H01L31/0288;H01L31/0368;H01L31/0747;H01L31/18;C23C16/24 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 摻雜 氧化 微晶硅 異質(zhì)結(jié) 太陽能電池 兩者 制備 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種N型摻雜氧化微晶硅、異質(zhì)結(jié)太陽能電池及兩者的制備方法,屬于太陽能電池技術(shù)領(lǐng)域。它包括將硅烷、氫氣、N型摻雜源氣體和一氧化二氮混合進(jìn)行CVD反應(yīng),沉積得到N型摻雜氧化微晶硅;所述N型摻雜源氣體中包括ⅤA族和/或ⅥA族的元素。本發(fā)明能夠有效提高入射光利用率,同時(shí)能夠通過提高N型摻雜氧化微晶硅的結(jié)晶性來提高其導(dǎo)電性,從而提升太陽能電池的轉(zhuǎn)換效率。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于太陽能電池技術(shù)領(lǐng)域,更具體地說,涉及一種N型摻雜氧化微晶硅、異質(zhì)結(jié)太陽能電池及兩者的制備方法。
背景技術(shù)
對(duì)于現(xiàn)有的HJT異質(zhì)結(jié)太陽能電池,其中的N型摻雜層通常會(huì)采用氧化微晶制程工藝制備,N型氧化微晶工藝的優(yōu)點(diǎn)在于可以使高吸收入射光的非晶N層變更為低吸收系數(shù)的微晶氧化N層。而現(xiàn)有的氧化微晶技術(shù)會(huì)使用二氧化碳(CO2)當(dāng)作氧源進(jìn)行摻雜,二氧化碳加入的目的在于使氧化微晶膜增加摻雜氧源,摻雜氧源的目的之一是讓膜層的折射率可調(diào)(折射率n=1.8-3.7),達(dá)到一個(gè)較好的抗光反射的作用,另一個(gè)目的是加入氧的微晶氧化N層可較無氧的微晶N層大幅降低薄膜的吸收系數(shù),進(jìn)而提升電池效率。
但是,N型氧化微晶目前存在的問題是:現(xiàn)有的氧摻雜氣體為二氧化碳,二氧化碳中氧源的加入會(huì)影響微晶N薄膜的結(jié)晶性(拉曼測量),使薄膜結(jié)晶性變低,而結(jié)晶性低了會(huì)直接增加薄膜電阻率。申請(qǐng)人發(fā)現(xiàn),要避免電阻的過度增大,需要將二氧化碳的摻雜比例(CO2/SiH4)控制在0.5-2之間,但即使這樣,在控制二氧化碳的摻雜比例的同時(shí),光學(xué)抗反的折射率區(qū)間(n=2.3~2.9)不容易同時(shí)滿足,進(jìn)而導(dǎo)致電池轉(zhuǎn)化效率降低。
因此,有必要研究一種新的摻雜氧源來應(yīng)對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的不足,以解決或減輕上述問題。
發(fā)明內(nèi)容
1.要解決的問題
針對(duì)現(xiàn)有的N型半導(dǎo)體的氧化微晶技術(shù)難以同時(shí)滿足薄膜電阻率和電池轉(zhuǎn)化效率需求的問題,本發(fā)明提供一種N型摻雜氧化微晶硅、異質(zhì)結(jié)太陽能電池及兩者的制備方法;通過改變摻雜氧源并對(duì)摻雜工藝進(jìn)行改進(jìn),從而有效解決上述問題。
2.技術(shù)方案
為了解決上述問題,本發(fā)明所采用的技術(shù)方案如下:
本發(fā)明的一種N型摻雜氧化微晶硅的制備方法,用于太陽能電池,將硅烷、氫氣、N型摻雜源氣體和一氧化二氮混合進(jìn)行CVD反應(yīng),沉積得到N型摻雜氧化微晶硅;所述N型摻雜源氣體中包括ⅤA族和/或ⅥA族的元素。
對(duì)于N型摻雜源氣體,其作用是向硅中摻雜自由電子,使得薄膜中的自由電子濃度大于空穴濃度。而ⅤA族和/或ⅥA族元素的最外層電子相較于硅元素而言較多,將其氫化物進(jìn)行摻雜均可以滿足N型摻雜的需求,本發(fā)明以磷烷為例,在其他實(shí)施例中還可以是As、S、Se、Te等元素的化合物,對(duì)此不再贅述。
優(yōu)選地,所述一氧化二氮和硅烷的體積比為10%~60%。
優(yōu)選地,所述一氧化二氮和硅烷的體積比為10%~30%。
優(yōu)選地,具體步驟為:
(1)將硅襯底放入CVD設(shè)備的腔體中,再對(duì)CVD設(shè)備抽真空;
(2)按預(yù)定反應(yīng)氣體用量將硅烷、氫氣、N型摻雜源氣體和一氧化二氮通入CVD設(shè)備的真空腔體中;
(3)開啟CVD設(shè)備的電源對(duì)(2)步驟的氣體進(jìn)行解離,形成等離子型態(tài)原子,等離子型態(tài)原子結(jié)合后沉積在硅襯底上,得到N型摻雜氧化微晶硅。
優(yōu)選地,在(2)步驟中,所述硅烷的用量為50sccm~300sccm,所述氫氣的用量為3000sccm~30000sccm,所述一氧化二氮的用量為10sccm~150sccm,所述N型摻雜源氣體包括用量為250sccm~1500sccm的磷烷。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
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H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
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