[發明專利]誤差測量優化方法、裝置、電子設備及可讀存儲介質

有效

• 申請號: 202210478288.8
• 申請日: 2022-05-05
• 公開（公告）號: CN114579933B
• 公開（公告）日: 2022-08-12
• 發明（設計）人: 趙言濤;湯博;汪龍峰;徐虎;王建忠;劉宇軒;劉名成;汪攀
• 申請（專利權）人: 威勝集團有限公司
• 主分類號: G06F17/18
• 分類號: G06F17/18;G06K9/62;G06F17/16;G01R35/02
• 代理公司: 深圳市世紀恒程知識產權代理事務所 44287
• 代理人: 郭子氚

1.一種誤差測量優化方法，其特征在于，所述誤差測量優化方法包括：

根據電容式電壓互感器的信號通道數，確定所述電容式電壓互感器在所述信號通道數對應的各信號通道中二次側的信號測量數據；

通過對所述信號測量數據進行奇異值分解，得到奇異值分解結果，在所述奇異值分解結果中確定主元空間和誤差空間；

依據所述主元空間和所述誤差空間，對所述信號測量數據對應的測量誤差進行修正，得到所述信號測量數據對應的修正測量誤差；

所述奇異值分解結果包括右奇異值矩陣和特征值矩陣，所述在所述奇異值分解結果中確定主元空間和誤差空間的步驟包括：

依據所述特征值矩陣，確定所述電容式電壓互感器的主元數量；

依據所述主元數量和所述電容式電壓互感器對應的信號通道數，在所述右奇異值矩陣中確定主元空間和誤差空間；

所述依據所述主元數量和所述電容式電壓互感器對應的信號通道數，在所述右奇異值矩陣中 確定主元空間和誤差空間的步驟包括：

依據所述主元數量和所述信號通道數，確定主元空間在所述右奇異值矩陣中的第一位置信息以及誤差空間在所述右奇異值矩陣中的第二位置信息；

依據所述第一位置信息，在所述右奇異值矩陣中選取所述主元空間，以及依據所述第二位置信息，在所述右奇異值矩陣中選取所述誤差空間。

2.如權利要求1所述誤差測量優化方法，其特征在于，所述依據所述主元空間和所述誤差空間，對所述信號測量數據對應的測量誤差進行修正，得到所述信號測量數據對應的修正測量誤差的步驟包括：

依據所述誤差空間，獲取所述信號測量數據對應的測量誤差；

依據所述信號測量數據，確定所述測量誤差對應的權重系數；

依據所述權重系數，對所述測量誤差進行修正，得到所述信號測量數據對應的修正測量誤差。

3.如權利要求2所述誤差測量優化方法，其特征在于，所述依據所述誤差空間，獲取所述信號測量數據對應的測量誤差的步驟包括：

對所述誤差空間進行轉置，得到轉置結果；

依據所述誤差空間、所述信號測量數據和所述轉置結果，確定所述信號測量數據對應的測量誤差。

4.如權利要求2所述誤差測量優化方法，其特征在于，所述依據所述信號測量數據，確定所述測量誤差對應的權重系數的步驟包括：

依據各信號通道之間的相關性，確定各所述信號通道的權重分布；

依據所述權重分布，確定所述測量誤差對應的權重系數。

5.如權利要求2所述誤差測量優化方法，其特征在于，所述依據所述權重系數，對所述測量誤差進行修正，得到所述信號測量數據對應的修正測量誤差的步驟包括：

依據所述權重系數，確定所述信號測量數據對應的通道修正值；

依據所述通道修正值，對所述測量誤差進行修正，得到所述信號測量數據對應的修正測量誤差。