[發(fā)明專利]一種芯片驗(yàn)證方法、裝置、電子設(shè)備以及存儲介質(zhì)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202210467033.1
• 申請日: 2022-04-29
• 公開（公告）號: CN114818600A
• 公開（公告）日: 2022-07-29
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 沈煜;胡英俊;徐寧儀
• 申請（專利權(quán)）人: 上海陣量智能科技有限公司
• 主分類號: G06F30/398
• 分類號: G06F30/398;G06N3/063;G06N3/04;G06N3/08
• 代理公司: 北京中知恒瑞知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11889
• 代理人: 袁忠林

1.一種芯片驗(yàn)證方法，其特征在于，包括：

獲取待校驗(yàn)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)；

針對所述待校驗(yàn)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)包括的至少一種原始算子的算子類型，生成與所述算子類型一致的目標(biāo)算子；

利用所述目標(biāo)算子對所述待校驗(yàn)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)中對應(yīng)的原始算子進(jìn)行替換，生成替換后神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)；

利用訓(xùn)練樣本，分別對所述替換后神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)和所述待校驗(yàn)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行訓(xùn)練，得到所述待校驗(yàn)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)對應(yīng)的第一訓(xùn)練結(jié)果、和所述替換后神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)對應(yīng)的第二訓(xùn)練結(jié)果；

基于所述第一訓(xùn)練結(jié)果和所述第二訓(xùn)練結(jié)果，生成待驗(yàn)芯片對應(yīng)的校驗(yàn)結(jié)果。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述針對所述待校驗(yàn)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)包括的至少一種原始算子的算子類型，生成與所述算子類型一致的目標(biāo)算子，包括：

針對所述待校驗(yàn)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)包括的至少一種原始算子的算子類型，生成所述算子類型對應(yīng)的初始算子；

對所述初始算子進(jìn)行測試，生成所述初始算子對應(yīng)的測試結(jié)果；

在所述測試結(jié)果指示為測試不通過的情況下，對所述初始算子進(jìn)行調(diào)整，得到調(diào)整后初始算子；將所述調(diào)整后初始算子作為新的初始算子，返回至對所述初始算子進(jìn)行測試，得到測試結(jié)果的步驟，直至所述調(diào)整后初始算子的測試結(jié)果指示為測試通過；

在所述測試結(jié)果指示為測試通過的情況下，將所述初始算子確定為與所述算子類型一致的目標(biāo)算子。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述對所述初始算子進(jìn)行測試，生成所述初始算子對應(yīng)的測試結(jié)果，包括：

將預(yù)設(shè)特征數(shù)據(jù)輸入至所述初始算子，得到所述初始算子對應(yīng)的第一檢測數(shù)據(jù)；其中，所述第一檢測數(shù)據(jù)包括：在所述預(yù)設(shè)特征數(shù)據(jù)包括輸入特征數(shù)據(jù)時(shí)得到的預(yù)測輸出數(shù)據(jù)，和/或，在所述預(yù)設(shè)特征數(shù)據(jù)包括輸入梯度數(shù)據(jù)時(shí)得到的預(yù)測梯度數(shù)據(jù)；以及

將所述預(yù)設(shè)特征數(shù)據(jù)輸入至與所述初始算子匹配的原始算子，得到所述原始算子對應(yīng)的第二檢測數(shù)據(jù)；

基于所述第一檢測數(shù)據(jù)和所述第二檢測數(shù)據(jù)，生成所述初始算子對應(yīng)的測試結(jié)果。

4.根據(jù)權(quán)利要求1～3任一所述的方法，其特征在于，所述利用所述訓(xùn)練樣本，對所述替換后神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行訓(xùn)練，得到所述替換后神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)對應(yīng)的第二訓(xùn)練結(jié)果，包括：

在選取的訓(xùn)練框架上，利用所述訓(xùn)練樣本，按照所述訓(xùn)練框架指示的第一浮點(diǎn)運(yùn)算方式，對所述替換后神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行訓(xùn)練，得到第一浮點(diǎn)訓(xùn)練結(jié)果；和/或，

在選取的訓(xùn)練框架上，利用所述訓(xùn)練樣本，按照所述待驗(yàn)芯片所使用的第二浮點(diǎn)運(yùn)算方式，對所述替換后神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行訓(xùn)練，得到第二浮點(diǎn)訓(xùn)練結(jié)果；

將所述第一浮點(diǎn)訓(xùn)練結(jié)果和所述第二浮點(diǎn)訓(xùn)練結(jié)果中的至少一種，確定為所述替換后神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)對應(yīng)的第二訓(xùn)練結(jié)果。

5.根據(jù)權(quán)利要求1～4任一所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一訓(xùn)練結(jié)果和所述第二訓(xùn)練結(jié)果，生成所述待驗(yàn)芯片對應(yīng)的校驗(yàn)結(jié)果，包括：

在所述第二訓(xùn)練結(jié)果中的第一浮點(diǎn)訓(xùn)練結(jié)果與所述第一訓(xùn)練結(jié)果之間的第一偏差值小于或等于設(shè)置的第一閾值、且所述第一浮點(diǎn)訓(xùn)練結(jié)果與所述第二訓(xùn)練結(jié)果中的第二浮點(diǎn)訓(xùn)練結(jié)果之間的第二偏差值小于或等于設(shè)置的第二閾值的情況下，生成指示所述待驗(yàn)芯片校驗(yàn)通過的校驗(yàn)結(jié)果；

在所述第一浮點(diǎn)訓(xùn)練結(jié)果與所述第一訓(xùn)練結(jié)果之間的第一偏差值大于設(shè)置的第一閾值、且所述第一浮點(diǎn)訓(xùn)練結(jié)果與所述第二浮點(diǎn)訓(xùn)練結(jié)果之間的第二偏差值小于或等于設(shè)置的第二閾值的情況下，生成指示所述待驗(yàn)芯片的設(shè)計(jì)文件待調(diào)整的校驗(yàn)結(jié)果；

在所述第一浮點(diǎn)訓(xùn)練結(jié)果與所述第一訓(xùn)練結(jié)果之間的第一偏差值小于或等于設(shè)置的第一閾值、且所述第一浮點(diǎn)訓(xùn)練結(jié)果與所述第二浮點(diǎn)訓(xùn)練結(jié)果之間的第二偏差值大于設(shè)置的第二閾值的情況下，生成指示所述待驗(yàn)芯片所使用的浮點(diǎn)數(shù)運(yùn)算方式待調(diào)整的校驗(yàn)結(jié)果；

在所述第一浮點(diǎn)訓(xùn)練結(jié)果與所述第一訓(xùn)練結(jié)果之間的第一偏差值大于設(shè)置的第一閾值、且所述第一浮點(diǎn)訓(xùn)練結(jié)果與所述第二浮點(diǎn)訓(xùn)練結(jié)果之間的第二偏差值大于設(shè)置的第二閾值的情況下，生成指示所述待驗(yàn)芯片所使用的浮點(diǎn)數(shù)運(yùn)算方式和所述設(shè)計(jì)文件待調(diào)整的校驗(yàn)結(jié)果。