[發(fā)明專利]一種內(nèi)存測試方法、裝置和系統(tǒng)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202210467000.7
• 申請日: 2022-04-29
• 公開（公告）號: CN114780316A
• 公開（公告）日: 2022-07-22
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 翟慶偉;王興隆;李金鋒
• 申請（專利權(quán)）人: 蘇州浪潮智能科技有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22;G06F9/54
• 代理公司: 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227
• 代理人: 張倩

本申請實施例公開了一種內(nèi)存測試方法、裝置和系統(tǒng)，BMC接收到測試指令時，向共享內(nèi)存寫入測試指令攜帶的所需測試的目標內(nèi)存的內(nèi)存標識以及測試標識。BIOS在初始化階段，會從共享內(nèi)存中讀取內(nèi)存測試信息；在測試標識屬于開啟內(nèi)存測試標識的情況下，依據(jù)內(nèi)存標識完成內(nèi)存的配置，以對目標內(nèi)存執(zhí)行測試。在測試完成后，BIOS可以將測試過程對應(yīng)的測試日志存放至共享內(nèi)存，以便于BMC從共享內(nèi)存中讀取測試日志，對測試日志解析以得到測試結(jié)果。BIOS在開機階段可以對共享內(nèi)存進行訪問，一次開機便可以完成內(nèi)存的配置和測試，提高了內(nèi)存測試效率。并且BMC可以實現(xiàn)與終端設(shè)備的交互，有效的幫助運維人員及時找到有問題的內(nèi)存。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請涉及服務(wù)器技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種內(nèi)存測試方法、裝置和系統(tǒng)。

背景技術(shù)

在服務(wù)器領(lǐng)域，RMT(Rank Margin Tool)測試是針對內(nèi)存進行的一項重要的穩(wěn)定性測試，它可以充分顯示內(nèi)存的性能情況，幫助運維人員及時篩查出有問題的內(nèi)存。

當前的RMT測試需要依賴于手工插拔內(nèi)存，例如對于Intel whitley平臺滿配32根內(nèi)存，半配16根內(nèi)存，當測試完滿配的數(shù)據(jù)后需要拔掉一半的內(nèi)存，再測試半配的數(shù)據(jù)，而且每次測試完成需要把BIOS(Basic Input Output System，基本輸入輸出系統(tǒng))串口日志拷貝到RMT解析工具上進行解析，得到結(jié)果。整個RMT測試過程較為繁瑣，費時費力導致測試效率低下。而且這種測試方法僅適用于在單臺服務(wù)器上操作，無法對多臺服務(wù)器同時進行批量操作。

可見，如何提升內(nèi)存測試的效率，是本領(lǐng)域技術(shù)人員需要解決的問題。

發(fā)明內(nèi)容

本申請實施例的目的是提供一種內(nèi)存測試方法、裝置和系統(tǒng)，可以提升內(nèi)存測試的效率。

為解決上述技術(shù)問題，本申請實施例提供一種內(nèi)存測試方法，適用于BIOS，所述方法包括：

初始化階段，從共享內(nèi)存中讀取內(nèi)存測試信息；其中，所述內(nèi)存測試信息包括BMC向所述共享內(nèi)存寫入的所需測試的目標內(nèi)存的內(nèi)存標識以及測試標識；

在所述測試標識屬于開啟內(nèi)存測試標識的情況下，依據(jù)所述內(nèi)存標識完成內(nèi)存的配置，以對所述目標內(nèi)存執(zhí)行測試；

在測試完成后，將測試過程對應(yīng)的測試日志存放至所述共享內(nèi)存，以便于所述BMC從所述共享內(nèi)存中獲取測試日志，對所述測試日志解析以得到測試結(jié)果。

可選地，所述依據(jù)所述內(nèi)存標識完成內(nèi)存的配置包括：

將配置項中的內(nèi)存測試開關(guān)調(diào)整為開啟狀態(tài)，將所述目標內(nèi)存調(diào)整為使能狀態(tài)，將除所述目標內(nèi)存外的剩余內(nèi)存調(diào)整為禁用狀態(tài)。

可選地，在所述初始化階段，從共享內(nèi)存中讀取內(nèi)存測試信息之后還包括：

在所述測試標識不屬于開啟內(nèi)存測試標識的情況下，保持所述內(nèi)存測試開關(guān)處于關(guān)閉狀態(tài)，執(zhí)行開機啟動流程。

可選地，在所述將測試過程對應(yīng)的測試日志存放至所述共享內(nèi)存之后還包括：

開機重啟時從所述共享內(nèi)存中讀取內(nèi)存測試信息；

在所述內(nèi)存測試信息與上一次讀取的內(nèi)存測試信息相同的情況下，保持內(nèi)存的狀態(tài)；

在所述內(nèi)存測試信息與上一次讀取的內(nèi)存測試信息不相同的情況下，基于當前讀取的內(nèi)存測試信息調(diào)整內(nèi)存的狀態(tài)。

可選地，在所述初始化階段，從共享內(nèi)存中讀取內(nèi)存測試信息之后還包括：

在所述測試標識不屬于開啟內(nèi)存測試標識的情況下，向BMC反饋未執(zhí)行內(nèi)存測試的響應(yīng)信息。

本申請實施例還提供了一種內(nèi)存測試裝置，適用于BIOS，所述裝置包括讀取單元、配置單元和存放單元；