[發(fā)明專利]顯示面板及顯示裝置

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202210463604.4
• 申請(qǐng)日: 2022-04-28
• 公開（公告）號(hào): CN114725182A
• 公開（公告）日: 2022-07-08
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 孫浩然;張啟沛;李秀妍
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 武漢華星光電半導(dǎo)體顯示技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): H01L27/32
• 分類號(hào): H01L27/32;G09G3/00
• 代理公司: 深圳紫藤知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44570
• 代理人: 呂姝娟

本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N顯示面板及顯示裝置，顯示面板包括：顯示區(qū)，顯示區(qū)開設(shè)有容置孔；像素單元，設(shè)于顯示區(qū)，像素單元包括呈行列排布的像素驅(qū)動(dòng)電路；裂紋阻擋區(qū)，鄰近并環(huán)設(shè)于容置孔；環(huán)形檢測走線，設(shè)于裂紋阻擋區(qū)；環(huán)形檢測走線呈環(huán)狀圍繞于容置孔，環(huán)形檢測走線用以向至少其中一行或一列像素驅(qū)動(dòng)電路提供信號(hào)。當(dāng)顯示區(qū)在容置孔處出現(xiàn)裂紋時(shí)，裂紋會(huì)首先影響環(huán)形檢測走線，從而使環(huán)形檢測走線斷裂，造成像素單元顯示異常。也就是說，檢測人員只需要觀測與環(huán)形檢測走線連接的該行或該列像素單元是否顯示正常即可判斷容置孔處的裂紋是否影響顯示面板的功能，從而可降低對(duì)裂紋的檢測難度。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請(qǐng)屬于顯示技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種顯示面板及顯示裝置。

背景技術(shù)

隨著手機(jī)等顯示裝置全屏化的發(fā)展，如何隱藏前置攝像頭成為一亟待解決的問題。相關(guān)技術(shù)通常采用在顯示面板顯示區(qū)鉆孔放置攝像頭的方法隱藏?cái)z像頭。然而，在顯示面板生產(chǎn)過程中，顯示面板上的鉆孔位置容易出現(xiàn)裂紋，由于該鉆孔位置處還設(shè)置有信號(hào)線，因此鉆孔位置處的裂紋容易造成顯示面板中信號(hào)線的斷裂，從而造成顯示異常；這種顯示異常現(xiàn)象如果在后續(xù)工序沒有及時(shí)檢測出，會(huì)影響顯示面板的出廠合格率。

發(fā)明內(nèi)容

本申請(qǐng)實(shí)施例提供一種顯示面板和顯示裝置，以檢測顯示面板是否因開孔出的裂紋導(dǎo)致功能不良。

第一方面，本申請(qǐng)實(shí)施例提供一種顯示面板，包括：

顯示區(qū)，所述顯示區(qū)開設(shè)有容置孔；

像素單元，設(shè)于所述顯示區(qū)，所述像素單元包括呈行列排布的像素驅(qū)動(dòng)電路；

裂紋阻擋區(qū)，鄰近并環(huán)設(shè)于所述容置孔；

環(huán)形檢測走線，設(shè)于所述裂紋阻擋區(qū)；所述環(huán)形檢測走線呈環(huán)狀圍繞于所述容置孔，所述環(huán)形檢測走線用以向至少其中一行或一列所述像素驅(qū)動(dòng)電路提供信號(hào)。

可選的，所述環(huán)形檢測走線在所述容置孔的周圍繞設(shè)形成多個(gè)檢測圈，每個(gè)所述檢測圈均呈非閉合設(shè)置，相鄰兩所述檢測圈串聯(lián)連接。

可選的，至少兩所述檢測圈的非閉合處在所述容置孔的徑向上相互錯(cuò)位。

可選的，所述顯示面板還包括設(shè)于所述顯示區(qū)的掃描信號(hào)線、EM信號(hào)線和數(shù)據(jù)信號(hào)線，所述數(shù)據(jù)信號(hào)線與所述掃描信號(hào)線縱橫交錯(cuò)，所述EM信號(hào)線與所述掃描信號(hào)線并行設(shè)置；所述數(shù)據(jù)信號(hào)線、掃描信號(hào)線和EM信號(hào)線均與所述像素驅(qū)動(dòng)電路連接；所述環(huán)形檢測走線與所述數(shù)據(jù)信號(hào)線、掃描信號(hào)線或EM信號(hào)線中的至少一根串聯(lián)。

可選的，所述裂紋阻擋區(qū)設(shè)有裂紋阻擋壩，所述裂紋阻擋壩具有導(dǎo)電層，所述環(huán)形檢測走線由所述導(dǎo)電層形成。

可選的，所述裂紋阻擋壩包括依次設(shè)置的第一金屬層、第二金屬層和復(fù)合金屬層；所述第一金屬層與第二金屬層之間、以及所述第二金屬層和復(fù)合金屬層之間設(shè)有絕緣層；所述環(huán)形檢測走線由所述第一金屬層、第二金屬層和復(fù)合金屬層中的一者形成。

可選的，所述第一金屬層和第二金屬層包括鉬、銀、鈦、銅、鋁及其合金中的一種；所述復(fù)合金屬層包括鈦/鋁/鈦。

可選的，所述顯示面板還包括設(shè)于所述顯示區(qū)的封裝液阻擋區(qū)，所述封裝液阻擋區(qū)環(huán)設(shè)于所述容置孔，所述封裝液阻擋區(qū)在徑向上位于所述裂紋阻擋區(qū)遠(yuǎn)離所述容置孔的一側(cè)；所述封裝液阻擋區(qū)設(shè)有封裝液阻擋壩，所述封裝液阻擋壩在垂直于所述顯示面板方向的尺寸大于所述裂紋阻擋壩在垂直于所述顯示面板方向的尺寸

可選的，相鄰兩所述檢測圈的間距設(shè)置為4μm至8μm。

可選的，所述顯示面板還包括框形檢測走線，所述框形檢測走線沿所述顯示面板的邊沿延伸，所述框形檢測走線用以向至少其中一行或一列所述像素驅(qū)動(dòng)電路提供信號(hào)。