[發明專利]Demura補償參數計算方法、裝置及設備

有效

• 申請號: 202210459154.1
• 申請日: 2022-04-28
• 公開（公告）號: CN114582268B
• 公開（公告）日: 2022-07-08
• 發明（設計）人: 聞銘;梅林海
• 申請（專利權）人: 武漢精立電子技術有限公司;武漢精測電子集團股份有限公司
• 主分類號: G09G3/20
• 分類號: G09G3/20;G09G3/32
• 代理公司: 武漢智權專利代理事務所(特殊普通合伙) 42225
• 代理人: 張凱

本發明提供一種Demura補償參數計算方法、裝置及設備。該方法包括：基于全局目標顏色值確定每個像素點經過Demura處理后的模擬顏色值，計算每個像素點對應的模擬顏色值與全局目標顏色值的誤差值；確定待補償面板上每個像素點的相鄰像素點對應的分配系數，并基于所述分配系數以及誤差值，得到每個像素點的相鄰像素點對應的分配值；以每個像素點對應的模擬顏色值以及總分配值的和以及實際顏色值，計算每個像素點對應的Demura補償參數。通過本發明，可減少由于截斷處理帶來的Demura誤差，從而提高了Demura處理效果，保證了顯示面板的亮色度均勻性，提升顯示面板的顯示效果。

技術領域

本發明涉及顯示面板技術領域，尤其涉及一種Demura補償參數計算方法、裝置及設備。

背景技術

是以小尺寸的LED（mini-LED或micro-LED）為獨立發光像素的新型顯示面板，具有響應快、色域廣、亮度高和節能等優點。區別于傳統顯示面板（如LCD）的像素加工工藝，這種新型顯示面板的成像像素具有pickplace和燈珠混合過程，即像素級LED提取（pick）自多片wafer，并對不同波長進行混合后重新安放（place）到顯示面板背板上的過程。因此，這種新型顯示面板具有明顯的亮色度非均勻性，通常需要進行亮色度均勻性校正（Demura）才能將亮色度均勻性提高到一定指標范圍，之后才能正常使用。

現有的Demura處理流程中，在計算每個像素點對應的補償參數時容易有超過[0,1]范圍的值，而處理方式為將超過[0,1]范圍的值進行截斷處理，即出界的值直接用0或1代替，這樣便會導致最終的Demura處理效果不佳，仍有一定程度的亮色度非均勻性殘留。

發明內容

本發明的主要目的在于提供一種Demura補償參數計算方法、裝置及設備，旨在解決現有技術中Demura處理效果不佳，仍有一定程度的亮色度非均勻性殘留的技術問題。

第一方面，本發明提供一種Demura補償參數計算方法，所述Demura補償參數計算方法包括：

基于全局目標顏色值確定每個像素點經過Demura處理后的模擬顏色值，計算每個像素點對應的模擬顏色值與全局目標顏色值的誤差值；

確定待補償面板上每個像素點的相鄰像素點對應的分配系數，并基于所述分配系數以及誤差值，得到每個像素點的相鄰像素點對應的分配值；

以每個像素點對應的模擬顏色值以及總分配值的和作為每個像素點對應的局部目標顏色值；

基于每個像素點對應的局部目標顏色值以及實際顏色值，計算每個像素點對應的Demura補償參數。

可選的，所述確定待補償面板上每個像素點的相鄰像素點對應的分配系數的步驟包括：

基于待補償面板上每個像素點的相鄰像素點的方位，確定相鄰像素點對應的分配系數。

可選的，所述確定待補償面板上每個像素點的相鄰像素點對應的分配系數的步驟包括：

根據待補償面板上每個像素點的相鄰像素點的方位以及相鄰像素點的實際顏色與全局目標顏色的差異值，確定相鄰像素點對應的分配系數。

可選的，水平、豎直方位的相鄰像素點對應的分配系數大于對角線方位的相鄰像素點對應的分配系數。

可選的，所述差異值包括9個通道對應的差異值，所述分配系數包括9個通道對應的分配系數，所述誤差值包括9個通道對應的誤差值，所述9個通道為RGB三原色在XYZ色彩體系下的9個通道。

可選的，所述確定待補償面板上每個像素點的相鄰像素點對應的分配系數的步驟通過并行方式進行。

可選的，在所述基于每個像素點對應的局部目標顏色值以及實際顏色值，計算每個像素點對應的Demura補償參數的步驟之后，還包括：