[發明專利]電子產品、調節裝置及其調節功能的校準方法有效
| 申請號: | 202210449869.9 | 申請日: | 2022-04-27 |
| 公開(公告)號: | CN114554657B | 公開(公告)日: | 2022-07-29 |
| 發明(設計)人: | 呂煌;何守生;謝永康 | 申請(專利權)人: | 泉州艾奇科技有限公司 |
| 主分類號: | G01D5/14 | 分類號: | G01D5/14;H05B47/105;G01R33/02;A61M1/00 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 362000 福建省泉州*** | 國省代碼: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 電子產品 調節 裝置 及其 功能 校準 方法 | ||
1.調節裝置,包括基體、固設于所述基體的磁傳感器和沿預設軌跡可移動地安裝于所述基體的操作件,所述操作件具有永磁體;
所述磁傳感器鄰近所述永磁體的移動軌跡設置,所述調節裝置根據存儲的永磁體位置與磁場參考強度的對應關系,以及根據所述磁傳感器檢測到的磁場強度來確定所述永磁體的位置,進而確定對應的調節功能;
其特征在于:
所述移動軌跡具有依次分布的第一位置、第二位置和第三位置,所述永磁體沿所述移動軌跡從所述第一位置向所述第二位置移動的過程中逐漸靠近所述磁傳感器,所述永磁體沿所述移動軌跡從所述第二位置向所述第三位置移動的過程中逐漸遠離所述磁傳感器;
在所述磁傳感器檢測到的磁場強度出現極值時,所述調節裝置以所述第二位置與所述極值對應為基礎,來校準所述永磁體位置與磁場參考強度的對應關系。
2.根據權利要求1所述的調節裝置,其特征在于:
所述調節裝置根據B2-B2標=Bx-Bx標來將第X位置對應的所述磁場參考強度校準為Bx,其中,B2為所述極值,B2標為本次校準前所述第二位置對應的所述磁場參考強度,Bx標為本次校準前所述第X位置對應的所述磁場參考強度;或
所述調節裝置具有多組備用的所述永磁體位置與磁場參考強度的對應關系,各組所述永磁體位置與磁場參考強度的對應關系對應于不同的所述極值,所述調節裝置以所述磁傳感器當前檢測到的所述極值所對應的所述永磁體位置與磁場參考強度的對應關系,作為校準結果。
3.根據權利要求1所述的調節裝置,其特征在于:
所述第一位置為所述移動軌跡的端部位置;
所述磁傳感器鄰近所述第二位置設置;
所述第三位置為所述移動軌跡的端部位置;
所述磁傳感器包括霍爾傳感器或磁阻傳感器;
所述磁傳感器包括線性磁傳感器;
所述調節裝置以無級調節的方式實現調節功能。
4.根據權利要求1所述的調節裝置,其特征在于:
在所述磁傳感器檢測到的磁場強度出現極值,且所述極值處于預設強度范圍內時,所述調節裝置以所述第二位置與所述極值對應為基礎,來校準所述永磁體位置與磁場參考強度的對應關系;
或在所述磁傳感器檢測到的磁場強度出現極值,且所述永磁體的運動速率大于預設閾值時,所述調節裝置以所述第二位置與所述極值對應為基礎,來校準所述永磁體位置與磁場參考強度的對應關系。
5.根據權利要求1至4任一項所述的調節裝置,其特征在于:
所述移動軌跡還具有第四位置,所述第一位置、所述第二位置、所述第四位置及所述第三位置依次分布,所述第四位置對應的所述磁場參考強度小于或等于所述第一位置對應的所述磁場參考強度;
在所述調節裝置的調節功能處于關閉狀態的情況下,在所述磁傳感器檢測到的磁場強度小于或等于所述第四位置對應的所述磁場參考強度時,所述調節裝置開啟調節功能。
6.根據權利要求5所述的調節裝置,其特征在于:
所述調節裝置僅在所述磁傳感器檢測到的磁場強度小于或等于所述第四位置對應的所述磁場參考強度時,根據所述磁傳感器檢測到的磁場強度來確定對應的調節功能。
7.根據權利要求5所述的調節裝置,其特征在于:
所述移動軌跡在所述第一位置與所述第四位置間的軌跡長度占所述移動軌跡總長度的1/3以下。
8.根據權利要求1至4任一項所述的調節裝置,其特征在于:
所述調節裝置具有預緊件,所述預緊件迫使所述永磁體保持于所述第一位置;
在所述永磁體離開所述第一位置時,所述預緊件的預緊力傾向于迫使所述永磁體沿所述移動軌跡向所述第一位置回位。
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