[發明專利]基于動態步長的模擬電路可靠性仿真方法在審
| 申請號: | 202210444048.6 | 申請日: | 2022-04-25 |
| 公開(公告)號: | CN114692542A | 公開(公告)日: | 2022-07-01 |
| 發明(設計)人: | 李聰;董嘯宇;呂松松;成善霖;游海龍 | 申請(專利權)人: | 西安電子科技大學 |
| 主分類號: | G06F30/367 | 分類號: | G06F30/367;G06F17/10;G06F119/02;G06F119/12 |
| 代理公司: | 陜西電子工業專利中心 61205 | 代理人: | 王品華 |
| 地址: | 710071*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 動態 步長 模擬 電路 可靠性 仿真 方法 | ||
1.一種基于動態步長的模擬電路可靠性仿真方法,其特征在于,包括:
(1)從電路仿真輸入文件中讀取設定的退化時間Tage及s個步長h1,h2,…,hi,…,hs;
(2)計算初始步長時間:t0=T/s,并將其賦值給各步長,使得每一個步長hi=t0;
(3)輸入器件退化模型函數:ΔVth(t)=A(Vg,Vd,T,L…)tn,并計算退化模型函數隨時間的退化速率函數:
f(t)=A(Vg,Vd,T,L…)*n*tn-1
其中ΔVth為器件退化參數,t為退化時間,n為擬合參數,A(Vg,Vd,T,L…)為可靠性仿真所需要的器件應力和參數的函數;Vg為器件所受柵壓,Vd為器件所受漏壓,T為仿真溫度,L為器件溝長;
(4)通過器件退化函數在不同時刻的退化速率對s個值為t0的步長h1,h2,…,hs進行放縮計算,得到一組動態步長w1,w2,…,wi,…,ws:
w1=2t0*([f(s*t0)]2/([f(s*t0)]2+[f(1*t0)]2))
w2=2t0*([f((s-1)*t0)]2/([f((s-1)*t0)]2+[f(2*t0)]2))
...
wi=2t0*([f((s-i+1)*t0)]2/([f((s-i+1)*t0)]2+[f(i*t0)]2))
...
ws=2t0*([f((s-s+1)*t0)]2/([f((s-s+1)*t0)]2+[f(s*t0)]2));
(5)執行模擬電路可靠性仿真:
(5a)利用可靠性仿真工具對模擬電路進行瞬態仿真,得到電路中器件所受應力的數據,從應力數據和電路網表中讀取模型參數,并通過器件退化模型函數ΔVth(t)計算得到第一個步長w1時間的器件退化參數,并將器件退化參數反饋回電路網表文件,得到一次更新的電路網表文件;
(5b)利用上述新的電路網表文件執行第二步瞬態仿真,得到電路中器件所受應力的數據,通過該應力數據和從電路網表讀取的模型參數計算得到前兩個步長(w1+w2)時間的器件退化參數,將該器件退化參數反饋回電路網表文件,得到二次更新的電路網表文件;
(5c)依次類推,重復上述可靠性仿真過程,計算得到前s個步長時間的器件退化參數,并將退化參數反饋回電路網表文件,得到s次更新的電路網表文件;
(5d)利用s次更新的電路網表文件,對模擬電路執行最后一次仿真,得到時間的電路性能退化量,根據該退化量對電路的可靠性做出預測。
2.如權利要求1所述的方法,其特征在于,所述(1)中的步長數量s,是在仿真輸入文件中確定好的固定參數,不會因為步長算法增加或減少,其作為后續可靠性瞬態仿真執行的次數。
3.如權利要求1的方法,其特征在于,所述(5a)中的電路網表文件,為電路仿真所需的輸入文件,包含目標仿真電路的電路結構,模型庫,仿真條件,可靠性仿真參數等。
4.如權利要求1的方法,其特征在于,所述(5c)中通過計算得到的s個動態步長的時間之和其值與輸入的退化時間Tage一致。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于西安電子科技大學,未經西安電子科技大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202210444048.6/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





