[發明專利]一種樣品芯片的電流測試系統

在審

• 申請號: 202210443704.0
• 申請日: 2022-04-25
• 公開（公告）號: CN114910736A
• 公開（公告）日: 2022-08-16
• 發明（設計）人: 陳尚立
• 申請（專利權）人: 深圳市中科藍訊科技股份有限公司
• 主分類號: G01R31/01
• 分類號: G01R31/01;G01R31/28;G01R31/30;G01R19/00;H01L21/66;H03M1/12
• 代理公司: 深圳市六加知識產權代理有限公司 44372
• 代理人: 常雪瑩

本發明實施方式公開了一種樣品芯片的電流測試系統，該系統包括：主控制終端、與主控制終端通信連接的級聯單元以及與級聯單元通信連接的若干個測試單元；其中，主控制終端用于下發采樣指令和對采樣電流進行數據處理；級聯單元包括若干個子控制器；若干個子控制器級聯連接以擴展測試通道的數量；每個測試單元具有多條相互獨立的測試通道，用于獲取位于測試通道的樣品芯片的采樣電流；其中，主控制終端下發的采樣指令經由所述級聯單元傳遞至對應的測試單元；采樣電流經由級聯單元傳遞至主控制終端進行數據處理。通過上述方式，本發明實施方式能夠在燒錄階段批量測試樣品芯片的功耗，避免了電流超標的不良樣品芯片進入下一生產階段，降低了返工成本。

技術領域

本發明實施方式涉及芯片測試領域，特別是涉及一種樣品芯片的電流測試系統。

背景技術

在芯片封裝完成前后，需要對芯片的相關電性特性功能進行測試。但是方案商對PCBA進行燒錄，或者對芯片進行燒錄時，通常不會在燒錄階段對芯片的功耗(電流)進行測試，這會使得部分比例的功耗超標的芯片流入下一生產環節，在成品測試才發現問題，最終增加返工成本。因此，在燒錄階段，增加芯片的功耗篩選測試是很有必要的。

發明內容

為解決上述技術問題，本發明實施方式采用的一個技術方案是：提供一種樣品芯片的電流測試系統，包括：主控制終端、與所述主控制終端通信連接的級聯單元以及與所述級聯單元通信連接的若干個測試單元；所述主控制終端用于下發采樣指令和對采樣電流進行數據處理；所述級聯單元包括若干個子控制器；若干個所述子控制器級聯連接以擴展測試通道的數量；每個所述測試單元具有多條相互獨立的測試通道，用于獲取位于所述測試通道的樣品芯片的采樣電流；其中，所述主控制終端下發的采樣指令經由所述級聯單元傳遞至對應的測試單元；所述采樣電流經由所述級聯單元傳遞至所述主控制終端進行數據處理。

在一些實施例中，所述級聯單元包括：第一子控制器、第二子控制器以及第三子控制器；其中，第一子控制器級聯四個第二子控制器；每個第二子控制器級聯兩個第三子控制器；所述第一子控制器與所述主控制終端通信連接，每個所述第三自控制器與一個所述測試單元通信連接。

在一些實施例中，每個所述測試單元包括：一個采樣電路以及多個相互獨立的供電電路；所述采樣電路用于獲取所述樣品芯片的采樣電流。

在一些實施例中，所述供電電路包括：第一開關管、穩壓芯片、第一電阻、第二電阻、第三電阻、第一電容和第二電容，其中，所述穩壓芯片的第一端分別連接至輸入電源的輸出端和所述第一電容的一端，所述第一電容的第二端接地；所述穩壓芯片的第二端接地；所述穩壓芯片的第五端為輸出端，分別連接至所述第一電阻的第一端和所述第二電容的第一端，所述第二電容的第二端接地，所述第一電阻的第二端分別連接至所述第二電阻的第一端和所述第三電阻的第一端，所述第二電阻的第二端連接至所述第一開關管的漏極，所述第三電阻的第二端接地；所述穩壓芯片的第四端連接至所述第一電阻和所述第二電阻所連接形成的第一連接節點；所述第一開關管的源極接地；所述第一開關管的柵極用于接收供電控制信號。

在一些實施例中，在所述第一開關管導通時所述穩壓芯片的第五端輸出第一電壓；在所述第一開關管截止時，所述穩壓芯片的第五端輸出第二電壓。

在一些實施例中，所述采樣電路為基于采樣電阻的電流采樣電路；其中，所述采樣電阻的阻值可變。

在一些實施例中，所述采樣電路包括：采樣芯片、第二開關管、第三開關管、第四電阻、第五電阻和第六電阻，其中，所述第二開關管的源極分別連接至所述第四電阻的第一端和供電電路的輸出端，所述第二開關管的柵極分別連接至所述四電阻的第二端和所述第三開關管的集電極；所述第三開關管的發射極接地；所述第二開關管的漏極連接至所述第五電阻的第一端，所述第五電阻的第二端分別連接至所述第六電阻的第一端和所述采樣芯片；所述第六電阻的第二端分別連接至所述供電電路的輸出端和所述采樣芯片。