[發明專利]一種零件檢測方法、裝置、設備及存儲介質

在審

• 申請號: 202210439747.1
• 申請日: 2022-04-25
• 公開（公告）號: CN114841943A
• 公開（公告）日: 2022-08-02
• 發明（設計）人: 陳琛;陳凱旋;劉桂強;趙艷明;趙志;嚴憲澤
• 申請（專利權）人: 浙江大華智聯有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/60;G06V10/25;G06V10/48;G06V10/75;G06V10/82;G06N3/04
• 代理公司: 北京同達信恒知識產權代理有限公司 11291
• 代理人: 趙凱莉

1.一種零件檢測方法，其特征在于，所述方法包括：

根據圖像采集設備對目標零件進行圖像采集，獲取所述目標零件的采集圖像；

對所述采集圖像進行圖像處理，確定所述目標零件在所述采集圖像中的圖像尺寸信息；

根據對所述圖像采集設備進行標定而獲得的物像比，對所述采集圖像中所述目標零件的圖像尺寸信息進行大小調整，獲得所述目標零件的實際尺寸信息；所述實際尺寸信息包括所述目標零件的實際形狀和實際尺寸；

將所述目標零件的實際尺寸信息與設計尺寸信息進行比對，獲得所述目標零件的檢測結果；所述實際尺寸信息包括所述目標零件的設計形狀和設計尺寸。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

根據所述采集圖像的長寬尺寸，生成設計圖像對應的背景圖像；

根據所述物像比，對所述目標零件的設計尺寸信息進行大小調整，以在所述背景圖像中生成所述目標零件對應的標準形狀圖，獲得所述目標零件的設計圖像；其中，所述設計圖像中僅包含所述目標零件的邊緣。

3.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述對所述采集圖像進行圖像處理，確定所述目標零件在所述采集圖像中的圖像尺寸信息，包括：

對所述采集圖像進行去噪處理，獲得所述目標零件的第一圖像；

對所述第一圖像進行校正處理，獲得所述目標零件的第二圖像；

對所述第二圖像進行二值化處理，獲得所述目標零件的第三圖像；

根據所述第三圖像，確定所述目標零件在所述采集圖像中的圖像尺寸信息。

4.如權利要求3所述的方法，其特征在于，對所述第一圖像進行校正處理，獲得所述目標零件的第二圖像，包括：

根據所述第一圖像中各個像素點的像素值以及小于預設像素值的像素點個數，獲得各個像素點各自對應的中間像素值；

根據所述第一圖像中各個像素點的像素值與各自對應的中間像素值之間的像素差值，以及預設校正系數，對所述第一圖像中各個像素點的像素值進行校正處理，獲得所述目標零件的第二圖像。

5.如權利要求3所述的方法，其特征在于，所述根據所述第三圖像，確定所述目標零件在所述采集圖像中的圖像尺寸信息，包括：

對所述第三圖像進行腐蝕處理，獲得所述目標零件的第四圖像；

將所述第四圖像中各個像素點的像素值與所述第三圖像中相應的各個像素點的像素值進行相減，獲得所述目標零件的第五圖像；

采用骨骼提取法對所述第五圖像進行處理，獲得所述目標零件的第六圖像；

根據所述第六圖像，確定所述目標零件在所述采集圖像中的圖像尺寸信息。

6.如權利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

將所述第六圖像與所述設計圖像進行匹配，確定所述第六圖像對應的匹配旋轉中心、匹配旋轉角度以及匹配平移向量；

根據所述匹配旋轉中心、所述匹配旋轉角度以及所述匹配平移向量，調整所述第六圖像中所述目標零件的位置。

7.如權利要求6所述的方法，其特征在于，所述將所述第六圖像與所述設計圖像進行匹配，確定所述第六圖像對應的匹配旋轉中心、匹配旋轉角度以及匹配平移向量，包括：

分別確定所述第六圖像和所述設計圖像中各自對應的所述目標零件的最小外接矩形中心；

根據所述第六圖像和所述設計圖像中各自對應的所述目標零件的最小外接矩形中心，確定所述匹配平移向量；

將所述設計圖像中的零件邊緣進行膨脹處理，計算所述第六圖像中目標零件的邊緣像素點與膨脹后的設計圖像中目標零件的邊緣像素點的重合個數；

根據所述重合個數，確定所述第六圖像對應的匹配旋轉中心和匹配旋轉角度。