[發(fā)明專利]一種高壓輸入檢測(cè)電路在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202210439577.7 | 申請(qǐng)日: | 2022-04-25 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN114859259A | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-08-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 徐國(guó)林;華明;顧文明;郭文君;姜帆 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第十四研究所 |
| 主分類號(hào): | G01R31/40 | 分類號(hào): | G01R31/40;G01R19/165;G01R15/14 |
| 代理公司: | 南京知識(shí)律師事務(wù)所 32207 | 代理人: | 康翔;高嬌陽(yáng) |
| 地址: | 210039 江*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 高壓 輸入 檢測(cè) 電路 | ||
本發(fā)明公開(kāi)了一種高壓輸入檢測(cè)電路,設(shè)計(jì)輔助源電路和基準(zhǔn)電壓電路利用高壓輸入供電,采樣電路和跟隨限壓電路限制采樣電壓,輸入輸出分壓電路精準(zhǔn)設(shè)定過(guò)欠壓保護(hù)點(diǎn),過(guò)欠壓檢測(cè)電路和磁滯保護(hù)電路防止保護(hù)點(diǎn)附近的信號(hào)振蕩,過(guò)欠壓隔離電路和輸出電路被光耦隔離,避免高壓端的干擾電平影響后級(jí)電路,通斷控制電路保護(hù)后級(jí)電路。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于電子電路技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種電源檢測(cè)技術(shù)。
背景技術(shù)
目前供電系統(tǒng)中,為減少傳輸損耗,高壓供電母線應(yīng)用越來(lái)越普遍。母線上掛接各種負(fù)載,母線負(fù)載功率波動(dòng)的情況下,如螺旋槳、伺服機(jī)構(gòu)等,會(huì)引起輸入高壓母線電壓的波動(dòng)。大電壓會(huì)引起后級(jí)電源工作不正常,甚至損壞設(shè)備。母線上高電壓波動(dòng)、大電流突變等,會(huì)導(dǎo)致電源輸入部分電磁環(huán)境惡劣。在電源體積及重量要求很苛刻的情況下,需要研制一種既可以精確判斷輸入電壓過(guò)壓與欠壓狀態(tài)、又可以在高壓強(qiáng)干擾環(huán)境下可靠工作的電路。
目前對(duì)輸入電壓的檢測(cè),一般采用電阻網(wǎng)絡(luò)采集電源輸入電壓信號(hào),然后送入控制器判別。這種方式簡(jiǎn)單易行,但是在高壓強(qiáng)干擾環(huán)境下,芯片易受到干擾,工作可靠性會(huì)有一定問(wèn)題。如果外加輔助及屏蔽措施,又會(huì)帶來(lái)設(shè)計(jì)上的復(fù)雜度。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明為了解決現(xiàn)有技術(shù)存在的問(wèn)題,提出了一種高壓輸入檢測(cè)電路,用模擬電路隔離輸出過(guò)欠壓信號(hào),為了實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明采用了以下技術(shù)方案。
采樣電路:高壓輸入的正端Vin連接電阻R3,R3的另一端連接電阻R4,R4的另一端連接電阻R5,R5的另一端接地,電容C2和R5并聯(lián),R4與R5的中間抽頭輸出采樣電壓。
基準(zhǔn)電壓電路:電源VCC1連接電阻R6,R6的另一端連接精密基準(zhǔn)源N2的陰極和觸發(fā)極,N2的陽(yáng)極接地,電容C3并聯(lián)在N2的觸發(fā)極和陽(yáng)極之間,N2的觸發(fā)極輸出基準(zhǔn)電壓。
過(guò)壓檢測(cè)電路:采樣電壓輸入運(yùn)放N1B的同相端,基準(zhǔn)電壓經(jīng)電阻R9輸入N1B的負(fù)相端,N1B由VCC1供電,N1B比較采樣電壓和基準(zhǔn)電壓,輸出過(guò)壓信號(hào)。
過(guò)壓隔離電路:過(guò)壓信號(hào)輸入三極管Q1的基極,Q1和三極管Q2共射極接地,Q1的集電極連接Q2的基極和電阻R13,R13的另一端連接電阻R14,R14的另一端連接光耦電路N3的原邊陽(yáng)極,N3的原邊陰極連接Q2的集電極,R13和R14的中間抽頭連接VCC1。
過(guò)壓輸出電路:N3的付邊和三極管Q5共射極接信號(hào)地,N3的付邊集電極連接Q5的基極和電阻R23,R23的另一端連接電阻R24,R24的另一端連接Q5的集電極,電容C8并聯(lián)在N3的付邊集電極和發(fā)射極之間,R25并聯(lián)在Q5的基極和發(fā)射極之間,R23和R24的中間抽頭連接后級(jí)電路電源VCC2,過(guò)壓時(shí),Q5的集電極抽頭輸出低電平。
欠壓檢測(cè)電路:采樣電壓輸入運(yùn)放N1C的負(fù)相端,基準(zhǔn)電壓經(jīng)電阻R17輸入N1C的同相端,N1C由VCC1供電,N1C比較采樣電壓和基準(zhǔn)電壓,輸出欠壓信號(hào)。
欠壓隔離電路:欠壓信號(hào)輸入三極管Q3的基極,Q3和三極管Q4共射極接地,Q3的集電極連接Q4的基極和電阻R21,R21的另一端連接電阻R22,R22的另一端連接光耦電路N4的原邊陽(yáng)極,N4的原邊陰極連接Q4的集電極,R21和R22的中間抽頭連接VCC1。
欠壓輸出電路:N4的付邊和三極管Q6共射極接信號(hào)地,N4的付邊集電極連接Q6的基極和電阻R26,R26的另一端連接電阻R27,R27的另一端連接Q6的集電極,電容C9并聯(lián)在N4的付邊集電極和發(fā)射極之間,R28并聯(lián)在Q6的基極和發(fā)射極之間,R26和R27的中間抽頭連接后級(jí)電路電源VCC2,欠壓時(shí),Q6的集電極抽頭輸出低電平。
對(duì)上述電路進(jìn)一步改造,增加了以下電路。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第十四研究所,未經(jīng)中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第十四研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202210439577.7/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





