[發明專利]AOI缺陷檢測方法、裝置和設備及計算機介質

在審

• 申請號: 202210438414.7
• 申請日: 2022-04-25
• 公開（公告）號: CN114897801A
• 公開（公告）日: 2022-08-12
• 發明（設計）人: 徐康;陳洪
• 申請（專利權）人: 武漢精立電子技術有限公司;武漢精測電子集團股份有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/11;G06K9/62;G06V10/764
• 代理公司: 武漢東喻專利代理事務所(普通合伙) 42224
• 代理人: 張英

1.一種AOI缺陷檢測方法，其特征在于，包括：

獲取待檢測圖像并進行ROI區域粗定位；

基于語義分割模型對粗定位的ROI區域進行分割得到高精度區域；

基于所述高精度區域分別進行檢測模型預測和語義分割模型預測，分別得到缺陷區域的外接矩形區域和輪廓區域；

將所述檢測模型預測和所述語義分割模型預測的結果進行融合后輸出；

利用分類模型對輸出的融合結果進行篩選得到目標缺陷檢測結果。

2.如權利要求1所述的AOI缺陷檢測方法，其特征在于，所述基于語義分割模型對粗定位的ROI區域進行分割得到高精度區域，包括：

利用深度學習語義分割模型對所述粗定位的ROI區域的四個角塊區域進行分割得到四個角點，根據所述四個角點進行ROI區域透視變換得到所述高精度區域。

3.如權利要求1所述的AOI缺陷檢測方法，其特征在于，所述將所述檢測模型預測和所述語義分割模型預測的結果進行融合后輸出，包括：

對所述檢測模型結果和所述分割模型結果進行判斷，當所述檢測模型結果為空，所述分割模型結果為空，則輸出為空；當所述檢測模型結果為空，所述分割模型結果不為空，則輸出所述分割模型結果；當所述檢測模型結果不為空，所述分割模型結果為空，則輸出所述檢測模型結果；當所述檢測模型結果不為空，所述分割模型結果不為空，則對于同一缺陷類別重合的區域，輸出所述分割模型結果并將所述檢測模型的置信度賦值給該缺陷，其余不重合區域的所述分割模型結果和所述檢測模型結果均作為輸出。

4.如權利要求1所述的AOI缺陷檢測方法，其特征在于，所述利用分類模型對融合結果進行篩選，包括：

通過分類模型對所述檢測模型和所述分割模型的融合結果進行二分類判斷，屬于缺陷的判定為NG，屬于誤檢的判定為OK，將判定為NG的所有結果作為本步驟的輸出。

5.如權利要求4所述的AOI缺陷檢測方法，其特征在于，在所述利用分類模型對融合結果進行篩選之后，還包括：

設置預設參數閾值對所述二分類判斷得到的缺陷結果進行篩選，得到滿足規格的缺陷檢測結果；其中，所述預設參數指標包括：寬度、高度、面積、對比度中的一者或多者。

6.一種AOI缺陷檢測裝置，其特征在于，包括：

粗定位模塊，用于獲取待檢測圖像并進行ROI區域粗定位；

高精度區域分割模塊，用于基于語義分割模型對粗定位的ROI區域進行分割得到高精度區域；

模型預測模塊，用于基于所述高精度區域分別進行檢測模型預測和語義分割模型預測，分別得到缺陷區域的外接矩形區域和輪廓區域；

結果融合模塊，用于將所述檢測模型預測和所述語義分割模型預測的結果進行融合后輸出；

檢測結果得到模塊，用于利用分類模型對輸出的融合結果進行篩選得到目標缺陷檢測結果。

7.如權利要求6所述的AOI缺陷檢測裝置，其特征在于，還包括：

模型預測結果判斷模塊，用于對所述檢測模型結果和所述分割模型結果進行判斷，當所述檢測模型結果為空，所述分割模型結果為空，則輸出為空；當所述檢測模型結果為空，所述分割模型結果不為空，則輸出所述分割模型結果；當所述檢測模型結果不為空，所述分割模型結果為空，則輸出所述檢測模型結果；當所述檢測模型結果不為空，所述分割模型結果不為空，則對于同一缺陷類別重合的區域，輸出所述分割模型結果并將所述檢測模型的置信度賦值給該缺陷，其余不重合區域的所述分割模型結果和所述檢測模型結果均作為輸出。

8.如權利要求6所述的AOI缺陷檢測裝置，其特征在于，還包括：

閾值設置模塊，用于設置預設參數閾值對所述二分類判斷得到的缺陷結果進行篩選，得到滿足規格的缺陷檢測結果；其中，所述預設參數指標包括：寬度、高度、面積、對比度中的一者或多者。