[發明專利]一種高架斷面限界測量裝置及其測量方法

在審

• 申請號: 202210437414.5
• 申請日: 2022-04-22
• 公開（公告）號: CN115031641A
• 公開（公告）日: 2022-09-09
• 發明（設計）人: 孫士通;王永峰;楊彬;林飛;魏衛華;史國強
• 申請（專利權）人: 杭州市勘測設計研究院有限公司
• 主分類號: G01B11/03
• 分類號: G01B11/03;G01B11/06
• 代理公司: 北京維正專利代理有限公司 11508
• 代理人: 苑新民

本發明公開一種高架斷面限界測量裝置及其測量方法，涉及工程測量的技術領域，其包括全站儀、配合全站儀使用的棱鏡組件以及架設棱鏡組件的架設組件，所述棱鏡組件至少包括一組小棱鏡，所述架設組件包括靠板，所述小棱鏡的腳端設于靠板上，且小棱鏡可沿靠板的長度方向位移。首先當側墻成型后，將靠尺背離小棱鏡的一側貼靠側墻內側，移動小棱鏡至設計高度位置，啟動全站儀，全站儀搜索小棱鏡位置，并測設小棱鏡的三維坐標，通過推算高架斷面實測值與設計值，進而評價高架斷面的高程偏差和凈寬偏差。本申請具有改善高架斷面限界測量精度和測量效率的效果。

技術領域

本發明涉及工程測量的技術領域，尤其是涉及一種高架斷面限界測量裝置及其測量方法。

背景技術

建筑限界是指，為保證各種交通的正常運行與安全，而規定的與交通線路中心線垂直的極限橫斷面輪廓，是根據行車車輛、道路附屬設備以及其他服務系統所需空間制定的。在此輪廓內，除行車車輛及與行車車輛有相互作用的設備外，不允許有任何設施及障礙物侵入。

例如，地鐵施工時需要測量高架斷面限界，評價高架斷面限界主要有兩個代表值，一是設計凈高，設計凈高是指設計底板頂面至設計軌面線的距離，二是設計凈寬，設計凈寬是指設計側墻內壁至設計中心線的距離。

測量地鐵高架斷面限界時，相關技術是利用全站儀無棱鏡模式測量，直接測取高架斷面上各測點，實測值經推算后與斷面限界進行對比，評價實際與設計的偏差。

然而，全站儀無棱模式鏡測量有如下缺點：相對平滑的高架側墻表面，常規全站儀無棱鏡測量模式，不易測設測點坐標，且誤差大。

因此，設計一種提高測量精度和測量效率的裝置，對于高架斷面限界來說具有重要意義。

發明內容

為了改善高架斷面限界的測量精度和測量效率，本申請提供一種高架斷面限界測量裝置及其測量方法。

一種高架斷面限界測量裝置，其包括全站儀、配合全站儀使用的棱鏡組件以及架設棱鏡組件的架設組件，所述棱鏡組件至少包括一組小棱鏡，所述架設組件包括靠板，所述小棱鏡的腳端設于靠板上，且小棱鏡可沿靠板的長度方向位移。

通過采用上述技術方案，首先當側墻成型后，將靠尺背離小棱鏡的一側貼靠側墻內側，移動小棱鏡至設計高度位置，啟動全站儀，全站儀搜索小棱鏡位置，并測設小棱鏡的三維坐標，小棱鏡的高程，即為小棱鏡測設的縱向坐標值，量取小棱鏡的棱鏡高，小棱鏡測設的縱向坐標值與棱鏡高之差，即為橋梁底板實測高程，一般地，橋梁底板設計高程即可評價相關技術中的設計凈高，對比橋梁底板實測高程與設計高程，并以此評價高架斷面限界的高程偏差；

將測設的小棱鏡平面坐標展點至CAD設計總平圖，自測點向設計線路作垂距，即向高架斷面限界的中心線作垂距，該垂距于CAD設計總平圖中可量取，量取的垂距與小棱鏡至側墻內壁的固定距離作和，后與相關技術中的設計凈寬對比，并以此評價高架斷面限界的凈寬偏差；

其次針對未完成的側墻，需要放樣邊線時，將靠板設立放樣邊線處，重復前述測量及計算步驟，得出的實測值與設計值進行對比校準，提高本方案的功能性和實用性；

又因小棱鏡可沿靠板的長度方向位移，故可以測量計算不同要求的建筑限界，同時采用小棱鏡與全站儀的配合使用，自動搜索小棱鏡位置、延長測距、降低作業環境影響、減少多次設站，并提高測量作業效率和精度。

可選的，所述靠板長度方向還設有與小棱鏡配合使用的刻度板。

通過采用上述技術方案，刻度板可以方便小棱鏡定位初始位置，后續的沿靠板長度方向的位移時，可以直觀調整并記錄具體值。

可選的，所述棱鏡組件還包括強制連接桿和磁鐵塊，所述強制連接桿一端與磁鐵塊固定，所述小棱鏡的腳端通過磁鐵塊與靠板吸固。

通過采用上述技術方案，一方面小棱鏡可以通過強制連接桿與磁鐵塊吸固在靠板上，另一方面可以通過移動磁鐵塊在靠板的位置，實現小棱鏡不同高程測設的要求。