[發明專利]電流檢測裝置及其封裝結構在審
| 申請號: | 202210433947.6 | 申請日: | 2022-04-24 |
| 公開(公告)號: | CN114705902A | 公開(公告)日: | 2022-07-05 |
| 發明(設計)人: | 王雄星 | 申請(專利權)人: | 上海興感半導體有限公司 |
| 主分類號: | G01R19/00 | 分類號: | G01R19/00;G01R15/14;G01R1/04;G01R1/02 |
| 代理公司: | 上海盈盛知識產權代理事務所(普通合伙) 31294 | 代理人: | 孫佳胤 |
| 地址: | 201203 上海市浦東新*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 電流 檢測 裝置 及其 封裝 結構 | ||
1.一種電流檢測裝置,其特征在于,包括:
電流檢測芯片,所述電流檢測芯片包括一線路面和一硅基材面,所述線路面上包括預先制備的芯片線路;
導電圖形,設置在所述電流檢測芯片的線路面上,用于通過檢測電流;
絕緣層,設置在所述電流檢測芯片的線路面與所述導電圖形之間,以形成所述電流檢測芯片與導電圖形之間的電隔離;
磁傳感器,設置在所述導電圖形的縫隙中,與所述電流檢測芯片配合用于電流檢測,以監測導電圖形中的電流變化。
2.根據權利要求1所述的電流檢測裝置,其特征在于,所述導電圖形采用H型導電圖形,所述磁傳感器的數量為兩個,所述磁傳感器分別設置在所述導電圖形的H型縫隙中。
3.根據權利要求1所述的電流檢測裝置,其特征在于,所述導電圖形采用U型導電圖形,所述磁傳感器的數量為一個,所述磁傳感器設置在所述導電圖形的U型縫隙中。
4.根據權利要求1所述的電流檢測裝置,其特征在于,所述導電圖形采用U型導電圖形,所述磁傳感器的數量為兩個,所述磁傳感器一個設置在所述導電圖形的U型縫隙中;另一個設置在所述導電圖形的U型邊緣外。
5.根據權利要求1所述的電流檢測裝置,其特征在于,所述絕緣層表面還包括多個芯片引腳,所述芯片引腳穿過絕緣層連接到所述電流檢測芯片的線路面,與芯片線路電連接。
6.根據權利要求1所述的電流檢測裝置,其特征在于,所述導電圖形邊緣與所述磁傳感器邊緣距離7μm-12μm。
7.根據權利要求1所述的電流檢測裝置,其特征在于,所述導電圖形的阻抗為1mΩ-10mΩ。
8.根據權利要求1所述的電流檢測裝置,其特征在于,所述絕緣層采用的絕緣材料包括光刻膠。
9.一種電流檢測裝置的封裝結構,采用權利要求1-8任意一項所述的電流檢測裝置,其特征在于,包括:
絕緣基板;
電流檢測芯片,所述電流檢測芯片包括一線路面和一硅基材面,所述線路面上包括預先制備的芯片線路,所述電流檢測芯片的硅基材面固定在所述絕緣基板上;
導電圖形,設置在所述電流檢測芯片的線路面上,用于通過檢測電流;
絕緣層,設置在所述電流檢測芯片的線路面與所述導電圖形之間,以形成所述電流檢測芯片與導電圖形之間的電隔離;
磁傳感器,設置在所述導電圖形的縫隙中,與所述電流檢測芯片配合用于電流檢測,以監測導電圖形中的電流變化;
多個框架引腳,所述框架引腳分別連接所述導電圖形和電流檢測芯片。
10.根據權利要求9所述的電流檢測裝置的封裝結構,所述框架引腳包括原邊框架引腳和副邊框架引腳,所述原邊框架引腳連接所述導電圖形,用于通過原邊電流;所述副邊框架引腳連接所述電流檢測芯片,用于通過副邊電流。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于上海興感半導體有限公司,未經上海興感半導體有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202210433947.6/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





