[發(fā)明專利]半導(dǎo)體裝置結(jié)構(gòu)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202210429953.4 | 申請日: | 2022-04-22 |
| 公開(公告)號: | CN115084022A | 公開(公告)日: | 2022-09-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 陳定業(yè);李威養(yǎng);林家彬 | 申請(專利權(quán))人: | 臺灣積體電路制造股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/8234 | 分類號: | H01L21/8234;H01L27/088 |
| 代理公司: | 隆天知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 72003 | 代理人: | 閆華 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 臺灣;71 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體 裝置 結(jié)構(gòu) | ||
一種半導(dǎo)體裝置結(jié)構(gòu),包含多個通道結(jié)構(gòu)的堆疊于半導(dǎo)體鰭片上方,以及柵極堆疊包繞此些通道結(jié)構(gòu)。半導(dǎo)體裝置結(jié)構(gòu)同樣包含源極/漏極外延結(jié)構(gòu)相鄰于此些通道結(jié)構(gòu),以及隔離結(jié)構(gòu)環(huán)繞半導(dǎo)體鰭片。半導(dǎo)體鰭片的突出部分自隔離結(jié)構(gòu)的頂表面突出。半導(dǎo)體裝置結(jié)構(gòu)還包含嵌入外延結(jié)構(gòu)相鄰于半導(dǎo)體鰭片的突出部分的第一側(cè)表面。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明實施例涉及一種半導(dǎo)體裝置結(jié)構(gòu),尤其涉及一種嵌入(embedded)外延結(jié)構(gòu)。
背景技術(shù)
半導(dǎo)體集成電路(integrated circuit;IC)產(chǎn)業(yè)經(jīng)歷了快速成長。現(xiàn)代科技在集成電路材料與設(shè)計上的進(jìn)步已產(chǎn)生了好幾世代的集成電路,其中每一世代與上一世代相比都具有更小、更復(fù)雜的電路。
在集成電路的發(fā)展過程中,功能密度(functional density)(也就是說,單位芯片面積的互連裝置數(shù)目)大抵上會增加而幾何尺寸(geometry size)(也就是說,可使用制造工藝生產(chǎn)的最小元件(或線))卻減少。此微縮化的過程總體上會增加生產(chǎn)效率并降低相關(guān)成本而提供助益。
然而,此微縮化的進(jìn)步增加了集成電路加工和制造的復(fù)雜度。由于集成電路部件尺寸不斷縮小,集成電路的制造工藝也不斷變得更難以執(zhí)行。因此,如何以越來越小的尺寸形成可靠的半導(dǎo)體裝置仍是一個挑戰(zhàn)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明實施例提供一種半導(dǎo)體裝置結(jié)構(gòu),包括多個通道結(jié)構(gòu)的堆疊,于半導(dǎo)體鰭片上方;柵極堆疊,包繞此些通道結(jié)構(gòu);源極/漏極外延結(jié)構(gòu),相鄰于此些通道結(jié)構(gòu);隔離結(jié)構(gòu),環(huán)繞半導(dǎo)體鰭片,其中半導(dǎo)體鰭片的突出部分自隔離結(jié)構(gòu)的頂表面突出;以及嵌入外延結(jié)構(gòu),相鄰于半導(dǎo)體鰭片的突出部分的第一側(cè)表面。
本發(fā)明實施例提供一種半導(dǎo)體裝置結(jié)構(gòu),包括通道結(jié)構(gòu),于半導(dǎo)體鰭片上方;柵極堆疊,包繞通道結(jié)構(gòu);第一外延結(jié)構(gòu),連接至通道結(jié)構(gòu);隔離結(jié)構(gòu),環(huán)繞半導(dǎo)體鰭片;以及第二外延結(jié)構(gòu),自半導(dǎo)體鰭片的側(cè)表面延伸,其中第一外延結(jié)構(gòu)與第二外延結(jié)構(gòu)垂直地重疊。
本發(fā)明實施例提供一種半導(dǎo)體裝置結(jié)構(gòu)的形成方法,包括形成鰭片結(jié)構(gòu)于半導(dǎo)體基板上方;使用隔離結(jié)構(gòu)環(huán)繞鰭片結(jié)構(gòu)的下部;形成柵極堆疊橫跨鰭片結(jié)構(gòu)的一部分;部分地移除隔離結(jié)構(gòu)以露出鰭片結(jié)構(gòu)的下部的側(cè)表面;形成第一外延結(jié)構(gòu)于鰭片結(jié)構(gòu)上;以及形成第二外延結(jié)構(gòu)于鰭片結(jié)構(gòu)的下部的側(cè)表面上。
附圖說明
由以下的詳細(xì)敘述配合所附附圖,可最好地理解本發(fā)明實施例。應(yīng)注意的是,依據(jù)在業(yè)界的標(biāo)準(zhǔn)做法,各種特征并未按照比例繪制且僅用于說明。事實上,可任意地放大或縮小各種元件的尺寸,以清楚地表現(xiàn)出本發(fā)明實施例的特征。
圖1A以及圖1B是根據(jù)一些實施例,示出形成半導(dǎo)體裝置結(jié)構(gòu)的一部分的工藝的各種階段的俯視示意圖。
圖2A、圖2B、圖2C以及圖2D是根據(jù)一些實施例,示出形成半導(dǎo)體裝置結(jié)構(gòu)的一部分的工藝的各種階段的剖面示意圖。
圖3A、圖3B、圖3C、圖3D、圖3E、圖3F、圖3G、圖3H、圖3I、圖3J以及圖3K是根據(jù)一些實施例,示出形成半導(dǎo)體裝置結(jié)構(gòu)的一部分的工藝的各種階段的剖面示意圖。
圖4A、圖4B、圖4C、圖4D以及圖4E是根據(jù)一些實施例,示出形成半導(dǎo)體裝置結(jié)構(gòu)的一部分的工藝的各種階段的剖面示意圖。
圖5是根據(jù)一些實施例,示出形成半導(dǎo)體裝置結(jié)構(gòu)的一部分的工藝的中間階段的剖面示意圖。
圖6是根據(jù)一些實施例,示出形成半導(dǎo)體裝置結(jié)構(gòu)的一部分的工藝的中間階段的剖面示意圖。
圖7是根據(jù)一些實施例,示出形成半導(dǎo)體裝置結(jié)構(gòu)的一部分的工藝的中間階段的剖面示意圖。
圖8是根據(jù)一些實施例,示出半導(dǎo)體裝置結(jié)構(gòu)的一部分的俯視示意圖。
圖9A、圖9B、圖9C以及圖9D是根據(jù)一些實施例,各自示出半導(dǎo)體裝置結(jié)構(gòu)的嵌入外延結(jié)構(gòu)的側(cè)視示意圖。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于臺灣積體電路制造股份有限公司,未經(jīng)臺灣積體電路制造股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202210429953.4/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
- 卡片結(jié)構(gòu)、插座結(jié)構(gòu)及其組合結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)平臺結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)支撐結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)支撐結(jié)構(gòu)
- 單元結(jié)構(gòu)、結(jié)構(gòu)部件和夾層結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)扶梯結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)隔墻結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)連接結(jié)構(gòu)
- 螺紋結(jié)構(gòu)、螺孔結(jié)構(gòu)、機(jī)械結(jié)構(gòu)和光學(xué)結(jié)構(gòu)
- 螺紋結(jié)構(gòu)、螺孔結(jié)構(gòu)、機(jī)械結(jié)構(gòu)和光學(xué)結(jié)構(gòu)





