[發(fā)明專利]一種物理實驗光屏成像分析方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202210429530.2
• 申請日: 2022-04-22
• 公開（公告）號: CN114881942A
• 公開（公告）日: 2022-08-09
• 發(fā)明（設計）人: 劉利非;劉凱;鄭德欣
• 申請（專利權）人: 上海錫鼎智能科技有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00
• 代理公司: 上海和華啟核知識產(chǎn)權代理有限公司 31339
• 代理人: 王仙子

1.一種物理實驗光屏成像分析方法，其特征在于，包括如下步驟：

采集圖像并輸入；

獲取輸入的所述圖像中的光屏圖；

獲取所述光屏圖中的成像圖；

根據(jù)所述成像圖判斷成像清晰度、大小及虛實。

2.如權利要求1所述的物理實驗光屏成像分析方法，其特征在于，獲取所述光屏圖的具體步驟為：

將輸入的所述圖像經(jīng)尺寸調整和填充處理到統(tǒng)一尺寸；

將統(tǒng)一尺寸處理后的圖像進行歸一化預處理；

對歸一化預處理后的圖像進行目標檢測以對光屏進行矩形框選；

對框選的區(qū)域進行外擴后的摳圖以得到光屏圖。

3.如權利要求2所述的物理實驗光屏成像分析方法，其特征在于，所述圖像的目標檢測采用目標檢測網(wǎng)絡。

4.如權利要求1所述的物理實驗光屏成像分析方法，其特征在于，獲取所述成像圖的具體步驟為：

將所述光屏圖調整至固定尺寸；

將調整后的光屏圖進行歸一化處理；

對歸一化處理后的圖像進行關鍵點檢測并根據(jù)檢測的關鍵點得到仿射變換矩陣；

根據(jù)得到的所述仿射變換矩陣對輸入的所述圖像進行仿射變換，投影得到正視圖；

對所述正視圖做HSV顏色空間閾值處理，得到成像的發(fā)光輪廓；

在發(fā)光輪廓外擬合最小外接矩形框，得到成像圖。

5.如權利要求4所述的物理實驗光屏成像分析方法，其特征在于，所述圖像的關鍵點檢測采用關鍵點回歸網(wǎng)絡。

6.如權利要求1所述的物理實驗光屏成像分析方法，其特征在于，所述成像清晰度判斷的具體步驟為：

對成像圖進行灰度化處理得到灰度圖；

對灰度圖進行拉普拉斯變換；

統(tǒng)計拉普拉斯變換得到的方差判斷成像清晰度。

7.如權利要求1所述的物理實驗光屏成像分析方法，其特征在于，所述成像大小判斷的具體步驟為：

將成像圖的高度與預設的閾值進行對比判斷成像的大小。

8.如權利要求1所述的物理實驗光屏成像分析方法，其特征在于，所述成像虛實判斷的具體步驟為：

將正視圖HSV顏色空間閾值處理后剩余面積與預設的閾值進行對比判斷成像的虛實。

9.一種計算機可讀存儲介質，所述計算機可讀存儲介質上存儲有計算機程序，其特征在于，所述計算機程序被處理器運行時執(zhí)行如權利要求1-8中任一項所述的物理實驗光屏成像分析方法。