[發明專利]巖體結構面的測量方法、裝置、系統和計算機設備

有效

• 申請號: 202210429138.8
• 申請日: 2022-04-22
• 公開（公告）號: CN114858213B
• 公開（公告）日: 2023-03-24
• 發明（設計）人: 王明陽;王聰聰;王恩志;劉曉麗;盧宇杭;劉馳;王芳
• 申請（專利權）人: 清華大學
• 主分類號: G01D21/02
• 分類號: G01D21/02;G05D1/10
• 代理公司: 北京華進京聯知識產權代理有限公司 11606
• 代理人: 樊春燕

本申請涉及一種巖體結構面的測量方法、裝置、系統、計算機設備、存儲介質和計算機程序產品。所述方法包括：獲取目標作業區域內的各目標巖體對應的位置信息和目標圖像信息；根據所述各目標巖體對應的位置信息和目標圖像信息，確定所述各目標巖體對應的測量設備；所述測量設備包括機器人和無人機；針對對應的測量設備為機器人的目標巖體，控制所述機器人測量所述目標巖體，得到第一測量信息；針對對應的測量設備為無人機的目標巖體，控制所述無人機測量所述目標巖體，得到第二測量信息；根據所述第一測量信息和所述第二測量信息，得到所述各目標巖體對應的巖體結構面測量結果。采用本方法能夠提高巖體結構面測量的測量效率。

技術領域

本申請涉及地質勘探技術領域，特別是涉及一種巖體結構面的測量方法、裝置、系統、計算機設備、存儲介質和計算機程序產品。

背景技術

地質填圖是指在野外實地觀察研究的基礎上，按一定比例尺將各種地質體和地質現象填繪在地理底圖上而構成地質圖的工作過程。地質填圖需要對調查區內的巖體露頭的產狀、結構、破碎程度、風化程度進行描述。而對巖體露頭的產狀進行描述，則需要對巖體結構面進行測量。

目前常用的巖體結構面的測量方法為測量人員在測量現場使用地面測量設備對巖體結構面進行定點的平面測量。

然而，目前常用的巖體結構面的測量方法在一處測量對象時需要測量人員使用固定腳架固定測量設備，在測量另一處的測量對象時需要測量人員移動測量設備和腳架等固定裝置，并在另一處使用固定腳架固定測量設備。因此，目前常用的巖體結構面的測量方法需要大量的時間定點和移動，巖體結構面的測量時間長，測量效率低下。

發明內容

基于此，有必要針對上述技術問題，提供一種能夠提高測量效率的巖體結構面的測量方法、裝置、系統、計算機設備、計算機可讀存儲介質和計算機程序產品。

第一方面，本申請提供了一種巖體結構面的測量方法。所述方法包括：

獲取目標作業區域內的各目標巖體對應的位置信息和目標圖像信息；

根據所述各目標巖體對應的位置信息和目標圖像信息，確定所述各目標巖體對應的測量設備；所述測量設備包括機器人和無人機；

針對對應的測量設備為機器人的目標巖體，控制所述機器人測量所述目標巖體，得到第一測量信息；

針對對應的測量設備為無人機的目標巖體，控制所述無人機測量所述目標巖體，得到第二測量信息；

根據所述第一測量信息和所述第二測量信息，得到所述各目標巖體對應的巖體結構面測量結果。

在其中一個實施例中，所述根據所述各目標巖體對應的位置信息和目標圖像信息，確定所述各目標巖體對應的測量設備包括：

針對每一個目標巖體，根據所述目標巖體的位置信息，確定所述目標巖體的高度信息；

將所述目標巖體的目標圖像信息輸入至預先訓練的特征提取模型，得到所述目標巖體的坡度信息和破碎程度信息；

根據所述目標巖體的高度信息、坡度信息和破碎程度信息，確定所述目標巖體對應的測量設備。

在其中一個實施例中，所述針對對應的測量設備為機器人的目標巖體，控制所述機器人測量所述目標巖體，得到第一測量信息包括：

根據所述各目標巖體的位置信息，規劃測量路線；

針對對應的測量設備為機器人的目標巖體，根據所述測量路線，控制所述機器人行駛并測量所述目標巖體，得到第一測量信息；

所述針對對應的測量設備為無人機的目標巖體，控制所述無人機測量所述目標巖體，得到第二測量信息包括：