[發明專利]基于腦磁圖檢測精神病高危綜合征異常神經振蕩的方法、裝置、處理器及其存儲介質

在審

• 申請號: 202210423451.0
• 申請日: 2022-04-21
• 公開（公告）號: CN114903486A
• 公開（公告）日: 2022-08-16
• 發明（設計）人: 胡業剛;王繼軍;張天宏;巫珺;趙遠橋;唐曉晨;唐鶯瑩
• 申請（專利權）人: 上海市精神衛生中心（上海市心理咨詢培訓中心）
• 主分類號: A61B5/245
• 分類號: A61B5/245
• 代理公司: 上海智信專利代理有限公司 31002
• 代理人: 王潔;鄭暄

1.一種基于腦磁圖檢測精神病高危綜合征異常神經振蕩的方法，其特征在于，所述的方法包括以下步驟：

(1)采用前驅綜合征結構化訪談量表，以面對面訪談的形式對受試者進行精神病高危綜合征評估；

(2)根據評估結果獲取對應的精神病高危人群的腦磁圖數據，并對其進行數據預處理，用于提高腦磁圖信號的質量；

(3)對經過預處理后的所述的腦磁圖數據進行時頻分析，獲取精神病高危人群的神經振蕩異常頻段；

(4)對所述的神經振蕩異常頻段進行腦磁圖源定位處理，以獲得最終的腦磁圖檢測結果。

2.根據權利要求1所述的基于腦磁圖檢測精神病高危綜合征異常神經振蕩的方法，其特征在于，所述的步驟(1)具體為：

(1.1)采用前驅綜合征結構化訪談量表，通過面對面訪談的形式確定所述的受試者是否符合臨床高危狀態標準，如果符合，則進入步驟(1.2)，否則，不進行評估處理；

(1.2)對當前所述的受試者進行精神病高危綜合征評估處理。

3.根據權利要求2所述的基于腦磁圖檢測精神病高危綜合征異常神經振蕩的方法，其特征在于，所述的精神病高危綜合征評估處理將進行四種癥狀的評估，包括：

陽性癥狀，采用SIPS量表P1-P5類別進行評估；

陰性癥狀，采用SIPS量表N1-N6類別進行評估；

解體癥狀，采用SIPS量表D1-D4類別進行評估；以及

一般性癥狀，采用SIPS量表G1-G4類別進行評估。

4.根據權利要求2所述的基于腦磁圖檢測精神病高危綜合征異常神經振蕩的方法，其特征在于，所述的步驟(2)具體為：

(2.1)根據評估結果，獲取連續的腦磁圖閉眼靜息態數據，并按照預設時間間隔進行分段處理；

(2.2)使用0.5-60Hz的帶通濾波器和50Hz的去工頻濾波對經過分段處理后的信號進行濾波處理；

(2.3)并采用獨立成分分析，去除濾波信號中的眼動偽跡和心電偽跡。

5.根據權利要求4所述的基于腦磁圖檢測精神病高危綜合征異常神經振蕩的方法，其特征在于，所述的步驟(3)具體為：

(3.1)采用基于漢寧窗的多窗譜分析時頻變換，對高危綜合征和健康人群進行對比時頻分析，同時對能量譜的值進行歸一化處理，并設置相同的呈現閾值；

(3.2)通過對比兩組的時頻分析結果，獲得精神病高危人群的神經振蕩異常頻段。

6.根據權利要求5所述的基于腦磁圖檢測精神病高危綜合征異常神經振蕩的方法，其特征在于，所述的步驟(4)具體為：

(4.1)根據獲取到的神經振蕩異常頻段，進行受試者個體頭模型創建；

(4.2)采用邊界元方法對所述的個體頭模型進行正問題求解，所述的邊界元方法具體為：

計算非均勻導體中電流源的電勢V＝TV₀，其中T為轉移矩陣，V₀為電位向量，表示形式為：

其中第i個網格點位置r_i、r_j位置處的偶極子電流為C_j，傳導率為α；

(4.3)對所述的個體頭模型進行反問題求解，并通過精確低分辨率腦電磁層析成像進行估計處理；

(4.4)根據處理結果，進行最終的腦磁圖源的繪制和顯示。

7.根據權利要求6所述的基于腦磁圖檢測精神病高危綜合征異常神經振蕩的方法，其特征在于，所述的步驟(4.1)具體為：

(4.1.1)讀取受試者的個體MRI核磁共振成像中的T1圖像數據；

(4.1.2)體素分割，將所述的個體MRI核磁共振成像與腦磁圖坐標系配準，三維重建頭模，并應用參數為5毫米的空間間隔對所述的三維重建頭模進行體素分割；

(4.1.3)頭模型創建，應用半真實頭部模型，從受試者所述的個體MRI核磁共振成像中提取出外部大腦表面，在分割解剖所述的MRI核磁共振成像后，通過頂點和三角形的形式描述大腦表面，計算出單殼頭模型。