[發明專利]泡沫溢流量檢測方法、裝置、電子設備及介質有效
| 申請號: | 202210418116.1 | 申請日: | 2022-04-21 |
| 公開(公告)號: | CN114519715B | 公開(公告)日: | 2022-07-15 |
| 發明(設計)人: | 陸博;王慶凱;鄒國斌;王旭;高嵩;郭振宇;余剛;廉鏡民 | 申請(專利權)人: | 礦冶科技集團有限公司 |
| 主分類號: | G06T7/00 | 分類號: | G06T7/00;G06T7/10;G01F1/661 |
| 代理公司: | 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 馬澤偉 |
| 地址: | 100160 北京市豐臺區*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 泡沫 溢流 檢測 方法 裝置 電子設備 介質 | ||
1.一種泡沫溢流量檢測方法,其特征在于,包括:
通過激光器對泡沫導流槽進行連續掃描,獲取所述泡沫導流槽的深度圖;
將所述深度圖分割為多個泡沫特征子圖,并基于所述泡沫特征子圖提取特征參數;其中,所述泡沫特征子圖包括:兩個溢流區子圖、兩個導流區子圖和一個匯流區子圖;
基于所述特征參數計算泡沫溢流量;
基于所述特征參數計算泡沫溢流量,包括:按照以下公式計算泡沫溢流量:
其中,
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,基于所述泡沫特征子圖提取特征參數,包括:
確定所述溢流區子圖對應的均值數組和像素點均值;
基于所述均值數組,采用預設算法,確定第一特征值和第一參數;其中,所述第一特征值用于表征溢流趨勢;
基于所述像素點均值,確定第二特征值;其中,所述第二特征值用于表征溢流區泡沫高度。
3.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,基于所述泡沫特征子圖提取特征參數,還包括:
基于所述第一特征值和所述第一參數,對所述溢流區子圖的像素值進行變換,得到變換結果;
基于所述變換結果,確定第三特征值;其中,所述第三特征值用于表征浮選泡沫的大小。
4.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,基于所述泡沫特征子圖提取特征參數,還包括:
將所述導流區子圖和所述匯流區子圖進行拼接,得到拼接圖像;
基于所述拼接圖像和預先標定的臨時掃描背景圖像,確定第四特征參數;其中,所述第四特征參數用于表征流出泡沫的體積。
5.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,基于所述泡沫特征子圖提取特征參數,還包括:
基于預先確定的四值化分割閾值,將所述匯流區子圖轉換為四值圖;
將所述四值圖進行灰度共生矩陣變換,得到泡沫紋理特征矩陣;
基于所述泡沫紋理特征矩陣,確定第五特征值;其中,所述第五特征值用于表征泡沫溢流堰流速。
6.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:
當所述泡沫導流槽處于空槽狀態時,獲取泡沫導流區和泡沫匯流區的圖像作為原始背景圖像;
當泡沫處于泡沫溢流區時,若所述泡沫匯流區的像素點滿足預設條件,則將所述泡沫導流區和所述泡沫匯流區的圖像作為臨時掃描背景圖像。
7.一種泡沫溢流量檢測裝置,其特征在于,包括:處理裝置和安裝在浮選機泡沫導流槽末端、匯流槽前上方的激光器;
所述激光器用于對所述泡沫導流槽進行掃描;
所述處理裝置用于采用權利要求1至6任一項所述的方法的步驟進行泡沫溢流量檢測。
8.一種電子設備,其特征在于,包括處理器和存儲器,所述存儲器存儲有能夠被所述處理器執行的計算機可執行指令,所述處理器執行所述計算機可執行指令以實現權利要求1至6任一項所述的方法的步驟。
9.一種計算機可讀存儲介質,所述計算機可讀存儲介質上存儲有計算機程序,其特征在于,所述計算機程序被處理器運行時執行上述權利要求1至6任一項所述的方法的步驟。
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