[發明專利]對復合料帶的隔膜進行缺陷檢測的方法、裝置、系統

在審

• 申請號: 202210405574.1
• 申請日: 2022-04-18
• 公開（公告）號: CN115829907A
• 公開（公告）日: 2023-03-21
• 發明（設計）人: 趙柏全;胡軍;李紅圓;謝險峰;雷揚
• 申請（專利權）人: 寧德時代新能源科技股份有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/13;G06V10/25;G06V10/764;H01M10/0583;H01M10/0525;G01N21/88
• 代理公司: 北京市漢坤律師事務所 11602
• 代理人: 魏小薇;吳麗麗

1.一種對復合料帶的隔膜進行缺陷檢測的方法，其特征在于，包括：

獲取所述復合料帶的連續圖像；

針對所述復合料帶的所述連續圖像，從中截取出至少一個圖像分片，其中，所述圖像分片包括隔膜區；以及

針對所述隔膜區進行檢測。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述圖像分片還包括被所述隔膜區圍繞的極片本體區、多個極耳凸出區以及與所述隔膜區鄰接的背景區，所述方法還包括：

從所述圖像分片中提取出所述隔膜區。

3.如權利要求2所述的方法，其特征在于，從所述圖像分片中提取出所述隔膜區，包括：

基于所述背景區的最大灰度閾值，從所述圖像分片中去除所述背景區，得到第一中間圖像；

從所述第一中間圖像中提取出與其邊緣相內接的最大矩形區域的圖像作為第二中間圖像；以及

基于所述極片本體區的最大灰度閾值，從所述第二中間圖像中去除呈矩形的所述極片本體區，得到所述隔膜區。

4.如權利要求1所述的方法，其特征在于，針對所述隔膜區進行檢測，包括：確定所述隔膜區是否包括疑似缺陷區。

5.如權利要求4所述的方法，其特征在于，確定所述隔膜區是否包括疑似缺陷區，包括：

響應于確定所述隔膜區包括異常像素集合，基于所述異常像素集合，得到至少一個獨立聯通的異常像素子集，其中，所述異常像素集合的每個像素的灰度小于所述隔膜區的最小灰度閾值；以及

針對每個所述異常像素子集，響應于確定所述異常像素子集的面積大于面積閾值，確定所述隔膜區包括疑似缺陷區。

6.如權利要求5所述的方法，其特征在于，針對所述隔膜區進行檢測，包括：

基于所述疑似缺陷區的幾何特征信息，確定所述疑似缺陷區對應的疑似缺陷類型，其中，所述疑似缺陷類型包括疑似破損或疑似褶皺。

7.如權利要求5所述的方法，其特征在于，針對所述隔膜區進行檢測，包括：

基于所述疑似缺陷區的圖像信息以及隔膜缺陷樣本庫中的至少一個隔膜缺陷樣本的圖像信息，確定所述疑似缺陷區的置信度；以及

響應于確定所述置信度大于置信度閾值，確定所述疑似缺陷區為缺陷區。

8.如權利要求1所述的方法，其特征在于，獲取所述復合料帶的連續圖像，包括：

針對所述復合料帶的每一側表面，獲取由線掃相機拍攝的連續圖像。

9.如權利要求1至8中任一項所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：輸出檢測結果，其中，

所述檢測結果包括以下至少一個：缺陷區在所述圖像分片中的定位信息、缺陷區的幾何特征信息、所述圖像分片對應在所述復合料帶上的定位信息、所述隔膜存在缺陷的報警信息，以及缺陷的類型，其中，所述缺陷的類型包括破損或褶皺。

10.一種對復合料帶的隔膜進行缺陷檢測的裝置，其特征在于，包括：

獲取單元，用于獲取所述復合料帶的連續圖像；

提取單元，用于針對所述復合料帶的所述連續圖像，從中截取出至少一個圖像分片，其中，所述圖像分片包括隔膜區；以及

檢測單元，用于針對所述隔膜區進行檢測。

11.一種電子設備，其特征在于，包括至少一個處理器以及與所述至少一個處理器通信連接的存儲器，其中，

所述存儲器存儲有可被所述至少一個處理器執行的指令，所述指令被所述至少一個處理器執行，以使所述至少一個處理器能夠執行權利要求1至9中任一項所述的方法。