[發(fā)明專利]一種基于機(jī)器視覺(jué)的磁棒端面缺陷檢測(cè)方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202210401316.6
• 申請(qǐng)日: 2022-04-15
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN114994072A
• 公開(kāi)（公告）日: 2022-09-02
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 虞佳佳;周延鎖;周揚(yáng);黃文廣;袁鑫宏;張秋杰;倪良亮;沈燁超
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 浙江機(jī)電職業(yè)技術(shù)學(xué)院
• 主分類號(hào): G01N21/95
• 分類號(hào): G01N21/95;G01B11/00;G01B11/24
• 代理公司: 杭州賽科專利代理事務(wù)所(普通合伙) 33230
• 代理人: 宋飛燕

1.一種基于機(jī)器視覺(jué)的磁棒端面缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，包括以下步驟：

獲取磁棒端面圖像，并提取磁棒端面輪廓；

基于磁棒端面輪廓的最大連通曲線擬合端面圓；

輪詢計(jì)算輪廓點(diǎn)與端面圓間的距離差，獲得邊緣缺陷信息圖；

基于邊緣缺陷信息圖判斷磁棒端面是否存在缺陷。

2.如權(quán)利要求1所述的一種基于機(jī)器視覺(jué)的磁棒端面缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，所述提取磁棒輪廓為，對(duì)磁棒端面圖像進(jìn)行圖像分割，對(duì)分割圖像進(jìn)行邊緣檢測(cè)，得到磁棒端面輪廓。

3.如權(quán)利要求2所述的一種基于機(jī)器視覺(jué)的磁棒端面缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，所述磁棒端面圖像通過(guò)閾值分割算法進(jìn)行圖像分割。

4.如權(quán)利要求3所述的一種基于機(jī)器視覺(jué)的磁棒端面缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，所述閾值分割算法包括以下步驟：

計(jì)算磁棒端面圖像的灰度直方圖，將灰度直方圖中波峰位置和波谷位置的灰度值分別作為灰度值上限Gray_max和灰度值下限Gray_min；

基于閾值分割表達(dá)式進(jìn)行圖像分割，所述閾值分割表達(dá)式為Q＝{(x，y)∈D|Gray_min≤f_(x，y)≤Gray_max}，Q旨在磁棒端面圖像中灰度值處于Gray_min和Gray_max之間的像素點(diǎn)，D表示為圖像域范圍，f(x，y)表示磁棒端面圖像中橫坐標(biāo)x、縱坐標(biāo)y上的灰度值，Gray_min為灰度值下限，Gray_max為灰度值上限。

5.如權(quán)利要求2所述的一種基于機(jī)器視覺(jué)的磁棒端面缺陷檢測(cè)方法，

其特征在于，所述分割圖像通過(guò)Canny算法進(jìn)行邊緣檢測(cè)，得到磁棒輪廓。

6.如權(quán)利要求2所述的一種基于機(jī)器視覺(jué)的磁棒端面缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，所述的對(duì)磁棒端面圖像進(jìn)行圖像分割后，對(duì)分割圖像去噪，對(duì)去噪后的分割圖像進(jìn)行邊緣檢測(cè)。

7.如權(quán)利要求6所述的一種基于機(jī)器視覺(jué)的磁棒端面缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，去噪方法為對(duì)分割圖像進(jìn)行開(kāi)運(yùn)算。

8.如權(quán)利要求1所述的一種基于機(jī)器視覺(jué)的磁棒端面缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，所述基于磁棒端面輪廓的最大連通曲線擬合端面圓為：

對(duì)磁棒端面輪廓二次開(kāi)運(yùn)算，獲取修正后的磁棒端面輪廓，并進(jìn)行圓擬合，得到擬合的端面圓。

9.如權(quán)利要求1所述的一種基于機(jī)器視覺(jué)的磁棒端面缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，所述輪詢計(jì)算輪廓點(diǎn)與端面圓間的距離差為：

計(jì)算各輪廓點(diǎn)與端面圓間的最小距離，基于所有最小距離獲取邊緣缺陷信息圖。