[發(fā)明專利]一種電路柜的檢測方法及設(shè)備

在審

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• 申請日: 2022-04-12
• 公開（公告）號: CN114859080A
• 公開（公告）日: 2022-08-05
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 葉乃呂
• 申請（專利權(quán)）人: 廈門精遠(yuǎn)電子有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R31/28
• 代理公司: 福州順升知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 35242
• 代理人: 鄭耀敏

1.一種電路柜的檢測方法及設(shè)備，其特征在于：包括步驟1：安裝測試柜；步驟2：根據(jù)所需測量的功能將測試控制單元安裝在柜體中，讓測試單元代替儀器；步驟3：將機(jī)構(gòu)功能測試插口安裝在柜體上，同時(shí)將機(jī)構(gòu)功能測試插口與測試控制單元電連接；步驟4：將電路柜(20)的插頭插接在機(jī)構(gòu)功能測試插口中；步驟5：打開測試開關(guān)，對電路柜(20)進(jìn)行測試。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電路柜的檢測方法及設(shè)備，其特征在于：所述測試控制單元包括電回路測試控制單元(4)，所述機(jī)構(gòu)功能測試測試插口包括電回路測試插口(8)，所述電回路測試控制單元(4)與電回路測試插口(8)電連接。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電路柜的檢測方法及設(shè)備，其特征在于：所述測試控制單元包括連鎖回路測試控制單元(5)，所述機(jī)構(gòu)功能測試測試插口包括連鎖回路測試插口(9)，所述連鎖回路測試控制單元(5)與連鎖回路測試插口(9)電連接。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電路柜的檢測方法及設(shè)備，其特征在于：所述測試控制單元包括電路設(shè)計(jì)回路測試控制單元(6)，所述機(jī)構(gòu)功能測試測試插口包括電路設(shè)計(jì)回路測試插口(10)，所述電路設(shè)計(jì)回路測試控制單元(6)與電路設(shè)計(jì)回路測試插口(10)電連接。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電路柜的檢測方法及設(shè)備，其特征在于：所述殼體(1)上設(shè)置有空氣開關(guān)(17)，所述空氣開關(guān)(17)與測試控制單元電連接。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種電路柜的檢測方法及設(shè)備，其特征在于：所述殼體(1)上設(shè)置有指示燈(18)，所述指示燈(18)與控制單元電連接，電路測試正常時(shí)，所述指示燈(18)發(fā)光。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種電路柜的檢測方法及設(shè)備，其特征在于：所述殼體(1)下表面設(shè)置有萬向輪(19)。