[發明專利]信號測試方法、裝置、片上系統、電子設備及存儲介質

有效

• 申請號: 202210375705.6
• 申請日: 2022-04-11
• 公開（公告）號: CN114443400B
• 公開（公告）日: 2022-08-02
• 發明（設計）人: 楊培宇;杜艷;王興珍;王家興;陳才
• 申請（專利權）人: 飛騰信息技術有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22;G06F11/263;G06F13/40;G06F13/42
• 代理公司: 北京布瑞知識產權代理有限公司 11505
• 代理人: 駱宗力

本說明書提供了一種信號測試方法、裝置、片上系統、電子設備及存儲介質，其中，所述信號測試方法在PCIe總線系統物理層的目標緩存區域中，基于經過所述物理層處理前后的待測試信號（即第一信號和第二信號），獲取表征所述待測試信號質量的測試信息，實現在PCIe總線系統內部對待測試信號質量進行測試的目的。利用本說明書提供的信號測試方法進行信號質量測試，一方面不會妨礙待測試信號正常通過物理層，無需因為信號測試而中斷正常信號傳輸，有利于提高測試和使用效率，為實現實時的信號測試奠定了基礎。另一方面，由于該方法無需外接測試設備，簡化了信號測試步驟，提高了測試效率，而且有利于降低信號測試所需的硬件成本。

技術領域

本說明書涉及信號處理技術領域，更具體地說，涉及一種信號測試方法、裝置、片上系統、電子設備及存儲介質。

背景技術

PCIe（Peripheral Component Interconnect express）是一種高速串行計算機擴展總線標準，廣泛應用于計算機系統中。PCIe總線屬于高速串行點對點雙通道高帶寬傳輸總線，其所連接的設備分配獨享通道帶寬，不共享總線帶寬，具有高傳輸速率的特點。

但隨著系統信號傳輸速率的提升以及一些應用場景對于系統信號穩定性要求的不斷提高，提出了對于PCIe信號質量監測的需求，目前針對PCIe信號質量監測的相關技術中，存在信號測試效率低下等問題。

發明內容

有鑒于此，本說明書實施例致力于提供一種信號測試方法、裝置、片上系統、電子設備及存儲介質，以實現提高信號測試效率，降低信號測試成本的目的。

第一方面，本說明書提供了一種信號測試方法，應用于PCIe總線系統，所述PCIe總線系統包括位于物理層中的目標緩存區域，所述信號測試方法包括：

在所述目標緩存區域中，基于第一信號和第二信號，獲取表征所述待測試信號質量的測試信息，所述第一信號和所述第二信號分別為經過所述物理層處理前后的待測試信號。

可選地，所述基于第一信號和第二信號，獲取表征所述待測試信號質量的測試信息之前還包括：

獲取所述待測試信號；

對所述待測試信號進行采樣，以獲得所述第一信號，將采樣獲得的所述第一信號存儲在所述目標緩存區域中；

將所述待測試信號經過所述物理層處理，以獲得所述第二信號。

可選地，所述PCIe總線系統還包括配置寄存器，所述配置寄存器中預先存儲有配置參數，所述對所述待測試信號進行采樣，以獲得所述第一信號包括：

根據所述配置參數，對所述待測試信號進行采樣，以獲得至少一個所述第一信號。

可選地，所述PCIe總線系統還包括狀態寄存器，若采樣獲得所述第一信號的數量為多個，多個所述第一信號包括的數據不同，所述將采樣獲得的所述第一信號存儲在所述目標緩存區域中包括：

將采樣獲得的至少一個所述第一信號存儲在所述狀態寄存器中。

可選地，所述PCIe總線系統還包括位于所述目標緩存區域中的狀態寄存器，所述基于第一信號和第二信號，獲取表征所述待測試信號質量的測試信息包括：

根據所述配置參數，對比所述第一信號與所述第二信號的差異，獲得表征所述待測試信號質量的誤碼信息，并將所述誤碼信息存儲在所述狀態寄存器中。

可選地，所述基于第一信號和第二信號，獲取表征所述待測試信號質量的測試信息之后還包括：

基于所述測試信息，生成可視化的測試結果。

第二方面，本說明書實施例提供了一種信號測試裝置，應用于PCIe總線系統，所述PCIe總線系統包括位于物理層中的目標緩存區域，所述信號測試裝置包括：