[發明專利]一種像素結構的內部補償電路及其控制方法

在審

• 申請號: 202210369736.0
• 申請日: 2022-04-08
• 公開（公告）號: CN114822403A
• 公開（公告）日: 2022-07-29
• 發明（設計）人: 劉焱鑫;羅敬凱;賈浩;楊遠直;林夢玲
• 申請（專利權）人: 福建華佳彩有限公司
• 主分類號: G09G3/3225
• 分類號: G09G3/3225;G09G3/3266
• 代理公司: 福州君誠知識產權代理有限公司 35211
• 代理人: 戴雨君

本發明公開一種像素結構的內部補償電路及其控制方法，像素結構的每個像素單元包括第一開關管和多個子像素；每個子像素包括4T2C驅動架構，第一晶體管一端連接Data，第一晶體管控制端連接Scan1，第一晶體管另一端連接第一電容一端和第二晶體管控制端；第二晶體管一端連接第三晶體管一端，第三晶體管控制端連接EM，第三晶體管另一端連接OVDD；第二晶體管另一端連接發光二極管，第一電容另一端連接第四晶體管一端、第二電容一端和發光二極管；第四晶體管另一端連接Vsus，第四晶體管控制端連接Reset；第二電容另一端、發光二極管的陰極連接OVSS；第一晶體管另一端均連接第一開關管一端，第一開關管另一端連接Verf，第一開關管控制端連接Scan2。本發明使面板亮度均勻。

技術領域

本發明涉及顯示技術領域，尤其涉及一種像素結構的內部補償電路及其控制方法。

背景技術

由于每個畫素中的薄膜晶體管（TFT）會隨著工作時間增加而慢慢老化，導致閾值電壓（V_TH）改變，同時每個TFT在制成的V_TH就各不相同，而AMOLED的工作原理是電流驅動，而電流又主要受到V_TH的影響，進而導致AMOLED面板亮度不均的問題，因此消除V_TH的影響是一個重要的研究課題。同時面板的解析度又受到畫素大小的影響，而畫素大小則受每個子像素大小的影響，因此減少每個子像素中TFT的數量也是一個重要的研究課題。

發明內容

本發明的目的在于提供一種像素結構的內部補償電路及其控制方法，解決VTH 漂移引起的亮度不均勻問題。

本發明采用的技術方案是：

一種像素結構的內部補償電路，像素結構的每個像素單元包括相鄰的至少兩個子像素；每個子像素包括4T2C像素驅動電路，像素單元包括設在外圍的第一開關管，

所述4T2C像素驅動電路包括第一晶體管、第二晶體管、第三晶體管、第四晶體管、第一電容、第二電容、有機發光二極管，

所述第一晶體管的一端與數據信號Data連接，第一晶體管的控制端與掃描信號Scan1連接，第一晶體管的另一端分別與第一電容的一端、第二晶體管的控制端連接；

第二晶體管的一端與第三晶體管的一端連接，第三晶體管的控制端與EM信號連接，第三晶體管的另一端連接電源電壓OVDD；第二晶體管的另一端連接有機發光二極管的陽極，

第一電容的另一端分別連接第四晶體管的一端、第二電容的一端和有機發光二極管的陽極；

第四晶體管的另一端連接高電壓Vsus，第四晶體管的控制端連接重置信號Reset；

第二電容的另一端以及有機發光二極管的陰極連接至公共接地電壓OVSS；

每個子像素的第一晶體管的另一端分別連接至第一開關管的一端，第一開關管的另一端與基準電壓Verf連接，第一開關管的控制端連接掃描信號Scan2。

進一步地，第一開關管為晶體管；

進一步地，第一晶體管、第二晶體管、第三晶體管、第四晶體管和第一開關管均為薄膜晶體管（TFT）。

進一步地，掃描信號Scan1和掃描信號Scan2由 GPIO電路產生

進一步地，補償電路包括IC芯片，IC芯片產生掃描信號Scan1和掃描信號Scan2；IC芯片通過掃描信號Scan1控制第一晶體管通斷；IC芯片通過掃描信號Scan2控制第一開關管通斷。

一種像素結構的內部補償電路的控制方法，方法的步驟如下：

第一階段重置階段：Scan2和Reset輸入高電壓，第二晶體管、第四晶體管和第一開關管打開，第四晶體管輸入Vsus ，第一開關管輸入Vref；