[發明專利]電阻測量裝置及終端設備在審
| 申請號: | 202210367944.7 | 申請日: | 2022-04-08 |
| 公開(公告)號: | CN114720773A | 公開(公告)日: | 2022-07-08 |
| 發明(設計)人: | 戴天亮;徐超 | 申請(專利權)人: | 展訊通信(上海)有限公司 |
| 主分類號: | G01R27/08 | 分類號: | G01R27/08;H03H17/02;H03M1/12 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人: | 駱蘇華 |
| 地址: | 201203 上海市浦東新區張*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 電阻 測量 裝置 終端設備 | ||
1.一種電阻測量裝置,其特征在于,包括:
交流電源模塊,所述交流電源模塊的輸出端耦接采樣電阻的第一端,所述交流電源模塊用于輸出第一交流信號,所述第一交流信號包括噪聲,所述采樣電阻的第二端輸出電壓輸入交流信號;
參考信號發生模塊,用于輸出參考交流信號,所述參考交流信號的頻率與所述噪聲的頻率不同;
去噪模塊,所述去噪模塊的第一輸入端接入所述電壓輸入交流信號,所述去噪模塊的第二輸入端耦接所述參考信號發生模塊,所述去噪模塊用于對所述參考交流信號和所述電壓輸入交流信號進行相乘并積分,并輸出電壓直流分量信號;
計算模塊,耦接所述去噪模塊的輸出端,所述計算模塊用于根據所述電壓直流分量信號與所述第一交流信號的電流幅值計算所述采樣電阻的電阻值。
2.根據權利要求1所述的電阻測量裝置,其特征在于,還包括:
第一低通濾波器,所述第一低通濾波器的第一端耦接所述采樣電阻的第二端,所述第一低通濾波器的第二端耦接所述去噪模塊的第一輸入端,所述第一低通濾波器用于對所述電壓輸入交流信號進行低通濾波。
3.根據權利要求1所述的電阻測量裝置,其特征在于,所述參考交流信號的頻率與所述電壓輸入交流信號的頻率相同。
4.根據權利要求1所述的電阻測量裝置,其特征在于,所述去噪模塊包括:乘法單元,用于至少對所述參考交流信號和所述電壓輸入交流信號進行相乘,并輸出乘積信號;
濾波單元,所述濾波單元的輸入端耦接所述乘法單元的輸出端,所述濾波單元用于對所述乘積信號進行低通濾波處理。
5.根據權利要求4所述的電阻測量裝置,其特征在于,所述乘法單元包括第一乘法器和第二乘法器,所述濾波單元包括第二低通濾波器和第三低通濾波器;
所述第一乘法器的第一輸入端接入所述電壓輸入交流信號,所述第一乘法器的第二輸入端耦接所述參考信號發生模塊的輸出端,所述第一乘法器的輸出端耦接所述第二低通濾波器的第一端,所述第一乘法器用于對所述參考交流信號和所述電壓輸入交流信號進行相乘,以輸出第一乘積信號;
所述第二乘法器的第一輸入端接入所述電壓輸入交流信號,所述第二乘法器的第二輸入端接入移相后的參考交流信號,所述第二乘法器的輸出端耦接所述第三低通濾波器的第一端,所述第二乘法器用于對移相后的所述參考交流信號和所述電壓輸入交流信號進行相乘,以輸出第二乘積信號;
所述第二低通濾波器用于對所述第一乘積信號進行低通濾波處理;
所述第三低通濾波器用于對所述第二乘積信號進行低通濾波處理。
6.根據權利要求5所述的電阻測量裝置,其特征在于,所述去噪模塊還包括:移相器,所述移相器的第一端耦接所述參考信號發生模塊的輸出端,所述移相器的第二端耦接所述第二乘法器的第二輸入端,所述移相器用于對所述參考交流信號進行移相。
7.根據權利要求5所述的電阻測量裝置,其特征在于,所述去噪模塊包括:電壓計算單元,所述電壓計算單元的第一輸入端耦接所述第二低通濾波器的第二端,所述電壓計算單元的第二輸入端耦接所述第三低通濾波器的第二端,所述電壓計算單元用于根據濾波后的第一乘積信號和濾波后的第二乘積信號進行均方根值計算,以輸出所述電壓直流分量信號。
8.根據權利要求1所述的電阻測量裝置,其特征在于,所述計算模塊包括模擬數字轉換器與計算單元,其中,
所述模擬數字轉換器的第一端耦接所述去噪模塊的輸出端,所述模擬數字轉換器的第二端耦接所述計算單元的輸入端,所述模擬數字轉換器用于采集所述去噪模塊輸出的所述電壓直流分量信號;
所述計算單元用于根據所述電壓直流分量信號與所述第一交流信號的電流幅值計算所述采樣電阻的電阻值,并輸出所述采樣電阻的電阻值。
9.根據權利要求1所述的電阻測量裝置,其特征在于,所述參考交流信號的電壓幅值為預設值。
10.一種終端設備,其特征在于,包括權利要求1~9任一項所述的電阻測量裝置。
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