[發(fā)明專利]射頻芯片的數(shù)據(jù)補(bǔ)償方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202210366651.7 | 申請(qǐng)日: | 2022-04-08 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN114755558A | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-07-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 趙英偉;楊柳;盧旭坤;袁俊;白世發(fā);張亦鋒 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 廣東利揚(yáng)芯片測(cè)試股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/28 | 分類號(hào): | G01R31/28;G01R1/04;G01R35/00 |
| 代理公司: | 北京前審知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11760 | 代理人: | 尹秀峰;張波濤 |
| 地址: | 523000 廣東省*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 射頻 芯片 數(shù)據(jù) 補(bǔ)償 方法 | ||
1.一種射頻芯片的數(shù)據(jù)補(bǔ)償方法,其特征在于,其包括以下步驟:
校準(zhǔn)射頻芯片的射頻測(cè)試通路損耗,其中,射頻芯片用夾具固定在承載板上,所述承載板上包括REF端口、RFIN端口和RFOUT端口,功率計(jì)連接所述REF端口和RFIN端口的線纜,產(chǎn)生一定頻率的射頻信號(hào)的信號(hào)發(fā)生與分析模塊分別連接REF端口、RFIN端口和RFOUT端口線纜另一端形成第一通路、第二通路和第三通路,根據(jù)功率計(jì)的讀數(shù)校準(zhǔn)第一通路的第一線路損耗和第二通路的第二線路損耗;RFOUT端口接到所述射頻信號(hào),功率計(jì)連接RFOUT端口線纜另一端以校準(zhǔn)第三通路的第三線路損耗;
矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀校準(zhǔn)射頻芯片,其中,矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的雙端口依次連接短路、開(kāi)路、匹配負(fù)載運(yùn)行校準(zhǔn)程序得到矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的校準(zhǔn)值;開(kāi)始測(cè)試后在得到射頻芯片少量測(cè)試數(shù)據(jù)后暫停測(cè)試,所述測(cè)試數(shù)據(jù)作為原始測(cè)試數(shù)據(jù)基于鄰域風(fēng)險(xiǎn)最小化原則的mixup方法進(jìn)行數(shù)據(jù)增強(qiáng),其中,yn=λyi+(1-λ)yj,yn為數(shù)據(jù)增強(qiáng)的數(shù)據(jù)向量,維數(shù)是需要補(bǔ)償?shù)臏y(cè)試項(xiàng)數(shù),yi和yj為原始測(cè)試數(shù)據(jù)中任意抽取的兩個(gè)不同的數(shù)據(jù)向量,λ~Beta(α,β),應(yīng)用時(shí),β=α,α∈(0,+∞),所述數(shù)據(jù)向量添加指定信噪比的高斯白噪聲來(lái)構(gòu)建樣本數(shù)據(jù);
用最小二乘方法的多項(xiàng)式根據(jù)實(shí)際測(cè)量值和預(yù)期目標(biāo)值進(jìn)行擬合,自變量為測(cè)量值,因變量為預(yù)期目標(biāo)值;
通過(guò)增加自變量階次的方式來(lái)提高補(bǔ)償精度,數(shù)據(jù)誤差補(bǔ)償模型為y=a1x+a2x2+…+amxm,y是所述預(yù)期目標(biāo)值,x是所述實(shí)際測(cè)量值,a是常數(shù)參數(shù),通過(guò)最小二乘法多項(xiàng)式擬合計(jì)算出,根據(jù)預(yù)期目標(biāo)值求解相應(yīng)系數(shù),計(jì)算得到真實(shí)值的修正公式,真實(shí)值是指芯片實(shí)際輸出的數(shù)值,將得到的數(shù)據(jù)誤差補(bǔ)償模型進(jìn)行誤差的精度驗(yàn)證,滿足精度則確定所述多項(xiàng)式,保存結(jié)果并在之后的測(cè)試中對(duì)測(cè)試值代入,以還原真實(shí)值;
對(duì)補(bǔ)償前的測(cè)試數(shù)據(jù)代入所述多項(xiàng)式求解,根據(jù)補(bǔ)償后的數(shù)值重新分析所述測(cè)試數(shù)據(jù)的良率,輸出補(bǔ)償前后的良率對(duì)比。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種射頻芯片的數(shù)據(jù)補(bǔ)償方法,其特征在于,優(yōu)選的,矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的使用12項(xiàng)誤差模型全雙端口校準(zhǔn)算法校準(zhǔn)射頻芯片。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種射頻芯片的數(shù)據(jù)補(bǔ)償方法,其特征在于,矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀包括前向激勵(lì)和后向激勵(lì)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種射頻芯片的數(shù)據(jù)補(bǔ)償方法,其特征在于,所述信號(hào)發(fā)生與分析模塊包括放大器或衰減器。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種射頻芯片的數(shù)據(jù)補(bǔ)償方法,其特征在于,功率計(jì)和所述信號(hào)發(fā)生與分析模塊集成在測(cè)試機(jī)中。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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