[發明專利]液晶屏檢測裝置及老化檢測方法

在審

• 申請號: 202210363755.2
• 申請日: 2022-04-08
• 公開（公告）號: CN114675440A
• 公開（公告）日: 2022-06-28
• 發明（設計）人: 張興國;劉陸恒
• 申請（專利權）人: 蘇州嘯百光電技術有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13
• 代理公司: 蘇州滿天星知識產權代理事務所(普通合伙) 32573
• 代理人: 趙靜

本發明提供一種液晶屏檢測裝置及老化檢測方法。液晶屏檢測裝置包括：相鄰設置的一燈箱和一老化檢測箱；所述燈箱包括第一箱體，第一透明蓋板，以及檢測光源；所述第一透明蓋板設置于所述燈箱和所述老化檢測箱之間；所述老化檢測箱包括第二箱體，第二透明蓋板，以及加熱模塊；所述第二透明蓋板與所述第一透明蓋板相對設置并設置于所述第二箱體的一端的開口。由于本發明將檢測光源和加熱模塊分別被設置于相鄰的兩個箱體內，第一箱體內部的檢測光源產生的光可以透過透明板將待檢測液晶屏點亮，因此，既提供了液晶屏的老化檢測所需的檢測光源和老化環境，又避免檢測光源長時間在高溫環境中工作而加速老化損壞的問題。

技術領域

本發明涉及液晶屏檢測技術，特別涉及一種具有老化檢測模塊和背光模塊的液晶屏的檢測裝置，以及利用檢測裝置進行老化檢測的方法。

背景技術

老化檢測是用來檢測液晶屏的可靠性的常規檢測手段之一，該檢測一般在老化爐或老化檢測箱內中進行，通常需要將液晶屏模塊置于高溫環境中進行老化處理，液晶屏的老化處理所需溫度通常設置在60～70攝氏度，甚至是80攝氏度左右。

對液晶屏進行老化檢測的同時需要用背光模塊或燈箱將液晶屏點亮，以便檢測經過老化處理的液晶屏的工作狀態的可靠程度，而LED(light-emitting diode，發光二極管)因其光源的高亮度高均勻性等特點而被普遍用作背光模塊。

授權公告號為CN 213634043 U的中國實用新型專利所公開的一種液晶基板和背光系統整合后的老化檢測裝置，以及申請公布號為CN 108761869 A的中國發明專利申請所公開的一種液晶基板和背光系統整合后的老化檢測裝置都需要將背光系統和液晶基板共同置于高溫環境中進行老化檢測，如果是采用LED作為檢測光源則會造成LED長時間在高溫環境中工作，引起LED的老化和損壞。

另外，因背光模塊或燈箱尺寸較大，通常在10寸以上，最大甚至超過110寸。如果需要將其置入老化爐內，則需要更大尺寸的老化爐，成本太高，實施難度較大。

授權公告號為CN 107316595 B的中國發明專利公開了一種不需要老化爐的老化檢測用背光源裝置，包括：背板、承載蓋板、光源、加熱裝置和吹風裝置，其中，所述背板與承載蓋板共同構成一盒體，光源位于所述盒體內用于向液晶顯示面板提供檢測亮度，加熱裝置和吹風裝置安裝于所述背板一側，吹風裝置將加熱裝置發出的熱量形成熱風并吹入盒體內，進而通過承載蓋板進行熱傳導對承載蓋板上承載的液晶顯示面板進行加熱，其溫度可控并可提供亮度，能夠直接模擬樣品在高溫爐內的檢測形態，用于對液晶顯示面板進行老化檢測。由于加熱裝置處于開放空間，并且需要通過熱對流將熱量傳導至盒體的背板、然后通過背板熱傳導至盒體內加熱其中的空氣，然后空氣再以熱傳導的方式對承載蓋板進行加熱，最后承載蓋板通過熱傳導方式對液晶屏進行加熱老化，需要多個熱量交換的步驟，可見產生的熱量無法高效充分迅速地用于老化檢測；另外，由于光源也處于盒體內，意味著如果采用LED作為檢測光源，同樣會造成LED長時間在高溫環境中工作，引起LED的老化和損壞。

發明內容

本發明的目的在于提供一種具有老化檢測模塊和背光模塊的液晶屏檢測裝置，用于對液晶屏進行老化檢測，并且避免背光模塊在老化檢測過程中長時間在高溫環境中工作。

為實現上述目的，本發明提供了一種液晶屏檢測裝置，包括：相鄰設置的一燈箱和一老化檢測箱；所述燈箱包括第一箱體，第一透明蓋板，以及檢測光源；所述第一透明蓋板設置于所述燈箱和所述老化檢測箱之間并連接于所述第一箱體的側壁；所述檢測光源設置于所述第一箱體內；所述老化檢測箱包括第二箱體，第二透明蓋板，以及加熱模塊；所述第二透明蓋板與所述第一透明蓋板相對設置并設置于所述第二箱體的一端的開口；所述加熱模塊設置于所述第二箱體內。