[發明專利]一種外延片、外延片制備方法以及發光二極管在審
| 申請號: | 202210357114.6 | 申請日: | 2022-04-06 |
| 公開(公告)號: | CN114709309A | 公開(公告)日: | 2022-07-05 |
| 發明(設計)人: | 劉春楊;胡加輝;呂蒙普;金從龍 | 申請(專利權)人: | 江西兆馳半導體有限公司 |
| 主分類號: | H01L33/06 | 分類號: | H01L33/06;H01L33/00;H01L33/14;H01L33/32 |
| 代理公司: | 南昌旭瑞知識產權代理事務所(普通合伙) 36150 | 代理人: | 彭琰 |
| 地址: | 330000 江西省南昌市南*** | 國省代碼: | 江西;36 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 外延 制備 方法 以及 發光二極管 | ||
1.一種外延片,包括多量子阱層,其特征在于,所述多量子阱層包括周期性交替層疊的量子阱層和量子壘層,所述量子阱層和所述量子壘層均為AlGaN層;
其中,所述量子壘層通過Al組分含量的變化形成雙三角形勢壘結構。
2.根據權利要求1所述的外延片,其特征在于,所述量子壘層包括依次層疊設置的第一量子壘子層、量子壘復合子層以及第二量子壘子層,所述量子壘復合子層的Al組分含量由一端向相對的另一端依次經過遞增、遞減、遞增以及遞減以形成所述雙三角形勢壘結構。
3.根據權利要求1或2所述的外延片,其特征在于,所述量子壘層為N型摻雜層,摻雜劑為Si,摻雜濃度為7*1018/cm 3~8*1018/cm3。
4.根據權利要求2所述的外延片,其特征在于,所述量子壘復合子層的Al組分含量為0.5~0.7,所述第一量子壘子層與所述第二量子壘子層的Al組分含量均恒定為0.4~0.5。
5.根據權利要求2所述的外延片,其特征在于,所述量子壘層的厚度為10~20nm,其中,所述第一量子壘子層和所述第二量子壘子層的厚度均為1~2nm,所述量子壘復合子層的厚度為8~16nm。
6.根據權利要求1所述的外延片,其特征在于,所述外延片還包括襯底、AlN緩沖層、未摻雜的AlGaN層、N型摻雜AlGaN層、AlGaN電子阻擋層、P型摻雜AlGaN層以及AlGaN接觸層;
所述AlN緩沖層、未摻雜的AlGaN層、N型摻雜AlGaN層、多量子阱層、AlGaN電子阻擋層、P型摻雜AlGaN層以及AlGaN接觸層依次層疊于所述襯底上。
7.根據權利要求6所述的外延片,其特征在于,所述AlGaN電子阻擋層與所述P型摻雜AlGaN層之間還設有P型摻雜的AlN/MgN超晶格層,所述AlN/MgN超晶格層包括周期性層疊的AlN子層和MgN子層。
8.根據權利要求7所述的外延片,其特征在于,所述AlN子層的摻雜劑為Mg,摻雜濃度為1*1017cm-3~1*1019cm-3。
9.一種外延片制備方法,其特征在于,用于制備權利要求1至8中任一項所述的外延片,所述外延片制備方法包括:
提供襯底;
在所述襯底上依次外延生長AlN緩沖層、未摻雜的AlGaN層、N型摻雜AlGaN層、多量子阱層、AlGaN電子阻擋層、P型摻雜的AlN/MgN超晶格層、P型摻雜AlGaN層以及AlGaN接觸層;
其中,在生長量子壘層時,控制Al組分通入流量恒定,生長得到第一量子壘子層、再控制Al組分通入流量依次經過遞增、遞減、遞增以及遞減,生長得到量子壘復合子層,最后控制Al組分通入流量恒定,生長得到第二量子壘子層。
10.一種發光二極管,其特征在于,包括權利要求1至8中任一項所述的外延片。
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