[發明專利]一種LED外延片、外延生長方法及LED芯片在審
| 申請號: | 202210336305.4 | 申請日: | 2022-04-01 |
| 公開(公告)號: | CN114420814A | 公開(公告)日: | 2022-04-29 |
| 發明(設計)人: | 孫建建;牛群磊;紀東;曹敏;姜湃;孫彬耀;陳銘勝 | 申請(專利權)人: | 江西兆馳半導體有限公司 |
| 主分類號: | H01L33/14 | 分類號: | H01L33/14;H01L33/06;H01L33/00 |
| 代理公司: | 南昌旭瑞知識產權代理事務所(普通合伙) 36150 | 代理人: | 劉紅偉 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 led 外延 生長 方法 芯片 | ||
本發明提供一種LED外延片、外延生長方法及LED芯片,LED外延片包括n型電流擴展層和p型電流擴展層,n型電流擴展層是由第一子層和第二子層交替生長而成的周期性結構,p型電流擴展層由第三子層和第四子層交替生長而成的周期性結構,其中,n型電流擴展層為摻雜Si的磷化鋁鎵銦層,p型電流擴展層為摻雜Mg的磷化鎵層,第一子層中摻雜Si的濃度高于第二子層中摻雜Si的濃度,第三子層中摻雜Mg的濃度低于第四子層中摻雜Mg的濃度。本發明旨在解決現有技術中,電流擴展層恒定摻雜,導致芯片抗靜電能力差的問題,而在電流擴展層中采用高低摻雜濃度的方式,便于更精確的控制摻雜濃度,可有效提高芯片的抗靜電能力。
技術領域
本發明涉及LED技術領域,特別涉及一種LED外延片、外延生長方法及LED芯片。
背景技術
發光二極管(Light Emitting Diode,簡稱:LED)是一種能發光的半導體電子元件,由于其體積小、亮度高、能耗低等特點,吸引了越來越多研究者的注意。其中,四元系AlGaInP是一種具有寬帶隙的化合物半導體材料,此材料發光波段可以覆蓋可見光的紅光到黃綠光波段,由其制成的可見光高亮度發光二極管受到廣泛關注。
四元系AIGaInP高亮度發光二極管己大量應用于戶外顯示、交通燈、汽車用燈、指示等許多方面。為了滿足不斷變化的需求,進一步改進和提高器件的性能,因此需對此材料體系進行深入研究,設計具有更高性能的材料結構和器件工藝。
對于紅黃光LED外延結構襯底是砷化鎵,外延層是AlGaInP的四元系化合物,其電壓和抗靜電主要由摻雜濃度決定,特別是電流擴展層的摻雜濃度,如果摻雜控制不得當,就會造成電壓高,抗靜電差,亮度低等問題,傳統的在電流擴展層的摻雜方式為恒定濃度的摻雜,這種摻雜方式很難達到預期的結果。
發明內容
基于此,本發明的目的是提供一種LED外延片、外延生長方法及LED芯片,旨在解決現有技術中,電流擴展層恒定摻雜,導致芯片抗靜電能力差的問題。
根據本發明實施例當中的一種LED外延片,包括電流擴展層,所述電流擴展層包括n型電流擴展層和p型電流擴展層,所述n型電流擴展層是由第一子層和第二子層交替生長而成的周期性結構,所述p型電流擴展層由第三子層和第四子層交替生長而成的周期性結構;
其中,所述n型電流擴展層為摻雜Si的磷化鋁鎵銦層,所述p型電流擴展層為摻雜Mg的磷化鎵層,所述第一子層中摻雜所述Si的濃度高于所述第二子層中摻雜所述Si的濃度,所述第三子層中摻雜所述Mg的濃度低于所述第四子層中摻雜所述Mg的濃度。
優選地,所述LED外延片還包括襯底、腐蝕截止層、第一歐姆接觸層、n型限制層、多量子阱層、p型限制層、過渡層以及第二歐姆接觸層;
所述腐蝕截止層、所述第一歐姆接觸層、所述n型電流擴展層、所述n型限制層、所述多量子阱層、所述p型限制層、所述過渡層、所述p型電流擴展層以及所述第二歐姆接觸層依次外延生長在所述襯底上。
優選地,所述n型電流擴展層的厚度為3μm~6μm,所述p型電流擴展層的厚度為4μm~8μm。
優選地,所述腐蝕截止層的厚度為0.2μm~1μm,所述第一歐姆接觸層的厚度為0.2μm~1μm,所述n型限制層的厚度為0.3μm~1.5μm,所述多量子阱層的厚度為50nm~80nm,所述p型限制層的厚度為1μm~2μm,所述過渡層的厚度為45nm~60nm,所述第二歐姆接觸層的厚度為90nm~150nm。
優選地,所述第一子層的厚度與所述第二子層的厚度的比值范圍為4:1~7:1,所述第四子層的厚度與所述第三子層的厚度的比值范圍為5:1~7:1。
根據本發明實施例當中的一種LED外延片的外延生長方法,用于制備上述的LED外延片,所述外延生長方法包括:
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