[發明專利]用于實現絕對距離測量的測距系統

有效

• 申請號: 202210333866.9
• 申請日: 2021-09-18
• 公開（公告）號: CN115014196B
• 公開（公告）日: 2022-12-23
• 發明（設計）人: 張和君;馮福榮;梁志明;吳興發;張琥杰;陳源
• 申請（專利權）人: 深圳市中圖儀器股份有限公司
• 主分類號: G01B11/00
• 分類號: G01B11/00;G01C15/00
• 代理公司: 深圳舍穆專利代理事務所(特殊普通合伙) 44398
• 代理人: 邱爽

1.一種用于實現絕對距離測量的測距系統，是包括測距主機和輔助測量裝置的測距系統，其特征在于，所述測距主機包括絕對測距模塊和組合模塊，所述絕對測距模塊包括第一發射單元、第一分光單元、調制單元、第二分光單元、偏振分束單元以及第一傳感單元，所述第一發射單元配置為產生第一光束，所述調制單元設置于所述第一分光單元和所述第二分光單元之間并配置為對所述第一光束進行光調制，所述第二分光單元配置為將所述第一光束分解為正交偏振的第一子光束和第二子光束，所述第一子光束輸入第一保偏光纖，所述第二子光束輸入第二保偏光纖，所述偏振分束單元配置為將所述第一子光束和所述第二子光束合并并發送至所述組合模塊，所述組合模塊配置為接收所述第一子光束和所述第二子光束并發送至所述輔助測量裝置，所述第一子光束和所述第二子光束發送至所述輔助測量裝置后分別形成第一反射子光束和第二反射子光束，所述第一反射子光束和所述第二反射子光束經由所述組合模塊到達所述偏振分束單元，所述偏振分束單元配置為將所述第一反射子光束輸入所述第二保偏光纖并將所述第二反射子光束輸入所述第一保偏光纖，以及所述第一傳感單元配置為接收由所述第一分光單元反射的所述第一反射子光束和所述第二反射子光束以獲得所述測距主機與所述輔助測量裝置的距離。

2.根據權利要求1所述的測距系統，其特征在于，

所述絕對測距模塊還包括第一耦合單元和第二耦合單元。

3.根據權利要求2所述的測距系統，其特征在于，

所述第一子光束經由所述第一耦合單元輸入至所述第一保偏光纖，所述第二子光束經由所述第二耦合單元輸入至所述第二保偏光纖。

4.根據權利要求2或3所述的測距系統，其特征在于，

所述偏振分束單元和所述第一耦合單元之間的光纖長度與所述偏振分束單元和所述第二耦合單元之間的光纖長度相同。

5.根據權利要求1所述的測距系統，其特征在于，

所述組合模塊包括第三耦合單元和第一波片，所述第三耦合單元配置為接收來自所述絕對測距模塊的所述第一光束，并將在光纖中的所述第一光束轉變為準直光。

6.根據權利要求5所述的測距系統，其特征在于，

所述第一子光束和所述第二子光束到達所述組合模塊后，依次經過所述組合模塊的所述第三耦合單元和所述第一波片，所述第一波片為1/4波片。

7.根據權利要求1所述的測距系統，其特征在于，

所述調制單元包括電光晶體和電源，所述調制單元配置為調整所述第一光束的偏振態。

8.根據權利要求1所述的測距系統，其特征在于，

所述測距主機還包括處理模塊，所述處理模塊被配置為根據所述第一傳感單元和位置傳感單元接收的信號進行計算，并獲得所述輔助測量裝置與所述測距主機的距離。

9.根據權利要求1所述的測距系統，其特征在于，

利用所述調制單元對所述第一子光束進行調制并利用所述調制單元對所述第二反射子光束進行調制，或者利用所述調制單元對所述第二子光束進行調制并利用所述調制單元對所述第一反射子光束進行調制。

10.根據權利要求1所述的測距系統，其特征在于，

所述組合模塊包括第四分光單元和位置傳感單元，所述第四分光單元配置為將所述第一反射子光束和所述第二反射子光束反射至所述位置傳感單元以測量所述輔助測量裝置的位置是否發生變化。