[發明專利]用于從k空間測量數據集中重建單斷層圖像數據集的方法

在審

• 申請號: 202210330448.4
• 申請日: 2022-03-31
• 公開（公告）號: CN115144802A
• 公開（公告）日: 2022-10-04
• 發明（設計）人: 馬里奧·策勒;弗拉維奧·卡林奇
• 申請（專利權）人: 西門子醫療有限公司
• 主分類號: G01R33/561
• 分類號: G01R33/561;G01R33/54;G01R33/56;A61B5/055
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 周濤;劉剛

1.一種用于從k空間測量數據集(MD)中重建單斷層圖像數據集的方法，所述k空間測量數據集(MD)從檢查對象的至少兩個斷層(S1，S2，...，Sn)中被同時記錄，所述方法包括如下步驟：

a)加載k空間測量數據集(MD)，所述k空間測量數據集(MD)包括沿著所規定的k空間軌跡對于檢查對象的至少兩個斷層(S1，S2，...，Sn)同時記錄的測量數據，

b)從所述k空間測量數據集(MD)中對于所述至少兩個斷層(S1，S2，...，Sn)中的每個斷層各重建一個參考斷層圖像數據集(B1，...，Bn)，

c)對于所述參考斷層圖像數據集(B1，...，Bn)確定測試區域(Rt)，在所述測試區域(Rt)中不期望有偽影，

d)通過分析相應的所述參考斷層圖像數據集(B1，...，Bn)中的所述測試區域，對于所述至少兩個斷層(S1，S2，...，Sn)中的每個斷層確定參考值(R1，...，Rn)，

e)修改表征所規定的k空間軌跡的參數(P_i)中的至少一個參數，

f)利用修改的參數(P_i)從所述k空間測量數據集(MD)中對于所述至少兩個斷層(S1，S2，...，Sn)中的每個斷層各重建一個測試斷層圖像數據集(B1_i*，…，Bn_i*)，

g)通過分析相應的所述測試斷層圖像數據集(B1_i*，…，Bn_i*)中的所述測試區域，對于所述至少兩個斷層(S1，S2，...，Sn)中的每個斷層確定對應于所述參考值(R1，...，Rn)的測試參考值(R1_i*，…，Rn_i*)，

h)以不同于已經測試的修改的修改重復步驟e)至g)，直至達到中止標準，

i)根據質量標準對所述參考值(R1，...，Rn)和所述測試參考值(R1_i*，…，Rn_i*)進行比較，

j)存儲與根據比較在所述參考值(R1，...，Rn)和所述測試參考值(R1_i*，…，Rn_i*)中最佳的值相關聯的參數(P_i)。

2.根據權利要求1所述的方法，其中不同的參考斷層圖像數據集(B1，...，Bn)的測試區域(Rt)能夠是不同的。

3.根據上述權利要求中任一項所述的方法，其中測試區域(Rt)是所述參考斷層圖像數據集(B1，...，Bn)中的如下區域：在所述區域中不應對所述檢查對象成像。

4.根據上述權利要求中任一項所述的方法，其中除了所述k空間測量數據(MD)之外，也對于所述至少兩個斷層中的每個斷層記錄參考數據(RD)，并且確定所述測試區域(Rt)在從所述參考數據中重建的圖像數據中進行。

5.根據上述權利要求中任一項所述的方法，其中確定所述測試區域(Rt)考慮在記錄所述k空間測量數據集(MD)時使用的視場偏移(FOV偏移)。

6.根據上述權利要求中任一項所述的方法，其中表征所規定的k空間軌跡、例如k空間線的參數(P_i)是在記錄所述k空間測量數據集(MD)的測量數據期間施加的梯度、尤其讀出梯度的幅值和/或在所述記錄期間施加的相位。

7.根據上述權利要求中任一項所述的方法，其中參數(P_i)的修改是以恒定的值的改變和/或根據期望的函數、例如線性斜率的改變。

8.根據上述權利要求中任一項所述的方法，其中在步驟e)的不同的過程中進行的修改逐步地或根據優化算法，例如貪心算法、尤其黃金分割尋找(英文“Golden-sectionsearch”)，或二分搜索算法改變至少一個參數(P_i)。

9.根據上述權利要求中任一項所述的方法，其中所述質量標準描述偽影自由度的程度。