[發明專利]一種提高阻變存儲器可靠性測試效率的方法和裝置

在審

• 申請號: 202210329568.2
• 申請日: 2022-03-31
• 公開（公告）號: CN114842903A
• 公開（公告）日: 2022-08-02
• 發明（設計）人: 蔣海軍;楊建國;鹿洪飛;周睿晰
• 申請（專利權）人: 之江實驗室
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56
• 代理公司: 杭州浙科專利事務所(普通合伙) 33213
• 代理人: 孫孟輝

本發明涉及阻變存儲器應用領域，尤其涉及一種提高阻變存儲器可靠性測試效率的方法和裝置，該方法為：首先定義阻變存儲器的高阻值與低阻值的差的絕對值為窗口大小，作為阻變存儲器是否處于異常狀態的判斷依據，然后通過讀寫操作電路對阻變存儲器進行讀寫操作，同時啟動異常檢測電路來實時檢測阻變存儲器在讀寫操作過程中是否處于異常狀態，若處于異常狀態，則使得讀寫操作電路對阻變存儲器執行異常讀寫操作，反之則執行正常讀寫操作。本發明可以加快阻變存儲器可靠性的測試速率，提高阻變存儲器的測試效率，同時還能夠精確定位出出現異常的輪次數，方便對阻變存儲器進行分析處理。

技術領域

本發明涉及阻變存儲器應用領域，尤其涉及一種提高阻變存儲器可靠性測試效率的方法和裝置。

背景技術

在進行阻變存儲器的可靠性測試時，需要循環的進行置位、讀和復位、讀操作，其中由于讀操作比較費時，導致整體測試時間久，效率慢。為了提高測試效率，現有的公開了一種周期性讀的測試方法，即每隔N個循環周期進行一次讀操作，前N-1次周期只進行置位和復位操作，N為大于0的常數。這種方法可以大幅度提高測試效率，縮短測試周期，但也引入了其他的問題，即為了縮短測試周期，N一般取值較大，N越大，測試時間越短，但由于N取值較大，導致了N與2N之間的只是進行置位和復位操作，無法準確的判斷阻變存儲器的可靠性失效是處于N與2N之間的第幾次，無法準確的評估可靠性能，也缺失了阻變存儲器即將失效期間的關鍵讀寫數據信息。

發明內容

為了解決現有技術中存在的上述技術問題，本發明提出一種提高阻變存儲器可靠性測試效率的方法和裝置，通過異常檢測電路來實時檢測阻變存儲器是否處于異常狀態，實時在正常檢測狀態和異常檢測狀態之間進行切換，從而來決定執行正常讀寫操作的步驟還是異常讀寫操作的步驟，其具體技術方案如下：

一種提高阻變存儲器可靠性測試效率的方法，首先定義阻變存儲器的高阻值與低阻值的差的絕對值為窗口大小W0，作為阻變存儲器是否處于異常狀態的判斷依據，然后通過讀寫操作電路對阻變存儲器進行讀寫操作，同時啟動異常檢測電路來實時檢測阻變存儲器在讀寫操作過程中是否處于異常狀態，若處于異常狀態，則使得讀寫操作電路對阻變存儲器執行異常讀寫操作，反之則執行正常讀寫操作。

進一步的，所述異常檢測電路由鏡像電路、三極管、電阻Rs、比較器和脈沖統計電路組成，通過鏡像電路鏡像的方式獲取到阻變存儲器產生的電流，該電流流經三極管到電阻Rs，同時產生電壓Vs，電壓Vs與預設電壓Vp分別輸入到比較器的兩個輸入端，比較器的輸出端輸出高低電平脈沖，脈沖統計電路根據高低電平脈沖檢測出電流的變化情況，根據電流的變化情況來判斷阻變存儲器是否為異常狀態。

進一步的，當所述異常檢測電路判斷阻變存儲器為異常狀態時，異常檢測電路實時讀取阻變存儲器的窗口大小，若實時讀取窗口大小大于定義窗口大小W0的A倍，或小于定義窗口大小W0的B倍，則確定所述阻變存儲器為異常狀態，其中A和B為大于0的數，且A＞B。

進一步的，所述讀寫操作電路對阻變存儲器執行正常讀寫操作，具體為：首先預設操作次數，然后對阻變存儲器循環執行第一操作和第二操作，且每隔指定次數執行1次第一復合操作，第二復合操作，其中指定次數大于等于預設操作次數的最低次數，小于預設操作次數的最大次數；

其中，第一操作是置位操作，第二操作是復位操作， 第一復合操作包括置位操作和讀操作，第二復合操作包括復位操作和讀操作。

進一步的，所述首先預設操作次數，然后對阻變存儲器循環執行第一操作和第二操作，且每隔指定次數執行1次第一復合操作和第二復合操作，其中指定次數大于等于預設操作次數的最低次數，小于預設操作次數的最大次數，具體包括以下步驟：

步驟S1：第1-K1次，對阻變存儲器循環執行第一操作和第二操作，且每隔N0次執行1次第一復合操作和第二復合操作，其中N0為大于0，小于K1的整數；

步驟S2：第K1-K2次，對阻變存儲器循環執行第一操作和第二操作，且每隔N1次執行1次第一復合操作和第二復合操作，其中N1為大于N0，小于K2的整數；