[發(fā)明專利]顯示面板、顯示面板測(cè)試方法及顯示裝置

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202210315270.6
• 申請(qǐng)日: 2022-03-28
• 公開（公告）號(hào): CN114639711A
• 公開（公告）日: 2022-06-17
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李東偉
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳市華星光電半導(dǎo)體顯示技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): H01L27/32
• 分類號(hào): H01L27/32;G09G3/00
• 代理公司: 深圳紫藤知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44570
• 代理人: 楊艇要

本申請(qǐng)實(shí)施例公開了一種顯示面板及顯示面板測(cè)試方法。顯示裝置包括顯示面板。顯示面板包括襯底、信號(hào)線、第一測(cè)試模塊以及第二測(cè)試模塊。信號(hào)線設(shè)置在襯底上。信號(hào)線包括多條第一信號(hào)線和多條第二信號(hào)線。第一信號(hào)線連接第一顏色像素。第二信號(hào)線連接第二顏色像素。第一測(cè)試模塊設(shè)置在襯底上且與信號(hào)線間隔設(shè)置。第一測(cè)試模塊連接第一信號(hào)線和第二信號(hào)線。由于第一測(cè)試模塊連接了第一信號(hào)線和第二信號(hào)線，因此在進(jìn)行陣列測(cè)試時(shí)，不用對(duì)第一信號(hào)線和第二信號(hào)線單獨(dú)進(jìn)行測(cè)試。由此，可以減少陣列檢測(cè)設(shè)備的扎針數(shù)量，并能降低測(cè)試針與顯示面板的對(duì)位要求，避免陣列檢測(cè)不準(zhǔn)確。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請(qǐng)涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種顯示面板、顯示面板測(cè)試方法及顯示裝置。

背景技術(shù)

目前大尺寸主動(dòng)矩陣有機(jī)發(fā)光半導(dǎo)體(Active-matrix organic light-emittingdiode,AMOLED)面板制造過(guò)程中，在陣列模塊(array)制程、發(fā)光模塊(EL)制程、封裝制程后，都要有相應(yīng)的檢測(cè)制程。目前陣列模塊制程后常見(jiàn)有兩種檢測(cè)方式：

第一種陣列測(cè)試方式是采用全接觸(Fullcontact)的扎針接觸方式進(jìn)行檢測(cè)。這種檢測(cè)方式準(zhǔn)確性較高，但是因?yàn)槊總€(gè)信號(hào)線都需要檢測(cè)設(shè)備機(jī)構(gòu)的扎針連接，所以對(duì)檢測(cè)設(shè)備扎針對(duì)位精度，機(jī)構(gòu)設(shè)計(jì)提出很高要求，而且仍然有很高風(fēng)險(xiǎn)出現(xiàn)漏針等問(wèn)題。同時(shí)為了滿足不同的面板走線，檢測(cè)設(shè)備的扎針設(shè)計(jì)兼容性也需要額外設(shè)計(jì)。第二種陣列測(cè)試方式是將位于顯示面板上的陣列測(cè)試焊盤與同樣位于顯示面板上的面板測(cè)試焊盤相連，檢測(cè)設(shè)備扎針不需要采用全接觸的方式就可以檢測(cè)陣列段的缺陷。但是這種檢測(cè)方式仍需要設(shè)計(jì)R/G/B三個(gè)扎針對(duì)應(yīng)數(shù)據(jù)信號(hào)線。對(duì)檢測(cè)設(shè)備的扎針對(duì)位數(shù)量仍然有較高要求。

在對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的研究和實(shí)踐過(guò)程中，本申請(qǐng)的發(fā)明人發(fā)現(xiàn)，常見(jiàn)的檢測(cè)方式檢測(cè)準(zhǔn)確性較低。

發(fā)明內(nèi)容

本申請(qǐng)實(shí)施例提供一種顯示面板、顯示面板測(cè)試方法及顯示裝置，可以提高檢測(cè)準(zhǔn)確性。

本申請(qǐng)實(shí)施例提供一種顯示面板，所述顯示面板包括第一顏色像素和第二顏色像素，所述顯示面板包括：

襯底；

信號(hào)線，所述信號(hào)線設(shè)置在所述襯底上，所述信號(hào)線包括多條第一信號(hào)線和多條第二信號(hào)線，所述第一信號(hào)線連接所述第一顏色像素，所述第二信號(hào)線連接所述第二顏色像素；

第一測(cè)試模塊，所述第一測(cè)試模塊設(shè)置在所述襯底上，所述第一測(cè)試模塊包括第一短路棒和第一焊盤，所述第一短路棒的一端連接所述第一信號(hào)線和所述第二信號(hào)線，所述第一短路棒的另一端連接所述第一焊盤；其中，所述第一測(cè)試模塊用于所述顯示面板的陣列測(cè)試。

可選的，在本申請(qǐng)的一些實(shí)施例中，所述顯示面板還包括第三顏色像素，所述信號(hào)線還包括多條第三信號(hào)線，所述第三信號(hào)線連接所述第三顏色像素，所述第一短路棒還連接所述第三信號(hào)線。

可選的，在本申請(qǐng)的一些實(shí)施例中，所述顯示面板還包括控制模塊，所述控制模塊連接所述第一信號(hào)線、所述第二信號(hào)線以及所述第三信號(hào)線，所述控制模塊控制所述第一信號(hào)線、所述第二信號(hào)線和所述第三信號(hào)線的通斷。

可選的，在本申請(qǐng)的一些實(shí)施例中，所述控制模塊包括第一薄膜晶體管、第二薄膜晶體管以及第三薄膜晶體管；

所述第一薄膜晶體管的柵極接入第一觸發(fā)信號(hào)，所述第一薄膜晶體管的源極和漏極連接所述第一信號(hào)線，所述第二薄膜晶體管的柵極接入第二觸發(fā)信號(hào)，所述第二薄膜晶體管的源極和漏極連接所述第二信號(hào)線，所述第三薄膜晶體管的柵極接入第三觸發(fā)信號(hào)，所述第三薄膜晶體管的源極和漏極連接所述第三信號(hào)線。