[發(fā)明專利]一種衛(wèi)星加電時(shí)間統(tǒng)計(jì)方法、系統(tǒng)、存儲(chǔ)介質(zhì)和電子設(shè)備在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202210314010.7 | 申請日: | 2022-03-28 |
| 公開(公告)號(hào): | CN114817358A | 公開(公告)日: | 2022-07-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 高帥;高恩宇;孔令波;周鑫 | 申請(專利權(quán))人: | 北京微納星空科技有限公司;北京國宇星空科技有限公司;安徽微納星空科技有限公司;海南微納星空科技有限公司;陜西國宇星空科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06F16/2458 | 分類號(hào): | G06F16/2458;G06F16/2457;G06F16/22;B64G1/10 |
| 代理公司: | 北京輕創(chuàng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11212 | 代理人: | 吳佳 |
| 地址: | 100094 北京市海淀區(qū)*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 衛(wèi)星 時(shí)間 統(tǒng)計(jì) 方法 系統(tǒng) 存儲(chǔ) 介質(zhì) 電子設(shè)備 | ||
本發(fā)明涉及衛(wèi)星測試數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種衛(wèi)星加電時(shí)間統(tǒng)計(jì)方法、系統(tǒng)、存儲(chǔ)介質(zhì)和電子設(shè)備,方法包括:當(dāng)每次對衛(wèi)星進(jìn)行加電測試時(shí),將用于表征衛(wèi)星的各個(gè)單機(jī)部件的工作狀態(tài)的特征遙測參數(shù)存儲(chǔ)在數(shù)據(jù)庫中;根據(jù)用戶需求從所有的單機(jī)部件中確定至少一個(gè)目標(biāo)部件,并從數(shù)據(jù)庫中獲取每個(gè)目標(biāo)部件的特征遙測參數(shù),通過數(shù)量統(tǒng)計(jì)方法獲得每個(gè)目標(biāo)部件的加電時(shí)長。能夠?qū)崿F(xiàn)對衛(wèi)星的每個(gè)單機(jī)部件的加電時(shí)長的自動(dòng)查詢和保存,統(tǒng)計(jì)效率高,在獲取統(tǒng)計(jì)結(jié)果后,便于掌控地面測試進(jìn)度,也便于用戶計(jì)算每個(gè)目標(biāo)部件的平均故障時(shí)間,進(jìn)而確定衛(wèi)星的可靠性狀態(tài)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及衛(wèi)星測試數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種衛(wèi)星加電時(shí)間統(tǒng)計(jì)方法、系統(tǒng)、存儲(chǔ)介質(zhì)和電子設(shè)備。
背景技術(shù)
衛(wèi)星作為一種產(chǎn)品,其壽命周期內(nèi)故障率變化具有浴盆曲線特點(diǎn),衛(wèi)星在出廠前,在正樣階段所開展的測試和試驗(yàn),相當(dāng)于早期壽命階段,由于無法在軌維修,衛(wèi)星產(chǎn)品一般都要求具有很高的可靠性,也就是較長的平均故障時(shí)間。平均故障時(shí)間是衡量一個(gè)產(chǎn)品(尤其是電器產(chǎn)品)的可靠性指標(biāo),單位為“小時(shí)”。
為了測試衛(wèi)星的平均故障時(shí)間,每顆衛(wèi)星要經(jīng)歷一定時(shí)間的測試和試驗(yàn)才能出廠,目前行業(yè)內(nèi)已經(jīng)有一些定性的標(biāo)準(zhǔn),即通過使衛(wèi)星達(dá)到一定的加電時(shí)間,以此來進(jìn)一步評價(jià)衛(wèi)星是否滿足出廠要求,比如整星累計(jì)加電時(shí)間超過1000小時(shí)等,由此可見獲得準(zhǔn)確的整星累計(jì)加電時(shí)間,對后續(xù)進(jìn)一步評估整星的可靠性狀況具有關(guān)鍵作用。
衛(wèi)星綜合測試是指對衛(wèi)星研制各階段的電氣功能和性能進(jìn)行測試,驗(yàn)證其性能指標(biāo)、功能參數(shù)是否滿足設(shè)計(jì)要求,是衛(wèi)星研制過程中的重要組成部分。衛(wèi)星測試會(huì)累計(jì)大量的測試數(shù)據(jù),為了便于對測試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析,測試人員一般都會(huì)使用數(shù)據(jù)庫查詢軟件來獲取所需的測試數(shù)據(jù)信息。目前,測試中使用的數(shù)據(jù)庫查詢軟件已實(shí)現(xiàn)了數(shù)據(jù)庫特征遙測參數(shù)的查詢功能,即通過設(shè)置要查詢的特征遙測參數(shù)和時(shí)間,即可獲得對應(yīng)遙測在該時(shí)間段內(nèi)的具體狀態(tài),進(jìn)而完成后續(xù)的判讀分析,而大部分這類軟件對整星加電時(shí)間統(tǒng)計(jì)的功能卻很少集成,加電時(shí)間的統(tǒng)計(jì)工作有時(shí)需要靠測試人員手動(dòng)進(jìn)行統(tǒng)計(jì),人工統(tǒng)計(jì)很難做到準(zhǔn)確無誤,并且,針對各個(gè)單機(jī)部件的統(tǒng)計(jì)需要花費(fèi)大量的時(shí)間來完成,給測試工作帶來很大負(fù)擔(dān)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是針對現(xiàn)有技術(shù)的不足,提供了一種衛(wèi)星加電時(shí)間統(tǒng)計(jì)方法、系統(tǒng)、存儲(chǔ)介質(zhì)和電子設(shè)備。
本發(fā)明的一種衛(wèi)星加電時(shí)間統(tǒng)計(jì)方法的技術(shù)方案如下:
當(dāng)每次對衛(wèi)星進(jìn)行加電測試時(shí),將用于表征所述衛(wèi)星的各個(gè)單機(jī)部件的工作狀態(tài)的特征遙測參數(shù)存儲(chǔ)在數(shù)據(jù)庫中;
根據(jù)用戶需求從所有的單機(jī)部件中確定至少一個(gè)目標(biāo)部件,并從所述數(shù)據(jù)庫中獲取每個(gè)目標(biāo)部件的特征遙測參數(shù),通過數(shù)量統(tǒng)計(jì)方法獲得每個(gè)目標(biāo)部件的加電時(shí)長。
本發(fā)明的一種衛(wèi)星加電時(shí)間統(tǒng)計(jì)方法的有益效果如下:
能夠?qū)崿F(xiàn)對衛(wèi)星的每個(gè)單機(jī)部件的加電時(shí)長的自動(dòng)查詢和保存,統(tǒng)計(jì)效率高,在獲取統(tǒng)計(jì)結(jié)果后,便于掌控地面測試進(jìn)度,也便于用戶計(jì)算每個(gè)目標(biāo)部件的平均故障時(shí)間,進(jìn)而確定衛(wèi)星的可靠性狀態(tài)。
在上述方案的基礎(chǔ)上,本發(fā)明的一種衛(wèi)星加電時(shí)間統(tǒng)計(jì)方法還可以做如下改進(jìn)。
進(jìn)一步,所述通過數(shù)量統(tǒng)計(jì)方法獲得每個(gè)目標(biāo)部件的加電時(shí)長,包括:
當(dāng)任一目標(biāo)部件的特征遙測參數(shù)為模擬量時(shí),結(jié)合采樣頻率,以及該目標(biāo)部件的該特征遙測參數(shù)對應(yīng)的正常閾值范圍,得到該目標(biāo)部件的加電時(shí)長,其中,采樣頻率指:該目標(biāo)部件的特征遙測參數(shù)的遙測下傳頻率。
進(jìn)一步,所述通過數(shù)量統(tǒng)計(jì)方法獲得每個(gè)目標(biāo)部件的加電時(shí)長,還包括:
當(dāng)任一目標(biāo)部件的特征遙測參數(shù)為狀態(tài)數(shù)字量時(shí),結(jié)合采樣頻率,得到該目標(biāo)部件的加電時(shí)長。
進(jìn)一步,還包括:
將每個(gè)目標(biāo)部件的加電時(shí)長發(fā)送至所述用戶的終端。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于北京微納星空科技有限公司;北京國宇星空科技有限公司;安徽微納星空科技有限公司;海南微納星空科技有限公司;陜西國宇星空科技有限公司,未經(jīng)北京微納星空科技有限公司;北京國宇星空科技有限公司;安徽微納星空科技有限公司;海南微納星空科技有限公司;陜西國宇星空科技有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
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