[發(fā)明專利]基于鼻黏膜光電容積描記法的光衰指數(shù)預測系統(tǒng)及方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202210312293.1
• 申請日: 2022-03-28
• 公開（公告）號: CN115813337A
• 公開（公告）日: 2023-03-21
• 發(fā)明（設計）人: 顧斌;朱啟文;李益飛;譚立容;嵇亮;陳婷婷
• 申請（專利權(quán)）人: 南京信息職業(yè)技術(shù)學院
• 主分類號: A61B5/00
• 分類號: A61B5/00;G06F17/10
• 代理公司: 南京縱橫知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 32224
• 代理人: 鄧東旭

1.基于鼻黏膜光電容積描記法的光衰指數(shù)預測方法，其特征是，包括：

獲取用于預測的數(shù)據(jù)樣本集；

對用于預測的數(shù)據(jù)樣本集的部分數(shù)據(jù)進行滑動平均濾波，得到濾波輸出數(shù)據(jù)樣本集；

基于濾波輸出數(shù)據(jù)樣本集獲取擬合函數(shù)后，計算擬合函數(shù)和濾波輸出數(shù)據(jù)樣本集各樣本之間誤差值的平方和；

以所述誤差值的平方和最小化為目標，計算擬合函數(shù)各參數(shù)的最優(yōu)解；

基于所述擬合函數(shù)各參數(shù)的最優(yōu)解計算光衰指數(shù)穩(wěn)態(tài)值的預測值。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于鼻黏膜光電容積描記法的光衰指數(shù)預測方法，其特征是，所述用于預測的數(shù)據(jù)樣本集為：

D₁＝{ΔE(t_m)：m＝0…MN}

其中，ΔE(t)表示光衰指數(shù)隨時間t的變化函數(shù)，t_m為第m次采樣時刻，N為用于檢驗預測精度的數(shù)據(jù)樣本集D中樣本序號的最大者，僅在需要檢驗預測精度時才需要將數(shù)據(jù)樣本集從D₁擴大至D，即：

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于鼻黏膜光電容積描記法的光衰指數(shù)預測方法，其特征是，所述濾波輸出數(shù)據(jù)樣本集為：

D_MA＝{ΔE_MA(t_n)：n＝u…v，u0，vM}＝filter_MA(D₁)

其中，D_MA為濾波輸出的數(shù)據(jù)集，t_n為第n采樣時刻，filter_MA(·)表示滑動平均濾波算子，選取濾波輸出中的序號自u至v的一部分，ΔE_MA(t_n)表示filter_MA(·)在時間點t_n輸出的樣本。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的基于鼻黏膜光電容積描記法的光衰指數(shù)預測方法，其特征是，構(gòu)建如下形式的擬合函數(shù)：

其中，t表示時間，a、b和c為擬合函數(shù)中的參數(shù)，exp(.)表示指數(shù)函數(shù)。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的基于鼻黏膜光電容積描記法的光衰指數(shù)預測方法，其特征是，所述擬合函數(shù)和濾波輸出數(shù)據(jù)樣本集各樣本之間誤差值的平方和采用如下形式：