[發明專利]線激光器數據處理方法、裝置、存儲介質及電子設備

在審

• 申請號: 202210302272.1
• 申請日: 2022-03-25
• 公開（公告）號: CN114677438A
• 公開（公告）日: 2022-06-28
• 發明（設計）人: 于行堯;龍有煉;鄧文鈞;張展鵬
• 申請（專利權）人: 深圳市商湯科技有限公司
• 主分類號: G06T7/73
• 分類號: G06T7/73
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 董文俊

1.一種線激光器數據處理方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取線激光器輸出的第一數據集，所述線激光器發出的線激光形成的激光平面與所述線激光器的承載物的運行方向垂直，并且在所述線激光沒有觸及目標物體的情況下，所述線激光投射到支撐物，所述目標物體為除所述支撐物之外的任意物體，所述承載物運行在所述支撐物上；

對所述第一數據集進行點云分析，得到點云分析結果，所述點云分析結果包括探測物體的布局信息，所述探測物體為位于所述線激光器的探測區域的物體，所述布局信息被用于進行對所述承載物的運行控制。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，

所述第一數據集中的數據為第一坐標系下的數據，所述第一坐標系的原點位于所述線激光器上，所述第一坐標系的第一坐標軸垂直指向所述支撐物，所述第一坐標系的第二坐標軸指向所述承載物的運行方向，所述第一坐標系的第三坐標軸垂直于參考平面并且以所述線激光的出射方向為正向，所述參考平面為所述第一坐標軸和所述第二坐標軸形成的平面；

相應的，所述探測物體為在目標方向上的物體，所述目標方向為所述第三坐標軸指向的方向。

3.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

獲取所述承載物對應的第二坐標系；

所述對所述第一數據集進行點云分析，得到點云分析結果，包括：

根據所述承載物與所述線激光器的相對位置，將所述第一數據集中的數據映射到所述第二坐標系，得到映射數據集；

分析所述映射數據集形成的點云，得到所述點云分析結果。

4.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述對所述第一數據集進行點云分析，得到點云分析結果，包括：

對所述第一數據集中的數據進行降維處理，得到第二數據集，所述第二數據集中的數據均屬于由所述第一坐標系和所述第三坐標系構成的平面坐標系中的數據；

對所述第二數據集進行降噪處理，得到第三數據集；

對所述第三數據集進行基于點云的連續性分析，得到所述點云分析結果。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述對所述第三數據集進行基于點云的連續性分析，得到所述點云分析結果，包括：

根據所述第三數據集中的數據，得到第一數據序列，所述第一數據序列中的數據在所述第一坐標軸的投影分量依次增大；

確定第二數據序列在第一坐標軸方向的離散程度，所述第二數據序列為所述第一數據序列尾部第一數量個數據形成的序列；

基于所述離散程度，得到所述點云分析結果。

6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，所述基于所述離散程度，得到所述點云分析結果，包括：

響應于所述離散程度大于或等于第一閾值的情況，得到第一判定結果，所述第一判定結果表征在所述目標方向上存在探測物體，并且所述探測物體與所述承載物距離小于第二閾值；

基于所述第一判定結果，得到所述點云分析結果。

7.根據權利要求5或6所述的方法，其特征在于，所述基于所述離散程度，得到所述點云分析結果，還包括：

響應于所述離散程度小于所述第一閾值的情況，得到第三數據序列，所述第三數據序列為所述第一數據序列中除去所述第二數據序列之外的數據形成的序列；

對所述第三數據序列進行倒序遍歷，提取有效點，所述有效點在所述第一坐標軸的投影分量與第一均值的差值小于第三閾值，所述第一均值為所述第二數據序列中的各數據在所述第一坐標軸的投影分量的均值；

基于所述各有效點以及所述第二數據序列得到第四數據序列，所述第四數據序列在所述第一坐標軸的投影分量依次增大；

基于所述第四數據序列，確定所述點云分析結果。