[發明專利]光檢測裝置在審
| 申請號: | 202210299284.3 | 申請日: | 2017-10-27 |
| 公開(公告)號: | CN114697588A | 公開(公告)日: | 2022-07-01 |
| 發明(設計)人: | 丹羽篤親;松本靜德;平田英治 | 申請(專利權)人: | 索尼半導體解決方案公司 |
| 主分類號: | H04N5/3745 | 分類號: | H04N5/3745;H04N5/378;H04N5/341 |
| 代理公司: | 北京信慧永光知識產權代理有限責任公司 11290 | 代理人: | 陳睆;姚鵬 |
| 地址: | 日本神*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 檢測 裝置 | ||
1.一種光檢測裝置,其包括:
多個像素,所述多個像素以行和列排列,所述多個像素包括第一組像素和第二組像素,所述第一組像素被光學遮光,并且所述第二組像素被配置成接收光;
多個信號線,所述多個信號線包括第一信號線、第二信號線和第三信號線,所述第一信號線連接至所述第一組像素的第一像素,所述第二信號線連接至所述第二組像素的第二像素,并且所述第三信號線連接至所述第一組像素的第三像素;以及
多個AD轉換器,所述多個AD轉換器包括第一AD轉換器、第二AD轉換器和第三AD轉換器,所述第一AD轉換器被配置成經由所述第一信號線接收第一信號,所述第二AD轉換器被配置成經由所述第二信號線接收第二信號,并且所述第三AD轉換器被配置成經由所述第三信號線接收第三信號;
其中,所述第一組像素位于所述第二組像素的邊緣,并且所述第一像素和所述第二像素在第一列中,并且
其中,基于所述第一信號和所述第三信號來校正所述第二信號。
2.根據權利要求1所述的光檢測裝置,其中
所述第二AD轉換器位于所述第一AD轉換器與所述第三AD轉換器之間。
3.根據權利要求2所述的光檢測裝置,其中
所述多個信號線還包括第四信號線,所述第四信號線連接至所述第二組像素的第四像素,并且
所述多個AD轉換器還包括第四AD轉換器,所述第四AD轉換器被配置成經由所述第四信號線接收第四信號。
4.根據權利要求3所述的光檢測裝置,其中
所述第三AD轉換器位于所述第二AD轉換器與所述第四AD轉換器之間。
5.根據權利要求1所述的光檢測裝置,其中
所述第二組像素的列數小于所述多個AD轉換器中的AD轉換器的數量。
6.根據權利要求1所述的光檢測裝置,其中
所述第一組像素位于所述第二組像素的上側和下側,并且
所述多個AD轉換器包括第一多個AD轉換器和第二多個AD轉換器,所述第一多個AD轉換器被配置成接收來自上側的所述第一組像素的信號,并且所述第二多個AD轉換器被配置成接收來自下側的所述第一組像素的信號。
7.根據權利要求1所述的光檢測裝置,其中
所述第一組像素和所述第二組像素同時輸出相同的預定數量的信號。
8.一種光檢測裝置,其包括:
第一基板,所述第一基板包括:
多個像素,所述多個像素以行和列排列,所述多個像素包括第一組像素和第二組像素,所述第一組像素被光學遮光,并且所述第二組像素被配置成接收光;和
多個信號線,所述多個信號線包括第一信號線和第二信號線,所述第一信號線連接至所述第一組像素的第一像素,所述第二信號線連接至所述第二組像素的第二像素;以及
第二基板,所述第二基板堆疊在所述第一基板上,所述第二基板包括多個AD轉換器,所述多個AD轉換器包括第一AD轉換器和第二AD轉換器,所述第一AD轉換器被配置成經由所述第一信號線接收第一信號,并且所述第二AD轉換器被配置成經由所述第二信號線接收第二信號;
其中,所述第一組像素位于所述第二組像素的邊緣,并且所述第一像素和所述第二像素在第一列中。
9.根據權利要求8所述的光檢測裝置,還包括:
虛設電路,所述虛設電路被配置成產生用于校正從所述第二組像素輸出的信號的基準信號。
10.根據權利要求9所述的光檢測裝置,其中
所述虛設電路位于所述第二基板上。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于索尼半導體解決方案公司,未經索尼半導體解決方案公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202210299284.3/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





