[發明專利]一種非接觸式表面缺陷檢測裝置及使用方法

在審

• 申請號: 202210297981.5
• 申請日: 2022-03-23
• 公開（公告）號: CN114740007A
• 公開（公告）日: 2022-07-12
• 發明（設計）人: 朱緒勝;周力;傅作林;賈濤;雷沛;胡萬里;陳李學;蔣德成;劉瑞;陳俊佑;蔡懷陽;田毅
• 申請（專利權）人: 成都飛機工業（集團）有限責任公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88;G01N21/01
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 王志

1.一種非接觸式表面缺陷檢測裝置，其特征在于，包括：

設有開口的外殼(3),所述外殼(3)的開口上設有相鄰布置的相機(1)和距離檢測器，所述外殼(3)上還設有控制面板(8)、采集開關(4)、電源開關(6)和信號輸出端；

所述相機(1)、所述距離檢測器、所述采集開關(4)、所述電源開關(6)和所述信號輸出端均與所述控制面板(8)電性連接；

所述信號輸出端與數據處理器(5)信號連接。

2.根據權利要求1所述的一種非接觸式表面缺陷檢測裝置，其特征在于，所述距離檢測器為點狀激光器(2)；

所述點狀激光器(2)與所述相機(1)兩者朝向相同。

3.根據權利要求1所述的一種非接觸式表面缺陷檢測裝置，其特征在于，所述信號輸出端為航空插頭(9)；

所述航空插頭(9)通過連接線(10)與所述數據處理器(5)信號連接。

4.根據權利要求1所述的一種非接觸式表面缺陷檢測裝置，其特征在于，所述外殼(3)內還設有電源(11)；

所述電源(11)與所述控制面板(8)電性連接。

5.根據權利要求1所述的一種非接觸式表面缺陷檢測裝置，其特征在于，所述外殼(3)上還設有采集開關狀態燈(12)和電源狀態燈(13)；

所述采集開關狀態燈(12)和電源狀態燈(13)兩者均與所述控制面板(8)電性連接。

6.根據權利要求1所述的一種非接觸式表面缺陷檢測裝置，其特征在于，所述外殼(3)包括相連接的檢測頭外殼(31)和手柄(32)；

所述外殼(3)的開口、所述相機(1)和所述距離檢測器均設置在所述檢測頭外殼(31)上。

7.根據權利要求6所述的一種非接觸式表面缺陷檢測裝置，其特征在于，所述手柄(32)的表面設有凹凸曲面；

所述控制面板(8)、所述采集開關(4)、所述電源開關(6)和所述信號輸出端均設置在所述手柄(32)上。

8.一種非接觸式表面缺陷檢測裝置的使用方法，其特征在于，包括以下步驟：

采用如權利要求1-7中任一項所述的非接觸式表面缺陷檢測裝置，對零組件樣件表面的圖像進行采集，獲得檢測數據；

將所述檢測數據通過深度學習獲得檢測數據集；

根據所述檢測數據集對零組件的表面缺陷進行識別。

9.根據權利要求8所述的一種非接觸式表面缺陷檢測裝置的使用方法，其特征在于，所述采用非接觸式表面缺陷檢測裝置，對零組件樣件表面的圖像進行采集，獲得檢測數據的步驟，包括：

在零組件樣件的表面進行人工缺陷制造，獲得帶有表面缺陷的零組件樣件；

采用非接觸式表面缺陷檢測裝置在不同角度、不同光線、不同焦距下對零組件樣件表面的圖像進行數據采集，獲得檢測數據。

10.根據權利要求9所述的一種非接觸式表面缺陷檢測裝置的使用方法，其特征在于，所述采用非接觸式表面缺陷檢測裝置在不同角度、不同光線、不同焦距下對零組件樣件表面的圖像進行數據采集，獲得檢測數據的步驟，包括：

采用非接觸式表面缺陷檢測裝置在不同角度、不同光線、不同焦距下對零組件樣件表面的圖像進行數據采集，獲得第一檢測數據；

將所述第一檢測數據通過裁剪、拼接、轉換視角、銳化對比度的處理后，獲得擴充的第二檢測數據。